Wynik wyszukiwania
Zapytanie: POWIERZCHNIA I STRUKTURY CIENKOWARSTWOWE
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000071979
Analysis of the cross-section surfaces of bulk amorphous rods with 1, 2 and 3 mm diameter.
[Aut.]: M. Nabiałek, M. Szota, Sabina Lesz, J. Michalczyk, M. Dośpiał, K. Oźga, P. Pietrusiewicz, K. Błoch.
W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1

2/6
Nr opisu: 0000071977
Comparative analysis of surface properties of selected SnO2 nanostructures.
[Aut.]: Monika Kwoka, Michał* Sitarz, Piotr* Kościelniak, Jacek Szuber.
W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1

3/6
Nr opisu: 0000071978
Modelowanie dwuwymiarowe fotonapięcia powierzchniowego w strukturach metal/izolator/GaN o symetrii cylindrycznej.
[Aut.]: Maciej* Matys, P. Powroźnik, D. Kupka, Bogusława Adamowicz.
W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1-2, bibliogr. 3 poz.

fotonapięcie powierzchniowe ; metal/izolator/GaN ; symetria cylindryczna

surface photovoltage ; metal/insulator/GaN ; cylindrical symmetry

4/6
Nr opisu: 0000071981
Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys.
[Aut.]: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga.
W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1, bibliogr. 2 poz.

5/6
Nr opisu: 0000071982
Optimization of technology for deposition of ultrathin SnO2 films by spin-coating method.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1, bibliogr. 6 poz.

6/6
Nr opisu: 0000071917
Wpływ stanów powierzchniowych na półprzewodnikowe struktury sensorowe.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz.
W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1-2, bibliogr. 5 poz.

struktura sensorowa ; półprzewodnik ; właściwości elektronowe ; czujnik gazowy

sensor structure ; semiconductor ; electronic properties ; gas sensor

stosując format:
Nowe wyszukiwanie