Wynik wyszukiwania
Zapytanie: EUROPEAN CONFERENCE ON CIRCUIT THEORY AND DESIGN
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000056513   
A global parametric faults diagnosis with the use of artificial neural networks.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 651-654, bibliogr. 11 poz.

sztuczna sieć neuronowa ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ scalony

artificial neural network ; fault diagnosis ; analog integrated circuit

2/6
Nr opisu: 0000056515   
Faults classification in analog electronic circuits with use of the SVM algorithm.
[Aut.]: Damian Grzechca, S. Czeczótka.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 659-662, bibliogr. 5 poz.

analogowy układ elektroniczny ; SVM ; Maszyna Wektorów Nośnych

analog electronic circuit ; SVM ; Support Vector Machine

3/6
Nr opisu: 0000056512   
Multidimensional search space for catastrophic faults diagnosis in analog electronic circuits.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 555-558, bibliogr. 6 poz.

błąd katastrofalny ; algorytm roju cząstek ; przestrzeń wielowymiarowa ; tester

catastrophic fault ; particle swarm algorithm ; multidimensional space ; tester

4/6
Nr opisu: 0000056514   
Specialised aperiodic excitation and wavelet transform improves analogue fault diagnosis.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 655-658, bibliogr. 5 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; detekcja uszkodzeń ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny ; elektronika analogowa

fault diagnosis ; fault detection ; wavelet transform ; genetic algorithm ; analogue electronics

5/6
Nr opisu: 0000041678   
A common-sense based approach to the automated test-point selection in fault diagnosis.
[Aut.]: Andrzej Pułka, Jerzy** Rutkowski.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2007, Sevilla, Spain, 26-30 August 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 838-841, bibliogr. 18 poz.

6/6
Nr opisu: 0000041677   
Polynomial fault diagnosis of linear analog circuits.
[Aut.]: Zygmunt** Garczarczyk.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2007, Sevilla, Spain, 26-30 August 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 842-845, bibliogr. 16 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie