Wynik wyszukiwania
Zapytanie: 2011 20TH EUROPEAN CONFERENCE ON CIRCUIT THEORY AND DESIGN ECCTD LINKOPING SWE
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000072423   
Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk.
W: 2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny

fault diagnosis ; analogue circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm

stosując format:
Nowe wyszukiwanie