Wynik wyszukiwania
Zapytanie: WRÓBEL EDYTA
Liczba odnalezionych rekordów: 82



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/82
Nr opisu: 0000125188   
Borosilicate spray-on glass solutions for fabrication silicon solar cell back surface field.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, K. Drabczyk, Edyta Wróbel, P. Sobik, Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec.
-Microelectron. Int. 2018 vol. 35 iss. 3, s. 172-176, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.608. Punktacja MNiSW 20.000

back-surface field ; diffusion process ; dopant sources ; silicon solar cells

2/82
Nr opisu: 0000118488   
Spray-on glass solution for fabrication silicon solar cell emitter layer.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Edyta Wróbel, K. Drabczyk, Krzysztof Waczyński, G. Kulesza-Matlak, M. Lipiński.
-Microelectron. Int. 2017 vol. 34 iss. 3, s. 149-153, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.608. Punktacja MNiSW 20.000

warstwa emiterowa ; krzemowe ogniwo słoneczne ; roztwór domieszkowy

emitter layer ; silicon solar cell ; spray-on glass solution ; dopant solution

3/82
Nr opisu: 0000107789   
Comparison of diffused layer prepared using liquid dopant solutions and pastes for solar cell with screen printed electrodes.
[Aut.]: K. Drabczyk, Edyta Wróbel, G. Kulesza-Matlak, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, M. Lipiński.
-Microelectron. Int. 2016 vol. 33 iss. 3, s. 167-171, bibliogr. 10 poz.. Impact Factor 0.737. Punktacja MNiSW 20.000

druk sitowy ; elektroda przednia ; proces dyfuzyjny ; krzemowe ogniwo słoneczne

screen printing ; front electrode ; diffusion process ; silicon solar cell ; Dopant source

4/82
Nr opisu: 0000103932   
Electrical parameters of solar cells with electrodes made by selective metallization.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Edyta Wróbel, Janusz Mazurkiewicz.
-Microelectron. Int. 2016 vol. 33 iss. 1, s. 36-41, bibliogr. 11 poz.. Impact Factor 0.737. Punktacja MNiSW 20.000

technologia półprzewodników ; technologia grubych warstw ; technologia cienkich warstw

semiconductor technology ; thick-film technology ; thin-film technology

5/82
Nr opisu: 0000115452   
Spray-on glass solutions for fabrication silicon solar cell emitter layer.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Edyta Wróbel, Kazimierz* Drabczyk, Krzysztof Waczyński, G. Kulesza-Matlak, M. Lipiński.
W: 40th International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland 2016 Conference, Książ Castle, Wałbrzych, 25-28 September 2016. Book of abstracts. Eds. Olga Rac, Mateusz Czok, Karol Malecha. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter, 2016, s. 71-72, bibliogr. 3 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; spray-on glass

solar cell ; emitter layer ; spray-on glass

6/82
Nr opisu: 0000100167
Badania derywatograficzne i z wykorzystaniem mikroskopii skaningowej cienkich warstw SnOx wytworzonych metodą rozwirowania roztworów SnCl4*5H2O+IPA.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec, Edyta Wróbel, Justyna Majewska, M. Libera.
W: Czternasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 08-12.06.2015]. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 40-46, bibliogr. 4 poz.

derywatografia ; rozwirowywanie ; sensoryczna warstwa dwutlenku cyny

derivatography ; spin-on ; sensitive film of tin dioxide

7/82
Nr opisu: 0000101652   
Badania derywatograficzne i z wykorzystaniem mikroskopii skaningowej cienkich warstw SnOx wytworzonych metodą rozwirowania roztworów SnCl4ˇ5H2O+IPA.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec, Edyta Wróbel, Justyna Majewska, M. Libera.
-Prz. Elektrot. 2015 R. 91 nr 9, s. 195-198, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

derywatografia ; roztwory SnCl4ˇ5H2O+IPA ; rozwirowywanie ; sensoryczna warstwa dwutlenku cyny

derivatography ; SnCl4ˇ5H2O+IPA solutions ; spinning ; sensoric layers of tin dioxide

8/82
Nr opisu: 0000104926
Comparison of diffused layer prepared using dopant liquid solutions and pastes for solar cell with screen printed electrodes.
[Aut.]: K. Drabczyk, Edyta Wróbel, G. Kulesza-Matlak, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, M. Lipiński.
W: 39th International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland Conference, Gdańsk, September 20-23, 2015. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 1-5

9/82
Nr opisu: 0000095777   
Selective metallization of solar cells.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Piotr Kowalik, Janusz Mazurkiewicz.
-Microelectron. Int. 2015 vol. 32 iss. 1, s. 1-7, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.519. Punktacja MNiSW 20.000

metalizacja chemiczna ; metalizacja selektywna ; ogniwo słoneczne

chemical metallization ; selective metallization ; solar cell

10/82
Nr opisu: 0000100171
Wyznaczanie rezystancji powierzchniowej warstwy emiterowej ogniwa słonecznego z wykorzystaniem efektywnych wartości współczynnika dyfuzji niezależnego od koncentracji domieszki.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Anna Filipowska, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Weronika Izydorczyk.
W: Czternasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 08-12.06.2015]. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 282-285, bibliogr. 9 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; rezystancja powierzchniowa ; domieszkowanie dyfuzyjne

solar cell ; emitter layer ; surface resistivity ; diffusion doping

11/82
Nr opisu: 0000101649   
Wyznaczanie rezystancji powierzchniowej warstwy emiterowej ogniwa słonecznego z wykorzystaniem efektywnych wartości współczynnika dyfuzji niezależnego od koncentracji domieszki.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Anna Filipowska, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Weronika Izydorczyk.
-Prz. Elektrot. 2015 R. 91 nr 9, s. 27-28, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; rezystancja powierzchniowa ; domieszkowanie dyfuzyjne

solar cell ; emitter layer ; surface resistivity ; diffusion doping

12/82
Nr opisu: 0000093853
Rezystancyjne czujniki wilgotności oparte na rozwirowywanych szkliwach fosforowo-krzemowych i stabilizowanej ceramice cyrkonowej.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński.
W: Trzynasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 09-13.06.2014]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2014, s. 33 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM

czujnik wilgotności ; szkliwo fosforokrzemowe ; ceramika cyrkonowa

humidity sensor ; phosphosilicate glass ; zirconia ceramics

13/82
Nr opisu: 0000093229   
Rezystancyjne czujniki wilgotności oparte na rozwirowywanych szkliwach krzemowych i stabilizowanej ceramice cyrkonowej.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński.
-Prz. Elektrot. 2014 R. 90 nr 9, s. 98-100, bibliogr. 5 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

struktura warstwowa ; czujnik wilgotności ; szkliwo fosforokrzemowe ; ceramika cyrkonowa

layered structure ; humidity sensor ; phosphosilicate glass ; zirconia ceramics

14/82
Nr opisu: 0000087964   
Selektywna metalizacja krzemowego ogniwa fotowoltaicznego.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Edyta Wróbel.
-Prz. Elektrot. 2013 R. 89 nr 10, s. 103-104, bibliogr. 3 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

selektywna chemiczna metalizacja ; krzemowe ogniwo słoneczne ; fotowoltaika

selective chemical metallization ; silicon solar cell ; photovoltaics

15/82
Nr opisu: 0000093848
Selektywna metalizacja krzemowego ogniwa fotowoltaicznego.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Edyta Wróbel.
W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 213 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM

ogniwo fotowoltaiczne ; powierzchnia krzemowa ; metalizacja selektywna

photovoltaic cell ; silicon surface ; selective metallization

16/82
Nr opisu: 0000074647   
Boron doped spin-on glasses in the technology of the silicon solar cells.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 31-32, bibliogr. 5 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

ogniwo słoneczne ; dyfuzja ; rozwirowywane szkliwa

solar cell ; diffusion ; spin-on glasses

17/82
Nr opisu: 0000082728
Rozwirowywanie szkliwa domieszkowane borem w technologii krzemowych ogniw słonecznych.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Wojciech Filipowski.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 108
Pełny tekst na CD-ROM

ogniwo słoneczne ; rozwirowywane szkliwa ; dyfuzja

solar cell ; spin-on glasses ; diffusion

18/82
Nr opisu: 0000065602   
Badanie właściwości cienkich warstw pasywujących z SiO2 w strukturze ogniwa fotowoltaicznego.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Natalia Waczyńska, K. Drabczyk, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 55-57, bibliogr. 3 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

fotowoltaika ; ogniwo fotowoltaiczne ; ogniwo słoneczne ; warstwa pasywująca

photovoltaics ; photovoltaic cell ; solar cell ; passivates layer

19/82
Nr opisu: 0000065603   
Efektywne wartości współczynnika dyfuzji dla modelu domieszkowania dyfuzyjnego warstwy emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, A. Skwarek, K. Drabczyk.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 57-59, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

struktura fotowoltaiczna ; ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; symulacja komputerowa

photovoltaic structure ; solar cell ; emitter layer ; computer simulation

20/82
Nr opisu: 0000057181   
Badania nad możliwościami jednorodnego domieszkowania warstwy emiterowej struktury fotowoltaicznej w niskiej temperaturze procesu dyfuzji.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 5, s. 60-62, bibliogr. 4 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; szkliwo domieszkowe ; domieszkowanie ; rezystancja powierzchniowa

solar cell ; emitter layer ; silica glasses ; doping ; sheet resistance

21/82
Nr opisu: 0000059508   
Domieszkowanie dyfuzyjne krzemu ze szkliw o podwyższonej zawartości koncentracji domieszki.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 111-113, bibliogr. 15 poz.

domieszkowanie dyfuzyjne ; metoda spin-on ; półprzewodnik

diffusion doping ; spin-on method ; semiconductor

22/82
Nr opisu: 0000082621
Domieszkowanie dyfuzyjne krzemu ze szkliw o podwyższonej zawartości koncentracji domieszki.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
W: Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 26
Pełny tekst na CD-ROM

domieszkowanie dyfuzyjne ; metoda spin-on ; półprzewodnik ; warstwa dyfuzyjna

diffusion doping ; spin-on method ; semiconductor ; diffusion layer

23/82
Nr opisu: 0000063317
Influence of temperature and storage time on electrophysical properties of spin-on doping solutions based on TEOS.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
W: 10th Electron Technology Conference ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS-CPMT Poland Conference, Wrocław, 22-25 September 2010. Book of abstracts. Eds: A. Dziedzic, K. Malecha, J. Radojewski. [Kraków] : [International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter], 2010, s. 167, bibliogr. 2 poz.

24/82
Nr opisu: 0000057183   
Model dyfuzji fosforu w krzemie wykorzystywany do wyznaczania profilu koncentracji domieszki w warstwie emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 5, s. 102-105, bibliogr. 21 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; domieszkowanie ; fotowoltaika

solar cell ; emitter layer ; photovoltaics ; doping

25/82
Nr opisu: 0000070126
One and a half years of participation in the EDCN project - summary.
[Aut.]: Oleg Antemijczuk, Krzysztof Cyran, Edyta Wróbel.
W: Transport systems telematics. TST'10. 10th International conference, Katowice - Ustroń, October 20-23, 2010. Conference proceedings. Silesian University of Technology. Faculty of Transport, Polish Academy of Science. Committee of Transport, Polish Association of Transport Telematics. Katowice : Chair of Automatic Control in Transport. Faculty of Transport. Silesian University of Technology, 2010, s. 17
Toż na CD-ROM

26/82
Nr opisu: 0000059179
Effective coefficient of phosphorus diffusion in silicon for doping emitter layer of solar cell.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
W: XXXIII International Conference of IMAPS - CPMT IEEE Poland, Pszczyna, 21-24 September 2009. Proceedings. [Dokument elektroniczny]. Eds: Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński. Gliwice : Silesian University of Technology, 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 126-131

27/82
Nr opisu: 0000051438
Pomiary parametrów warstw dielektrycznych wytworzonych metodą spin-on.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Paweł Karasiński.
W: Ósma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 07-10 czerwca 2009]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2009, s. 29
Pełny tekst na CD-ROM

28/82
Nr opisu: 0000059180
Research on feasibility of homogenous emitter layer doping of photovoltaic structure.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
W: XXXIII International Conference of IMAPS - CPMT IEEE Poland, Pszczyna, 21-24 September 2009. Proceedings. [Dokument elektroniczny]. Eds: Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński. Gliwice : Silesian University of Technology, 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 132-137

29/82
Nr opisu: 0000051437
Wpływ warunków nanoszenia szkliw krzemowych na jakość uzyskanej powierzchni.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
W: Ósma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 07-10 czerwca 2009]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2009, s. 28
Pełny tekst na CD-ROM

30/82
Nr opisu: 0000052100   
Wpływ warunków nanoszenia szkliw krzemowych na jakość uzyskanej powierzchni.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 21-23, bibliogr. 4 poz.

metoda spin-on ; warstwa dielektryczna

spin-on method ; dielectric layer

31/82
Nr opisu: 0000036428   
Badania nad źródłami domieszek o dużej zawartości fosforu stosowanymi w technologii wytwarzania krzemowych ogniw słonecznych.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 1, s. 16-17, bibliogr. 5 poz.

krzemowe ogniwo słoneczne ; fotoogniwo ; fosfor ; domieszka ; domieszkowanie dyfuzyjne ; metoda spin-on

silicon solar cell ; photovoltaic cell ; phosphorus ; admixture ; semiconductor doping ; spin-on method

32/82
Nr opisu: 0000051425
Kształtowanie warstw dyfuzyjnych przy wykorzystaniu domieszek wolnodyfundujących.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 93-98, bibliogr. 3 poz.

33/82
Nr opisu: 0000043100   
Kształtowanie warstw dyfuzyjnych przy wykorzystaniu domieszek wolnodyfundujących.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 70-72, bibliogr. 3 poz.

półprzewodnik ; domieszkowanie ; rezystancja powierzchniowa ; arsen ; szkliwo domieszkowe

semiconductor ; doping ; sheet resistance ; arsenic ; silica glasses

34/82
Nr opisu: 0000051426
Opracowanie preparatyki rozwirowywanych szkliw krzemowych umożliwiających uzyskanie wysokiej koncentracji domieszki donorowej w warstwie dyfuzyjnej.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 99-104, bibliogr. 3 poz.

35/82
Nr opisu: 0000040381
A study on the application of boron doped spin-on glasses in the technology of the silicon solar cells.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
W: XXXI International Conference IMAPS - Poland 2007, Rzeszów-Krasiczyn, 23-26 September 2007. Proceedings. Eds.: J. Potencki, D. Klepacki, A. Bednarczyk. IMAPS Poland. Rzeszów : Rzeszów University of Technology, 2007, s. 163-166

36/82
Nr opisu: 0000040382
Arsenic-doped glasses in the technology of photovoltaic structures.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
W: XXXI International Conference IMAPS - Poland 2007, Rzeszów-Krasiczyn, 23-26 September 2007. Proceedings. Eds.: J. Potencki, D. Klepacki, A. Bednarczyk. IMAPS Poland. Rzeszów : Rzeszów University of Technology, 2007, s. 159-162

37/82
Nr opisu: 0000040377
Atomic force microscope investigation of silicon surface for solar cells.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, K. Drabczyk, A. Olechowska, Edyta Wróbel, P. Panek.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 185

38/82
Nr opisu: 0000025311
Elektroniczne przyrządy półprzewodnikowe. Zasady działania diod i tranzystorów - rozwiązywanie zadań.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2007, 251 s., bibliogr. 22 poz.
Skrypt nr 2396

półprzewodnik ; nośnik ładunku ; dioda półprzewodnikowa ; tranzystor bipolarny ; tranzystor polowy MOS ; konduktywność elektryczna

semiconductor ; charge carrier ; semiconductor diode ; bipolar transistor ; field-effect transistor MOS ; electrical conductivity

39/82
Nr opisu: 0000076036
Investigation of high doped phosphorus sources in silicon solar cells technology.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 184, bibliogr. 1 poz.

40/82
Nr opisu: 0000022957
Technologie mikroelektroniczne. Metody wytwarzania materiałów i struktur półprzewodnikowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2006, 283 s., bibliogr.

mikroelektronika ; półprzewodnik ; płytka krzemowa ; monokryształ

microelectronics ; semiconductor ; silicon wafer ; monocrystal

41/82
Nr opisu: 0000021171
Wpływ temperatury procesu dyfuzji fosforu do krzemu prowadzonej w piecu IR, z użyciem rozwirowywanych szkliw domieszkowych, na parametry warstwy dyfuzyjnej.
[Aut.]: Kazimierz* Drabczyk, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, Edyta Wróbel, M. Lipiński.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 373-378, bibliogr. 8 poz.

42/82
Nr opisu: 0000021167
Wykorzystanie szkliw domieszkowo-krzemowych w technologii półprzewodnikowych struktur fotowoltaicznych.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 331-336, bibliogr. 4 poz.

43/82
Nr opisu: 0000088100   
Wykorzystanie szkliw domieszkowo-krzemowych w technologii półprzewodnikowych struktur fotowoltaicznych.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, M. Mazur, Wojciech Filipowski, Kazimierz* Drabczyk.
-Elektronika 2005 R. 46 nr 11, s. 32-34, bibliogr. 4 poz.

44/82
Nr opisu: 0000013761
Influence of depletion layer width on efficiency of solar cells.
[Aut.]: W. Filipowski, Krzysztof Waczyński, Kazimierz* Drabczyk, Edyta Wróbel.
W: XXVII International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter, Wrocław, 26-29 September 2004. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2004, s. 226-228

45/82
Nr opisu: 0000013763
Investigation on the application of boron phosphorus and arsenic-doped glasses in the technology of photovoltaic structures.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, W. Filipowski.
W: XXVII International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter, Wrocław, 26-29 September 2004. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2004, s. 417-420

46/82
Nr opisu: 0000013928
Investigation on the application of boron, phosphorus and arsenic-doped glasses in the technology of silicon semiconductors.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Kazimierz* Drabczyk, W. Filipowski.
W: VIII Electron Technology Conference. ELTE 2004, Stare Jabłonki, 19-22.04.2004. Book of extended abstracts. Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, 2004, s. 159

47/82
Nr opisu: 0000009175
Ocena jednorodności procesu domieszkowania podłoży krzemowych z wykorzystaniem rozwirowywanych szkliw domieszkowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, D. Gilner.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 85-90, bibliogr. 15 poz.

48/82
Nr opisu: 0000004837
Technologie mikroelektroniczne. Laboratorium technik warstwowych. Praca zbiorowa. Pod red. K. Waczyńskiego.
[Aut.]: K. Drabczyk, Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2003, 186 s., bibliogr. 35 poz.
Skrypt nr 2303

49/82
Nr opisu: 0000012608   
Analiza procesów dyfuzji planarnej w półprzewodnikach z wybranych źródeł domieszek. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Edyta Wróbel.
Gliwice, 2001, 220 s., bibliogr. 64 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. Sławomir** Kończak

50/82
Nr opisu: 0000003744
Technologie mikroelektroniczne. Cz. 1: Metody wytwarzania materiałów i struktur półprzewodnikowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2001, 258 s., bibliogr. 34 poz.

51/82
Nr opisu: 0000088099
The analysis of dopant diffusion from spin-on silica-dopant glasses.
[Aut.]: Edyta Wróbel.
W: XXV International Conference IMAPS - Poland 2001, Rzeszów-Polańczyk, 26-29 September 2001. Proceedings. Rzeszów : Rzeszów University of Technology, 2001, s. 87-90

52/82
Nr opisu: 0000088103
Badania nad stabilnością rozwirowywanych szkliw krzemowych wytworzonych w oparciu o związki krzemoorganiczne.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Zbigniew** Pruszowski, Kazimierz* Drabczyk.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2000. VII Konferencja naukowa, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000. [Dokument elektroniczny]. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2000, dysk optyczny (CD-ROM) ME7

53/82
Nr opisu: 0000088128
Determining dopant concentration profile in silicon by using electrochemical profile plotter.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Kazimierz* Drabczyk, Krzysztof Waczyński, I. Zborowska-Lindert.
W: XXIV International Conference IMAPS - Poland 2000, Rytro, 25-29 September 2000. Proceedings. Kraków : Research and Development Centre for Hybrid Microelectronics and Resistors, 2000, s. 263-268, bibiogr. 5 poz.

54/82
Nr opisu: 0000088169
Elektrofizyczne własności rozwirowywanych szkliw krzemowych wykorzystywanych w procesie pasywacji i planaryzacji.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, Stanisław* Łoś.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2000. VII Konferencja naukowa, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000. [Dokument elektroniczny]. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2000, dysk optyczny (CD-ROM) ME11

55/82
Nr opisu: 0000004356
Humidity sensing properties of spin-on phosphorosilica thin films.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, R. Nowak.
W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 217-221, bibliogr. 18 poz. (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)

56/82
Nr opisu: 0000088170
Modelowanie wpływu warunków procesu domieszkowania dyfuzyjnego na parametry złącza p-n.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Wojciech Filipowski, Kazimierz* Drabczyk.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2000. VII Konferencja naukowa, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000. [Dokument elektroniczny]. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2000, dysk optyczny (CD-ROM) ME17

57/82
Nr opisu: 0000008244
Technologie mikroelektroniczne. Laboratorium technologii półprzewodników. Praca zbiorowa. Pod red. K. Waczyńskiego.
[Aut.]: K. Drabczyk, Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2000, 186 s., bibliogr. 22 poz.
(Skrypty Uczelniane ; [Politechnika Śląska] nr 2195 0434-0825)

58/82
Nr opisu: 0000088127
The electrophysical properties of spin-on glass for dielectric passivation and planarization.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Stanisław* Łoś.
W: XXIV International Conference IMAPS - Poland 2000, Rytro, 25-29 September 2000. Proceedings. Kraków : Research and Development Centre for Hybrid Microelectronics and Resistors, 2000, s. 255-261, bibliogr. 6 poz.

59/82
Nr opisu: 0000088109
Application of thick film technology for gas sensors based on ionic conductivity.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
W: Proceedings of the 22-nd Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Zakopane, 1-3 October, 1998. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society, 1999, s. 287-289, bibiogr. 4 poz.

60/82
Nr opisu: 0000088124
Calculation of TEOS decomposition activation energy in spin-on glasses.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, M. Cież, W. Grzesiak, Jerzy** Początek, J. Kulawik.
W: XXIII Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Koszalin - Kołobrzeg, 21-23 September 1999. Proceedings. Koszalin : Technical University of Koszalin, 1999, s. 93-96, bibliogr. 2 poz.

61/82
Nr opisu: 0000088110
Humidity sensing properties of spin-on phosphosilica thin films.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, R. Nowak, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik.
W: Proceedings of the 22-nd Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Zakopane, 1-3 October, 1998. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society, 1999, s. 335-338, bibliogr. 8 poz.

62/82
Nr opisu: 0000088125
Hybrid resistive layers NiCr-NiP for obtaining precision resistors.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, J. Kulawik.
W: XXIII Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Koszalin - Kołobrzeg, 21-23 September 1999. Proceedings. Koszalin : Technical University of Koszalin, 1999, s. 233-235, bibliogr. 3 poz.

63/82
Nr opisu: 0000007428
Niszczące i nieniszczące metody pomiaru profilu koncentracji domieszek w materiałach półprzewodnikowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Zesz. Nauk. PŚl., Mat. 1999 z. 87, s. 133-143, bibliogr. 11 poz.

64/82
Nr opisu: 0000088126
Optimization of heating's shape used in thick film lambda sond.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
W: XXIII Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Koszalin - Kołobrzeg, 21-23 September 1999. Proceedings. Koszalin : Technical University of Koszalin, 1999, s. 337-340, bibliogr. 4 poz.

65/82
Nr opisu: 0000088111
Some investigation of electrophysical properties of spin-on glasses.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik, Stanisław* Łoś.
W: Proceedings of the 22-nd Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Zakopane, 1-3 October, 1998. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society, 1999, s. 347-350, bibliogr. 4 poz.

66/82
Nr opisu: 0000088096
Badanie możliwości wykorzystania technologii grubowarstwowej do analizy zawartości tlenu w spalinach.
[Aut.]: Sławomir** Kończak, Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Dariusz* Urbańczyk, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE '98. V Konferencja naukowa, Jurata, 10-13 maja 1998. T. 2. [Sopot] : [GROT], [1998], s. 417-420, bibliogr. 18 poz.

67/82
Nr opisu: 0000026003
Examination of physical and chemical properties of thin layers of arsenic-silicon glasses by means of an X-ray microprobe.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, Michał** Żelechower.
W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 468-471, bibliogr. 4 poz. (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)

68/82
Nr opisu: 0000088106
Investigation on possibility of application thin spin-on glass films and zirconium ceramics in humidity sensors.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Zbigniew** Pruszowski, Jerzy Uljanow, Edyta Wróbel.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 265-267, bibliogr. 7 poz.

69/82
Nr opisu: 0000088105
Manufacturing of precision resistors based on Ni-P and Ni-W-P layers obtained by means of chemical reduction method.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, M. Cież, W. Grzesiak, Jerzy** Początek, J. Kulawik.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 249-252, bibliogr. 2 poz.

70/82
Nr opisu: 0000088107
Process optimization for annealing spin-on glass and anodic dielectric layers in MIS structures on GaAs.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Stanisław* Łoś.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 269-272, bibliogr. 3 poz.

71/82
Nr opisu: 0000088527
Properties and application of spin-on phosphorus glass as a basic material for humidity sensors.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Piotr Kowalik, Edyta Wróbel, Jerzy Uljanow.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 105

72/82
Nr opisu: 0000088108
Some problems with application of spin-on dopant source in silicon technology.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 273-275, bibliogr. 4 poz.

73/82
Nr opisu: 0000026115
The influence of heating of silicon glasses and anodic oxides on their electrophysical properties.
[Aut.]: Stanisław* Łoś, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 450-454, bibliogr. 9 poz. (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)

74/82
Nr opisu: 0000028071
Diffusion from spin-on glasses.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 138-141, bibliogr. 9 poz. (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)

75/82
Nr opisu: 0000088048
Diffusion of antimony from spin-on sources of dopants.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
-Electron Technol. 1997 vol. 30 no. 4, s. 359-362, bibliogr. 3 poz.

76/82
Nr opisu: 0000003086
Dyfuzja antymonu z rozwirowywanych źródeł domieszek.
[Aut.]: Sławomir** Kończak, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
W: Technologia elektronowa. VI Konferencja naukowa. ELTE '97, Krynica, 6.05-9.05.1997. T. 1. Instytut Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie. Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza, 1997, s. 209-212, bibliogr. 3 poz.

77/82
Nr opisu: 0000088112
Manufacturing of precision resistors based on Ni-P and Ni-W-P layers obtained by means of chemical reduction method.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, M. Cież, W. Grzesiak, Jerzy** Początek, J. Kulawik.
-Electron Technol. 1997 vol. 30 no. 4, 363-365, bibliogr. 5 poz.

78/82
Nr opisu: 0000088104
Modelling of dopant concentration distribution in silicon doped from spin-on glasses.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
W: Proceedings of the 20th Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Jurata, September 15-18, 1996. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Society for Hybrid Microelectronics, Poland-Chapter, 1997, s. 283-286, bibliogr. 8 poz.

79/82
Nr opisu: 0000026672
Problemy związane ze stosowaniem rozwirowywanych źródeł domieszek w technologii krzemowej.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
-Elektronika 1997 R. 38 nr 12, s. 15-20, bibliogr. 23 poz.

80/82
Nr opisu: 0000003073
Technologia otrzymywania struktur MIS z dwuwarstwowym dielektrykiem.
[Aut.]: Stanisław* Łoś, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
W: Technologia elektronowa. VI Konferencja naukowa. ELTE '97, Krynica, 6.05-9.05.1997. T. 1. Instytut Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie. Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza, 1997, s. 234-237, bibliogr. 5 poz.

81/82
Nr opisu: 0000003070
Wytwarzanie rezystorów precyzyjnych na bazie warstw Ni-P oraz Ni-W-P otrzymywanych metodą chemicznej redukcji.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, M. Cież, W. Grzesiak, J. Początek.
W: Technologia elektronowa. VI Konferencja naukowa. ELTE '97, Krynica, 6.05-9.05.1997. T. 1. Instytut Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie. Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza, 1997, s. 299-302, bibliogr. 5 poz.

82/82
Nr opisu: 0000060316
Asembler 8086/88.
[Aut.]: Edyta Wróbel.
Warszawa : Wydaw. Naukowo-Techniczne, 1990, 279 s.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie