Wynik wyszukiwania
Zapytanie: METROLOGIA W PROCESIE POZNANIA
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000038159
Model dynamiczny uwzględniający zjawiska zachodzące w części chemicznej i elektronicznej elektrody jonoselektywnej.
[Aut.]: Alicja Wiora.
W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 2. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 649-652

2/6
Nr opisu: 0000038162
Ocena uproszczonej procedury kalibracji parametrów elektrod jonoselektywnych wykonywanych na potrzeby pomiarów wieloskładnikowych.
[Aut.]: Andrzej Kozyra, Alicja Wiora, Józef Wiora.
W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 1. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004

3/6
Nr opisu: 0000015319
Probabilistyczny model wyniku pomiaru jako podstawa wyznaczania niepewności.
[Aut.]: Jerzy** Jakubiec.
W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 1. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 25-28

4/6
Nr opisu: 0000038160
Rola współczynników wagowych w procesie optymalizacji parametrów kalibracyjnych elektrod jonoselektywnych.
[Aut.]: Józef Wiora.
W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 2. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 653-656

5/6
Nr opisu: 0000082546
System wspomagający wnioskowanie przy monitorowaniu atmosfery zagrożonej wybuchem lub pożarem.
[Aut.]: Tomasz Grychowski.
W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 2. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 629-632

6/6
Nr opisu: 0000015316
Wirtualny, quasi-zrównoważony układ do pomiaru pojemności.
[Aut.]: Adam Cichy.
W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii KM 2004, Wrocław, 6-9.09.2004. Materiały kongresowe. T. 1. Pod red. J. Mroczki. Wrocław : Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 147-150

stosując format:
Nowe wyszukiwanie