Wynik wyszukiwania
Zapytanie: WACZYŃSKI KRZYSZTOF
Liczba odnalezionych rekordów: 144



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/144
Nr opisu: 0000125188   
Borosilicate spray-on glass solutions for fabrication silicon solar cell back surface field.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, K. Drabczyk, Edyta Wróbel, P. Sobik, Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec.
-Microelectron. Int. 2018 vol. 35 iss. 3, s. 172-176, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.608. Punktacja MNiSW 20.000

back-surface field ; diffusion process ; dopant sources ; silicon solar cells

2/144
Nr opisu: 0000120570
Hydrogen sensing properties of SnO2 nanocrystalline thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow.
W: 41st International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland 2017 Conference, September 11-13, 2017, Warsaw. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2017, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-5, bibliogr. 20 poz.

spin-coating ; czujnik ; cienka powłoka ; nanopowłoka SiO2

spin-coating ; sensor ; thin film ; SnO2 nanostructure

3/144
Nr opisu: 0000123054   
Hydrogen sensing properties of SnO2 nanocrystalline thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow.
W: Proceedings of the 21st European Microelectronics Packaging Conference (EMPC 2017). Eds. Andrzej Dziedzic, Piotr Jasiński. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017, s. 1-5, bibliogr. 20 poz.

powlekanie wirowe ; nanostruktura SnO2 ; czujnik gazu ; cienka powłoka

spin coating ; SnO2 nanostructure ; gas sensor ; thin film

4/144
Nr opisu: 0000123061   
Influence of ammonium tungstate additive in metallization baths on Ni-Cu-P resistive layer properties.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec, A. Czerwiński, M. Płuska, J. Kulawik.
W: Proceedings of the 21st European Microelectronics Packaging Conference (EMPC 2017). Eds. Andrzej Dziedzic, Piotr Jasiński. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017, s.

stop Ni-Cu-P ; metalizacja bezprądowa ; warstwa rezystywna

Ni-Cu-P alloy ; electroless metallization ; resistive layer

5/144
Nr opisu: 0000118479   
Relationship between resistance, TCR and stabilization temperature of amorphous Ni-P alloy.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Piotr Kowalik, J. Kulawik.
-Microelectron. Int. 2017 vol. 34 iss. 3, s. 154-159, bibliogr. 20 poz.. Impact Factor 0.608. Punktacja MNiSW 20.000

TWR ; metalizacja chemiczna ; stop Ni-P ; warstwa rezystywna ; stabilizacja termiczna ; zależności matematyczne

TCR ; chemical metallization ; Ni-P alloy ; resistive layer ; thermal stabilization ; mathematical relationships

6/144
Nr opisu: 0000118488   
Spray-on glass solution for fabrication silicon solar cell emitter layer.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Edyta Wróbel, K. Drabczyk, Krzysztof Waczyński, G. Kulesza-Matlak, M. Lipiński.
-Microelectron. Int. 2017 vol. 34 iss. 3, s. 149-153, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.608. Punktacja MNiSW 20.000

warstwa emiterowa ; krzemowe ogniwo słoneczne ; roztwór domieszkowy

emitter layer ; silicon solar cell ; spray-on glass solution ; dopant solution

7/144
Nr opisu: 0000107789   
Comparison of diffused layer prepared using liquid dopant solutions and pastes for solar cell with screen printed electrodes.
[Aut.]: K. Drabczyk, Edyta Wróbel, G. Kulesza-Matlak, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, M. Lipiński.
-Microelectron. Int. 2016 vol. 33 iss. 3, s. 167-171, bibliogr. 10 poz.. Impact Factor 0.737. Punktacja MNiSW 20.000

druk sitowy ; elektroda przednia ; proces dyfuzyjny ; krzemowe ogniwo słoneczne

screen printing ; front electrode ; diffusion process ; silicon solar cell ; Dopant source

8/144
Nr opisu: 0000115455   
Experimental and mathematical relation between resistance and temperature coefficient of resistance and emperature of thermal stabilization of metallic layers based on amorphous Ni-P alloy obtained by electroless metallization.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Piotr Kowalik, Piotr Kowalik, J. Kulawik.
W: 40th International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland 2016 Conference, Książ Castle, Wałbrzych, 25-28 September 2016. Book of abstracts. Eds. Olga Rac, Mateusz Czok, Karol Malecha. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter, 2016, s. 137-138, bibliogr. 4 poz.

metalizacja bezprądowa ; stop Ni-P ; model matematyczny

electroless metallization ; Ni-P alloy ; mathematical model

9/144
Nr opisu: 0000115452   
Spray-on glass solutions for fabrication silicon solar cell emitter layer.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Edyta Wróbel, Kazimierz* Drabczyk, Krzysztof Waczyński, G. Kulesza-Matlak, M. Lipiński.
W: 40th International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland 2016 Conference, Książ Castle, Wałbrzych, 25-28 September 2016. Book of abstracts. Eds. Olga Rac, Mateusz Czok, Karol Malecha. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter, 2016, s. 71-72, bibliogr. 3 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; spray-on glass

solar cell ; emitter layer ; spray-on glass

10/144
Nr opisu: 0000100167
Badania derywatograficzne i z wykorzystaniem mikroskopii skaningowej cienkich warstw SnOx wytworzonych metodą rozwirowania roztworów SnCl4*5H2O+IPA.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec, Edyta Wróbel, Justyna Majewska, M. Libera.
W: Czternasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 08-12.06.2015]. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 40-46, bibliogr. 4 poz.

derywatografia ; rozwirowywanie ; sensoryczna warstwa dwutlenku cyny

derivatography ; spin-on ; sensitive film of tin dioxide

11/144
Nr opisu: 0000101652   
Badania derywatograficzne i z wykorzystaniem mikroskopii skaningowej cienkich warstw SnOx wytworzonych metodą rozwirowania roztworów SnCl4ˇ5H2O+IPA.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec, Edyta Wróbel, Justyna Majewska, M. Libera.
-Prz. Elektrot. 2015 R. 91 nr 9, s. 195-198, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

derywatografia ; roztwory SnCl4ˇ5H2O+IPA ; rozwirowywanie ; sensoryczna warstwa dwutlenku cyny

derivatography ; SnCl4ˇ5H2O+IPA solutions ; spinning ; sensoric layers of tin dioxide

12/144
Nr opisu: 0000100168
Badania odpowiedzi sensorowej cienkich warstw oraz nanostruktur SnO2.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Weronika Izydorczyk, N. Niemiec, Jerzy Uljanow, Wiesław Domański, Janusz Mazurkiewicz.
W: Czternasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 08-12.06.2015]. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 59-65, bibliogr. 15 poz.

sensor ; warstwa cienka ; nanostruktura SnO2 ; czujnik rezystancyjny ; technologia RGTO ; termiczne osadzanie z fazy gazowej

sensor ; thin layer ; SnO2 nanostructure ; resistive sensor ; RGTO technology ; thermal vapour deposition

13/144
Nr opisu: 0000101655   
Badania odpowiedzi sensorowej cienkich warstw oraz nanostruktur SnO2.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Jerzy Uljanow, Wiesław Domański, Janusz Mazurkiewicz.
-Prz. Elektrot. 2015 R. 91 nr 9, s. 199-203, bibliogr. 15 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

sensor ; cienka warstwa SnO2 ; czujnik rezystancyjny ; technologia RGTO ; termiczne osadzanie z fazy gazowej

sensor ; SnO2 thin film ; resistive sensor ; RGTO technology ; thermal vapour deposition

14/144
Nr opisu: 0000104926
Comparison of diffused layer prepared using dopant liquid solutions and pastes for solar cell with screen printed electrodes.
[Aut.]: K. Drabczyk, Edyta Wróbel, G. Kulesza-Matlak, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, M. Lipiński.
W: 39th International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland Conference, Gdańsk, September 20-23, 2015. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 1-5

15/144
Nr opisu: 0000100171
Wyznaczanie rezystancji powierzchniowej warstwy emiterowej ogniwa słonecznego z wykorzystaniem efektywnych wartości współczynnika dyfuzji niezależnego od koncentracji domieszki.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Anna Filipowska, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Weronika Izydorczyk.
W: Czternasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 08-12.06.2015]. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 282-285, bibliogr. 9 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; rezystancja powierzchniowa ; domieszkowanie dyfuzyjne

solar cell ; emitter layer ; surface resistivity ; diffusion doping

16/144
Nr opisu: 0000101649   
Wyznaczanie rezystancji powierzchniowej warstwy emiterowej ogniwa słonecznego z wykorzystaniem efektywnych wartości współczynnika dyfuzji niezależnego od koncentracji domieszki.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Anna Filipowska, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Weronika Izydorczyk.
-Prz. Elektrot. 2015 R. 91 nr 9, s. 27-28, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; rezystancja powierzchniowa ; domieszkowanie dyfuzyjne

solar cell ; emitter layer ; surface resistivity ; diffusion doping

17/144
Nr opisu: 0000095577   
Electrical and optical properties of spin-coated SnO2 nanofilms.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Krzysztof Waczyński, Jacek Izydorczyk, Paweł Karasiński, Janusz Mazurkiewicz, Mirosław Magnuski, Jerzy Uljanow, Natalia Waczyńska-Niemiec, Wojciech Filipowski.
-Mater. Sci. Pol. 2014 vol. 32 no. 4, s. 729-736, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 0.507. Punktacja MNiSW 15.000

spin-coating ; spektroskopia UV-Vis ; dyfrakcja rentgenowska

spin-coating ; tin dioxide ; UV-Vis spectroscopy ; X-ray diffraction

18/144
Nr opisu: 0000093853
Rezystancyjne czujniki wilgotności oparte na rozwirowywanych szkliwach fosforowo-krzemowych i stabilizowanej ceramice cyrkonowej.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński.
W: Trzynasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 09-13.06.2014]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2014, s. 33 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM

czujnik wilgotności ; szkliwo fosforokrzemowe ; ceramika cyrkonowa

humidity sensor ; phosphosilicate glass ; zirconia ceramics

19/144
Nr opisu: 0000093229   
Rezystancyjne czujniki wilgotności oparte na rozwirowywanych szkliwach krzemowych i stabilizowanej ceramice cyrkonowej.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński.
-Prz. Elektrot. 2014 R. 90 nr 9, s. 98-100, bibliogr. 5 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

struktura warstwowa ; czujnik wilgotności ; szkliwo fosforokrzemowe ; ceramika cyrkonowa

layered structure ; humidity sensor ; phosphosilicate glass ; zirconia ceramics

20/144
Nr opisu: 0000087639   
Cienkie warstwy dwutlenku cyny w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2013, 134 s., bibliogr. 19 poz.
(Monografia ; [Politechnika Śląska] nr 488)
Rozprawa habilitacyjna

dwutlenek cyny ; mikroelektronika ; warstwa cienka ; nanowarstwa

tin dioxide ; microelectronics ; thin coating ; nanolayer

21/144
Nr opisu: 0000088559
Electrical and optical properties of spin-coated SnO2 nanofilms.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Krzysztof Waczyński, Jacek Izydorczyk, Paweł Karasiński, Janusz Mazurkiewicz, Mirosław Magnuski, Jerzy Uljanow, Natalia Waczyńska-Niemiec, Wojciech Filipowski.
W: Proceedings of 37th International Microelectronics and Packaging IMAPS - CPMT, Poland Conference, Kraków, September 22-25, 2013. [Dokument elektroniczny]. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-5

22/144
Nr opisu: 0000074647   
Boron doped spin-on glasses in the technology of the silicon solar cells.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 31-32, bibliogr. 5 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

ogniwo słoneczne ; dyfuzja ; rozwirowywane szkliwa

solar cell ; diffusion ; spin-on glasses

23/144
Nr opisu: 0000071982
Optimization of technology for deposition of ultrathin SnO2 films by spin-coating method.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1, bibliogr. 6 poz.

24/144
Nr opisu: 0000082740
Optymalizacja technologii osadzania nanowarstw SnO2 metodą rozwirowywania z roztworów (spin-coating).
[Aut.]: Jacek Szuber, Krzysztof Waczyński, Monika Kwoka, Michał* Sitarz, Natalia Waczyńska-Niemiec, Piotr* Kościelniak.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 159
Pełny tekst na CD-ROM

SnO2 ; nanowarstwa ; spin-coating ; technologia osadzania

SnO2 ; nanolayer ; spin-coating ; deposition technology

25/144
Nr opisu: 0000065604   
Badanie właściwości cienkich warstw antyrefleksyjnych z dwutlenku tytanu w strukturze ogniwa fotowoltaicznego.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, K. Drabczyk.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 77-79, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

warstwa antyrefleksyjna ; dwutlenek tytanu ; ogniwo fotowoltaiczne

antireflection layer ; titanium dioxide ; photovoltaic cell

26/144
Nr opisu: 0000065603   
Efektywne wartości współczynnika dyfuzji dla modelu domieszkowania dyfuzyjnego warstwy emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, A. Skwarek, K. Drabczyk.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 57-59, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

struktura fotowoltaiczna ; ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; symulacja komputerowa

photovoltaic structure ; solar cell ; emitter layer ; computer simulation

27/144
Nr opisu: 0000057181   
Badania nad możliwościami jednorodnego domieszkowania warstwy emiterowej struktury fotowoltaicznej w niskiej temperaturze procesu dyfuzji.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 5, s. 60-62, bibliogr. 4 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; szkliwo domieszkowe ; domieszkowanie ; rezystancja powierzchniowa

solar cell ; emitter layer ; silica glasses ; doping ; sheet resistance

28/144
Nr opisu: 0000059508   
Domieszkowanie dyfuzyjne krzemu ze szkliw o podwyższonej zawartości koncentracji domieszki.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 111-113, bibliogr. 15 poz.

domieszkowanie dyfuzyjne ; metoda spin-on ; półprzewodnik

diffusion doping ; spin-on method ; semiconductor

29/144
Nr opisu: 0000082621
Domieszkowanie dyfuzyjne krzemu ze szkliw o podwyższonej zawartości koncentracji domieszki.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
W: Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 26
Pełny tekst na CD-ROM

domieszkowanie dyfuzyjne ; metoda spin-on ; półprzewodnik ; warstwa dyfuzyjna

diffusion doping ; spin-on method ; semiconductor ; diffusion layer

30/144
Nr opisu: 0000063317
Influence of temperature and storage time on electrophysical properties of spin-on doping solutions based on TEOS.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
W: 10th Electron Technology Conference ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS-CPMT Poland Conference, Wrocław, 22-25 September 2010. Book of abstracts. Eds: A. Dziedzic, K. Malecha, J. Radojewski. [Kraków] : [International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter], 2010, s. 167, bibliogr. 2 poz.

31/144
Nr opisu: 0000057183   
Model dyfuzji fosforu w krzemie wykorzystywany do wyznaczania profilu koncentracji domieszki w warstwie emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 5, s. 102-105, bibliogr. 21 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; domieszkowanie ; fotowoltaika

solar cell ; emitter layer ; photovoltaics ; doping

32/144
Nr opisu: 0000059111
Badania nad możliwościami jednorodnego domieszkowania warstwy emiterowej struktury fotowoltaicznej w niskiej temperaturze procesu dyfuzji.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, K. Drabczyk.
W: I Krajowa Konferencja Fotowoltaiki, Krynica Zdrój, 9-11 października 2009. [Dokument elektroniczny]. [Kraków] : [Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk], 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6

33/144
Nr opisu: 0000059179
Effective coefficient of phosphorus diffusion in silicon for doping emitter layer of solar cell.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
W: XXXIII International Conference of IMAPS - CPMT IEEE Poland, Pszczyna, 21-24 September 2009. Proceedings. [Dokument elektroniczny]. Eds: Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński. Gliwice : Silesian University of Technology, 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 126-131

34/144
Nr opisu: 0000059082
Model dyfuzji fosforu w krzemie wykorzystywany do wyznaczania profilu koncentracji domieszki w warstwie emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, K. Drabczyk.
W: I Krajowa Konferencja Fotowoltaiki, Krynica Zdrój, 9-11 października 2009. [Dokument elektroniczny]. [Kraków] : [Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk], 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-14

35/144
Nr opisu: 0000051438
Pomiary parametrów warstw dielektrycznych wytworzonych metodą spin-on.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Paweł Karasiński.
W: Ósma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 07-10 czerwca 2009]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2009, s. 29
Pełny tekst na CD-ROM

36/144
Nr opisu: 0000059180
Research on feasibility of homogenous emitter layer doping of photovoltaic structure.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
W: XXXIII International Conference of IMAPS - CPMT IEEE Poland, Pszczyna, 21-24 September 2009. Proceedings. [Dokument elektroniczny]. Eds: Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński. Gliwice : Silesian University of Technology, 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 132-137

37/144
Nr opisu: 0000051437
Wpływ warunków nanoszenia szkliw krzemowych na jakość uzyskanej powierzchni.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
W: Ósma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 07-10 czerwca 2009]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2009, s. 28
Pełny tekst na CD-ROM

38/144
Nr opisu: 0000052100   
Wpływ warunków nanoszenia szkliw krzemowych na jakość uzyskanej powierzchni.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 21-23, bibliogr. 4 poz.

metoda spin-on ; warstwa dielektryczna

spin-on method ; dielectric layer

39/144
Nr opisu: 0000055483
XXXIII International Conference of IMAPS - CPMT IEEE Poland, Pszczyna, 21-24 September 2009. Proceedings. Eds: Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński.
Gliwice : [International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter]

40/144
Nr opisu: 0000036428   
Badania nad źródłami domieszek o dużej zawartości fosforu stosowanymi w technologii wytwarzania krzemowych ogniw słonecznych.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 1, s. 16-17, bibliogr. 5 poz.

krzemowe ogniwo słoneczne ; fotoogniwo ; fosfor ; domieszka ; domieszkowanie dyfuzyjne ; metoda spin-on

silicon solar cell ; photovoltaic cell ; phosphorus ; admixture ; semiconductor doping ; spin-on method

41/144
Nr opisu: 0000050874
Crystalline structure research of SnO2 thin layer and their sensor properties in the oxide containing atmosphere.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow.
W: 32nd International IMAPS-IEEE CPMT Poland Conference, Warszawa - Pułtusk, 21-24 September 2008. Warszawa : Oficyna Wydaw. Politechniki Warszawskiej, 2008, s. 45
Pełny tekst na CD-ROM

42/144
Nr opisu: 0000051425
Kształtowanie warstw dyfuzyjnych przy wykorzystaniu domieszek wolnodyfundujących.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 93-98, bibliogr. 3 poz.

43/144
Nr opisu: 0000043100   
Kształtowanie warstw dyfuzyjnych przy wykorzystaniu domieszek wolnodyfundujących.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 70-72, bibliogr. 3 poz.

półprzewodnik ; domieszkowanie ; rezystancja powierzchniowa ; arsen ; szkliwo domieszkowe

semiconductor ; doping ; sheet resistance ; arsenic ; silica glasses

44/144
Nr opisu: 0000051426
Opracowanie preparatyki rozwirowywanych szkliw krzemowych umożliwiających uzyskanie wysokiej koncentracji domieszki donorowej w warstwie dyfuzyjnej.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 99-104, bibliogr. 3 poz.

45/144
Nr opisu: 0000036430   
Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach nad formowaniem powierzchni krzemowych ogniw słonecznych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, P. Panek, K. Drabczyk, A. Olechowska.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 1, s. 83-86, bibliogr. 8 poz.

krzemowe ogniwo słoneczne ; mikroskop sił atomowych ; krzem monokrystaliczny ; krzem multikrystaliczny ; warstwa porowata ; trawienie

silicon solar cell ; atomic force microscope ; monocrystalline silicon ; multicrystalline silicon ; porous layer ; etching

46/144
Nr opisu: 0000040381
A study on the application of boron doped spin-on glasses in the technology of the silicon solar cells.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
W: XXXI International Conference IMAPS - Poland 2007, Rzeszów-Krasiczyn, 23-26 September 2007. Proceedings. Eds.: J. Potencki, D. Klepacki, A. Bednarczyk. IMAPS Poland. Rzeszów : Rzeszów University of Technology, 2007, s. 163-166

47/144
Nr opisu: 0000040382
Arsenic-doped glasses in the technology of photovoltaic structures.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
W: XXXI International Conference IMAPS - Poland 2007, Rzeszów-Krasiczyn, 23-26 September 2007. Proceedings. Eds.: J. Potencki, D. Klepacki, A. Bednarczyk. IMAPS Poland. Rzeszów : Rzeszów University of Technology, 2007, s. 159-162

48/144
Nr opisu: 0000040377
Atomic force microscope investigation of silicon surface for solar cells.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, K. Drabczyk, A. Olechowska, Edyta Wróbel, P. Panek.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 185

49/144
Nr opisu: 0000025311
Elektroniczne przyrządy półprzewodnikowe. Zasady działania diod i tranzystorów - rozwiązywanie zadań.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2007, 251 s., bibliogr. 22 poz.
Skrypt nr 2396

półprzewodnik ; nośnik ładunku ; dioda półprzewodnikowa ; tranzystor bipolarny ; tranzystor polowy MOS ; konduktywność elektryczna

semiconductor ; charge carrier ; semiconductor diode ; bipolar transistor ; field-effect transistor MOS ; electrical conductivity

50/144
Nr opisu: 0000076036
Investigation of high doped phosphorus sources in silicon solar cells technology.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 184, bibliogr. 1 poz.

51/144
Nr opisu: 0000039861
Research on parameters of solar cell emitter layer model.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Eugeniusz** Wróbel, Kazimierz* Drabczyk.
W: XXXI International Conference IMAPS - Poland 2007, Rzeszów-Krasiczyn, 23-26 September 2007. Proceedings. Eds.: J. Potencki, D. Klepacki, A. Bednarczyk. IMAPS Poland. Rzeszów : Rzeszów University of Technology, 2007, s. 283-286, bibliogr. 4 poz.

52/144
Nr opisu: 0000076042
Response of an optimised SnO2-based gas sensor to oxygen.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz, Andrzej** Klimasek, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 183, bibliogr. 3 poz.

53/144
Nr opisu: 0000031790
Badania nad preparatyką rozwirowywanych roztworów domieszkowych umożliwiających uzyskanie silnie domieszkowanych krzemowych warstw dyfuzyjnych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Kazimierz* Drabczyk.
W: Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 331-334, bibliogr. 9 poz.

54/144
Nr opisu: 0000029032
Badanie procesów domieszkowania dyfuzyjnego krzemu w technologii wytwarzania struktur fotowoltaicznych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński.
-Pr. Komis. Nauk. PAN Katow. 2006 nr 30, s. 62-64

domieszkowanie dyfuzyjne ; struktura fotowoltaiczna ; krzem ; ogniwo słoneczne

diffusion doping ; photovoltaic structure ; silicon ; solar cell

55/144
Nr opisu: 0000025532   
Computer analysis of an influence of oxygen vacancies on the electronic properties of the SnO2 surface and near-surface region.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz, Marcin** Miczek, Krzysztof Waczyński.
-Phys. Status Solidi, A Appl. Res. 2006 vol. 203 iss. 9, s. 2241-2246, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 1.221

56/144
Nr opisu: 0000032828
Research on the preparation of spin-on glass solutions enabling the fabrication of highly doped silicon diffusion layer.
[Aut.]: M. Filipczyk, Krzysztof Waczyński, Kazimierz* Drabczyk.
W: XXX International Conference IMAPS Poland Chapter 2006, Kraków, 24-27 September 2006. Proceedings. Eds.: W. Zaraska, A. Cichocki, D. Szwagierczak. Kraków : Institute of Electron Technology. Cracow Division, [2006], s. 481-483

57/144
Nr opisu: 0000032827
Research on the surface of silicon at different stages of photovoltaic structures fabrication with the use of atomic forces from the microscale view.
[Aut.]: Kazimierz* Drabczyk, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, A. Olechowska, P. Panek.
W: XXX International Conference IMAPS Poland Chapter 2006, Kraków, 24-27 September 2006. Proceedings. Eds.: W. Zaraska, A. Cichocki, D. Szwagierczak. Kraków : Institute of Electron Technology. Cracow Division, [2006], s. 331-403

58/144
Nr opisu: 0000029267
Studies of chemical composition and response of the SnO2 based sensor structure to dry and humid synthetic air.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
W: XXX International Conference IMAPS Poland Chapter 2006, Kraków, 24-27 September 2006. Proceedings. Eds.: W. Zaraska, A. Cichocki, D. Szwagierczak. Kraków : Institute of Electron Technology. Cracow Division, [2006], s. 259-262

59/144
Nr opisu: 0000023294   
Studies of chemical composition and response of the SnO2 based sensor structure to dry and humid synthetic air.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
-Elektronika 2006 R. 47 nr 12, s. 5-6

60/144
Nr opisu: 0000022957
Technologie mikroelektroniczne. Metody wytwarzania materiałów i struktur półprzewodnikowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2006, 283 s., bibliogr.

mikroelektronika ; półprzewodnik ; płytka krzemowa ; monokryształ

microelectronics ; semiconductor ; silicon wafer ; monocrystal

61/144
Nr opisu: 0000021172
Badania nad opracowaniem modelowej konstrukcji czujnika gazu z sensoryczną warstwą SnO2.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, A. Strugacz, Jacek Szuber.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 379-384, bibliogr. 12 poz.

62/144
Nr opisu: 0000021168
Badania rozwinięcia powierzchni krzemu mono i multikrystalicznego w pierwszym etapie wytwarzania struktur fotowoltaicznych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, A. Olechowska, Kazimierz* Drabczyk, P. Panek.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 361-366, bibliogr. 8 poz.

63/144
Nr opisu: 0000021169
Badania struktury wysepkowej cienkich warstw cyny wytworzonych techniką reotaksjalnego wzrostu.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, D. Jasiok.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 367-372, bibliogr. 6 poz.

64/144
Nr opisu: 0000020250
High doped phosphorus sources for short time diffusion processes in silicon solar cells technology.
[Aut.]: Kazimierz* Drabczyk, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, P. Panek, M. Lipiński.
W: XXIX International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter. IMAPS, Koszalin - Darłówko, Poland, 18-21 September 2005. Proceedings. Eds: P. Majchrzak [et al.]. [Kraków] : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 2005, s. 175-178

65/144
Nr opisu: 0000021700   
On the correlation between morphology and gas sensing properties of RGTO SnO2 thin films.
[Aut.]: Jacek Szuber, Jerzy Uljanow, Teresa** Buczek-Karczewska, Wiesław Jakubik, Krzysztof Waczyński, Monika Kwoka, Sławomir** Kończak.
-Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 54-58, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.569

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie

tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation

66/144
Nr opisu: 0000020266
Response of an optimised SnO2-based gas sensor structure to changes of NO2 concentration in synthetic air.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz, Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: XXIX International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter. IMAPS Poland, Koszalin - Darłówko, 18-21 September 2005. Proceedings. Eds: P. Majchrzak [et al.]. [Kraków] : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 2005, s. 377-380

67/144
Nr opisu: 0000020269
Response of SnO2 sensor structure to changes of NO2 contained in synthetic air.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: International Workshop Control and Information Technology. IWCIT 2005, Ostrava, Czech Republic, September 15th-16th, 2005. Ostrava : Vysoka Skola Banska - Technicka Univerzita, 2005, s. 351-354

68/144
Nr opisu: 0000021304
Studies of island structure of SnO2 thin films grown with the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, Weronika Izydorczyk, D. Jasiok.
W: XXIX International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter. IMAPS Poland, Koszalin - Darłówko, 18-21 September 2005. Proceedings. Eds: P. Majchrzak [et al.]. [Kraków] : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 2005, s. 171-174

69/144
Nr opisu: 0000088549   
Study of the structure of the SnO2 thin films obtained by the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
-Phys. Chem. Solid State 2005 vol. 6 no. 4, s. 680-684, bibliogr. 5 poz.

materiały nanowęglowe ; nanorurki węglowe ; obróbka termochemiczna

nanocarbon materiale ; carbon nanotubes ; thermochemical treatment

70/144
Nr opisu: 0000021171
Wpływ temperatury procesu dyfuzji fosforu do krzemu prowadzonej w piecu IR, z użyciem rozwirowywanych szkliw domieszkowych, na parametry warstwy dyfuzyjnej.
[Aut.]: Kazimierz* Drabczyk, Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, Edyta Wróbel, M. Lipiński.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 373-378, bibliogr. 8 poz.

71/144
Nr opisu: 0000021167
Wykorzystanie szkliw domieszkowo-krzemowych w technologii półprzewodnikowych struktur fotowoltaicznych.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 331-336, bibliogr. 4 poz.

72/144
Nr opisu: 0000088100   
Wykorzystanie szkliw domieszkowo-krzemowych w technologii półprzewodnikowych struktur fotowoltaicznych.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, M. Mazur, Wojciech Filipowski, Kazimierz* Drabczyk.
-Elektronika 2005 R. 46 nr 11, s. 32-34, bibliogr. 4 poz.

73/144
Nr opisu: 0000013761
Influence of depletion layer width on efficiency of solar cells.
[Aut.]: W. Filipowski, Krzysztof Waczyński, Kazimierz* Drabczyk, Edyta Wróbel.
W: XXVII International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter, Wrocław, 26-29 September 2004. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2004, s. 226-228

74/144
Nr opisu: 0000013763
Investigation on the application of boron phosphorus and arsenic-doped glasses in the technology of photovoltaic structures.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, W. Filipowski.
W: XXVII International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter, Wrocław, 26-29 September 2004. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2004, s. 417-420

75/144
Nr opisu: 0000013928
Investigation on the application of boron, phosphorus and arsenic-doped glasses in the technology of silicon semiconductors.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Kazimierz* Drabczyk, W. Filipowski.
W: VIII Electron Technology Conference. ELTE 2004, Stare Jabłonki, 19-22.04.2004. Book of extended abstracts. Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, 2004, s. 159

76/144
Nr opisu: 0000013922
Microscopic and X-ray diffraction study of the structure of the SnO2 thin films obtained by the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: VIII Electron Technology Conference. ELTE 2004, Stare Jabłonki, 19-22.04.2004. Book of extended abstracts. Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, 2004, s. 156

77/144
Nr opisu: 0000013923
Simulation of parameters of the solar cells emitter layer and depletion region.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, W. Filipowski, Kazimierz* Drabczyk.
W: VIII Electron Technology Conference. ELTE 2004, Stare Jabłonki, 19-22.04.2004. Book of extended abstracts. Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, 2004, s. 354-355

78/144
Nr opisu: 0000009187
Analiza parametrów warstwy emiterowej ogniwa fotowoltaicznego z wykorzystaniem modelowania procesu dyfuzji.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Kazimierz* Drabczyk, W. Filipowski, P. Panek, M. Lipiński.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 475-479, bibliogr. 9 poz.

79/144
Nr opisu: 0000007663
Analysis of photovoltaic cell emitter layer using diffusion process simulation.
[Aut.]: W. Filipowski, K. Drabczyk, Krzysztof Waczyński.
W: 27-th International Conference and Exhibition IMAPS - Poland 2003, Podlesice, Gliwice, 16-19 September, 2003. Proceedings. Eds: M. Drelichowska [i in.]. [Kraków] : [International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter], 2003, s. 150-153, bibliogr. 5 poz.

ogniwo fotowoltaiczne ; domieszkowanie Si ; warstwa emiterowa ; symulacja komputerowa

photovoltaic cell ; Si doping ; emitter layer ; computer simulation

80/144
Nr opisu: 0000009176
Badania struktury warstw SnO2 wytworzonych techniką RGTO.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 109-114, bibliogr. 6 poz.

81/144
Nr opisu: 0000009175
Ocena jednorodności procesu domieszkowania podłoży krzemowych z wykorzystaniem rozwirowywanych szkliw domieszkowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, D. Gilner.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 85-90, bibliogr. 15 poz.

82/144
Nr opisu: 0000088545
Optimisation of morphology SnO2 thin films grown by RGTO method.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, T. Karczewska-Buczek, Krzysztof Waczyński, Dorota* Koziej, Jacek Szuber.
W: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002. Lausanne : Elsevier, 2003, s. 53 (Thin Solid Films ; vol. 436, iss. 1 0040-6090). Impact Factor 0.598

83/144
Nr opisu: 0000007667
Solar cell emiter layer created during diffusion in IR belt furnace.
[Aut.]: K. Drabczyk, Krzysztof Waczyński.
W: 27-th International Conference and Exhibition IMAPS - Poland 2003, Podlesice, Gliwice, 16-19 September, 2003. Proceedings. Eds: M. Drelichowska [i in.]. [Kraków] : [International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter], 2003, s. 325-328, bibliogr. 6 poz.

krzemowe ogniwo słoneczne ; krzem multikrystaliczny ; dyfuzja fosforowa

silicon solar cell ; multicrystalline silicon ; phosphorus diffusion

84/144
Nr opisu: 0000004837
Technologie mikroelektroniczne. Laboratorium technik warstwowych. Praca zbiorowa. Pod red. K. Waczyńskiego.
[Aut.]: K. Drabczyk, Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2003, 186 s., bibliogr. 35 poz.
Skrypt nr 2303

85/144
Nr opisu: 0000018260
The influence of emitter layers multicrystalline solar cell way production on cell efficiency.
[Aut.]: Kazimierz* Drabczyk, Krzysztof Waczyński.
W: Fotowoltaika - ogniwa słoneczne i detektory. XVII Szkoła Optoelektroniki, Kazimierz Dolny, Poland, 13-16 października 2003. [B.m.] : [b.w.], [2003], s. 46

86/144
Nr opisu: 0000003036
Badania nad optymalizacją technologii reotaksjalnego wzrostu cienkich warstw cyny w zastosowaniu do struktur sensorowych.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE 2002. VII Konferencja naukowa, Rzeszów, 5-8 czerwca 2002. Materiały konferencyjne. T. 1. Rzeszów : Oficyna Wydaw. Politechniki Rzeszowskiej, 2002, s. 173-178, bibliogr. 6 poz.

87/144
Nr opisu: 0000002541
Badania nad technologią domieszkowania warstwy emiterowej ogniwa słonecznego z wykorzystaniem past do dyfuzji.
[Aut.]: K. Drabczyk, Krzysztof Waczyński, M. Lipiński, P. Panek.
W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - Dźwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 129-133, bibliogr. 3 poz.

88/144
Nr opisu: 0000002540
Badania nad technologią domieszkowania warstwy emiterowej ogniwa słonecznego z wykorzystaniem szkliw domieszkowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, K. Drabczyk, I. Zborowska-Lindert.
W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - Dźwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 163-168, bibliogr. 11 poz.

89/144
Nr opisu: 0000088530
Study of the structure of the SnO2 thin films obtained by the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: XXVI International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter. IMAPS'2002 , Warsaw, 25-27 September 2002. Proceedings. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 2002, s. 213-216

90/144
Nr opisu: 0000002543
Własności sensorowe cienkich warstw SnO2 wykonanych metodą RGTO.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, Wiesław Jakubik.
W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - Dźwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 91-96, bibliogr. 15 poz.

91/144
Nr opisu: 0000003744
Technologie mikroelektroniczne. Cz. 1: Metody wytwarzania materiałów i struktur półprzewodnikowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2001, 258 s., bibliogr. 34 poz.

92/144
Nr opisu: 0000088103
Badania nad stabilnością rozwirowywanych szkliw krzemowych wytworzonych w oparciu o związki krzemoorganiczne.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Zbigniew** Pruszowski, Kazimierz* Drabczyk.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2000. VII Konferencja naukowa, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000. [Dokument elektroniczny]. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2000, dysk optyczny (CD-ROM) ME7

93/144
Nr opisu: 0000088528
Badania nad stabilnością sensorycznych warstw dwutlenku cyny technologią RTGO (Rheotaxial Growth and Thermal Oxidation).
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, T. Karczewska-Buczek.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2000. VII Konferencja naukowa, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000. [Dokument elektroniczny]. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2000, dysk optyczny (CD-ROM) MS11

94/144
Nr opisu: 0000088128
Determining dopant concentration profile in silicon by using electrochemical profile plotter.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Kazimierz* Drabczyk, Krzysztof Waczyński, I. Zborowska-Lindert.
W: XXIV International Conference IMAPS - Poland 2000, Rytro, 25-29 September 2000. Proceedings. Kraków : Research and Development Centre for Hybrid Microelectronics and Resistors, 2000, s. 263-268, bibiogr. 5 poz.

95/144
Nr opisu: 0000088169
Elektrofizyczne własności rozwirowywanych szkliw krzemowych wykorzystywanych w procesie pasywacji i planaryzacji.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, Stanisław* Łoś.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2000. VII Konferencja naukowa, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000. [Dokument elektroniczny]. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2000, dysk optyczny (CD-ROM) ME11

96/144
Nr opisu: 0000004356
Humidity sensing properties of spin-on phosphorosilica thin films.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, R. Nowak.
W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 217-221, bibliogr. 18 poz. (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)

97/144
Nr opisu: 0000000124
Microscopic study of the structure of the SnO2 thin films obtained by RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: Optoelectronic and electronic sensors IV. [Conference], Gliwice, Poland, 13-16 June 2000. Ed. J. Frączek. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2000, s. 26-31, bibliogr. 3 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 4516 0277-786X)

98/144
Nr opisu: 0000088529
Microscopic study of the structure of the SnO2 thin films obtained by the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: XXIV International Conference IMAPS - Poland 2000, Rytro, 25-29 September 2000. Proceedings. Kraków : Research and Development Centre for Hybrid Microelectronics and Resistors, 2000, s. 247-254

99/144
Nr opisu: 0000017977
Mikroskopowe badania struktury warstw SnO2 wytworzonych techniką RGTO.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE'2000. VI Konferencja naukowa, Gliwice, 13-16 czerwca 2000. T. 1: Prezentacje sesyjne. Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach. Gliwice : Komisja Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, 2000, s. 112-123, bibliogr. 6 poz. (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach ; Seria: Konferencje ; nr 2)

100/144
Nr opisu: 0000088170
Modelowanie wpływu warunków procesu domieszkowania dyfuzyjnego na parametry złącza p-n.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Wojciech Filipowski, Kazimierz* Drabczyk.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2000. VII Konferencja naukowa, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000. [Dokument elektroniczny]. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2000, dysk optyczny (CD-ROM) ME17

101/144
Nr opisu: 0000008244
Technologie mikroelektroniczne. Laboratorium technologii półprzewodników. Praca zbiorowa. Pod red. K. Waczyńskiego.
[Aut.]: K. Drabczyk, Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2000, 186 s., bibliogr. 22 poz.
(Skrypty Uczelniane ; [Politechnika Śląska] nr 2195 0434-0825)

102/144
Nr opisu: 0000088097
The electrical properties of hybrid multicomponents resistive layers.
[Aut.]: A. Cichocki, M. Cież, W. Grzesiak, J. Kulawik, Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński.
W: XXIV International Conference IMAPS - Poland 2000, Rytro, 25-29 September 2000. Proceedings. Kraków : Research and Development Centre for Hybrid Microelectronics and Resistors, 2000, s. 159-162, bibliogr. 3 poz.

103/144
Nr opisu: 0000088127
The electrophysical properties of spin-on glass for dielectric passivation and planarization.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Stanisław* Łoś.
W: XXIV International Conference IMAPS - Poland 2000, Rytro, 25-29 September 2000. Proceedings. Kraków : Research and Development Centre for Hybrid Microelectronics and Resistors, 2000, s. 255-261, bibliogr. 6 poz.

104/144
Nr opisu: 0000088171
Wpływ parametrów procesu bezprądowej metalizacji prowadzonej pod zwiększonym ciśnieniem na parametry elektryczne warstw rezystywnych Ni-P.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński, J. Kulawik.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2000. VII Konferencja naukowa, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000. [Dokument elektroniczny]. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2000, dysk optyczny (CD-ROM) ME72

105/144
Nr opisu: 0000088109
Application of thick film technology for gas sensors based on ionic conductivity.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
W: Proceedings of the 22-nd Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Zakopane, 1-3 October, 1998. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society, 1999, s. 287-289, bibiogr. 4 poz.

106/144
Nr opisu: 0000088124
Calculation of TEOS decomposition activation energy in spin-on glasses.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, M. Cież, W. Grzesiak, Jerzy** Początek, J. Kulawik.
W: XXIII Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Koszalin - Kołobrzeg, 21-23 September 1999. Proceedings. Koszalin : Technical University of Koszalin, 1999, s. 93-96, bibliogr. 2 poz.

107/144
Nr opisu: 0000088110
Humidity sensing properties of spin-on phosphosilica thin films.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, R. Nowak, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik.
W: Proceedings of the 22-nd Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Zakopane, 1-3 October, 1998. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society, 1999, s. 335-338, bibliogr. 8 poz.

108/144
Nr opisu: 0000088125
Hybrid resistive layers NiCr-NiP for obtaining precision resistors.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, J. Kulawik.
W: XXIII Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Koszalin - Kołobrzeg, 21-23 September 1999. Proceedings. Koszalin : Technical University of Koszalin, 1999, s. 233-235, bibliogr. 3 poz.

109/144
Nr opisu: 0000007428
Niszczące i nieniszczące metody pomiaru profilu koncentracji domieszek w materiałach półprzewodnikowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Zesz. Nauk. PŚl., Mat. 1999 z. 87, s. 133-143, bibliogr. 11 poz.

110/144
Nr opisu: 0000088126
Optimization of heating's shape used in thick film lambda sond.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
W: XXIII Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Koszalin - Kołobrzeg, 21-23 September 1999. Proceedings. Koszalin : Technical University of Koszalin, 1999, s. 337-340, bibliogr. 4 poz.

111/144
Nr opisu: 0000088111
Some investigation of electrophysical properties of spin-on glasses.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński, Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik, Stanisław* Łoś.
W: Proceedings of the 22-nd Conference of the International Microelectronics and Packaging Society - Poland Chapter, Zakopane, 1-3 October, 1998. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society, 1999, s. 347-350, bibliogr. 4 poz.

112/144
Nr opisu: 0000088096
Badanie możliwości wykorzystania technologii grubowarstwowej do analizy zawartości tlenu w spalinach.
[Aut.]: Sławomir** Kończak, Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Dariusz* Urbańczyk, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE '98. V Konferencja naukowa, Jurata, 10-13 maja 1998. T. 2. [Sopot] : [GROT], [1998], s. 417-420, bibliogr. 18 poz.

113/144
Nr opisu: 0000026003
Examination of physical and chemical properties of thin layers of arsenic-silicon glasses by means of an X-ray microprobe.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, Michał** Żelechower.
W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 468-471, bibliogr. 4 poz. (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)

114/144
Nr opisu: 0000088106
Investigation on possibility of application thin spin-on glass films and zirconium ceramics in humidity sensors.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Zbigniew** Pruszowski, Jerzy Uljanow, Edyta Wróbel.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 265-267, bibliogr. 7 poz.

115/144
Nr opisu: 0000088105
Manufacturing of precision resistors based on Ni-P and Ni-W-P layers obtained by means of chemical reduction method.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, M. Cież, W. Grzesiak, Jerzy** Początek, J. Kulawik.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 249-252, bibliogr. 2 poz.

116/144
Nr opisu: 0000088107
Process optimization for annealing spin-on glass and anodic dielectric layers in MIS structures on GaAs.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Stanisław* Łoś.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 269-272, bibliogr. 3 poz.

117/144
Nr opisu: 0000088527
Properties and application of spin-on phosphorus glass as a basic material for humidity sensors.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Piotr Kowalik, Edyta Wróbel, Jerzy Uljanow.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 105

118/144
Nr opisu: 0000025583
Przyrządy półprzewodnikowe. Cz. 1: Podstawy działania diod i tranzystorów zadania.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Eugeniusz** Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 1998, 170 s., bibliogr. 22 poz.
(Skrypty Uczelniane ; [Politechnika Śląska] nr 2083 0434-0825)

119/144
Nr opisu: 0000088108
Some problems with application of spin-on dopant source in silicon technology.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 273-275, bibliogr. 4 poz.

120/144
Nr opisu: 0000026115
The influence of heating of silicon glasses and anodic oxides on their electrophysical properties.
[Aut.]: Stanisław* Łoś, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 450-454, bibliogr. 9 poz. (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)

121/144
Nr opisu: 0000024610
Zastosowanie organicznych połączeń tytanu i krzemu w technologii krzemowej.
[Aut.]: Stanisław* Krompiec, Jacek** Majewski, Danuta** Matysek-Majewska, Krzysztof Waczyński.
-Zesz. Nauk. PŚl., Chem. 1998 z. 137, s. 227-234, bibliogr. 7 poz.

122/144
Nr opisu: 0000028071
Diffusion from spin-on glasses.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 138-141, bibliogr. 9 poz. (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)

123/144
Nr opisu: 0000088048
Diffusion of antimony from spin-on sources of dopants.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
-Electron Technol. 1997 vol. 30 no. 4, s. 359-362, bibliogr. 3 poz.

124/144
Nr opisu: 0000003086
Dyfuzja antymonu z rozwirowywanych źródeł domieszek.
[Aut.]: Sławomir** Kończak, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
W: Technologia elektronowa. VI Konferencja naukowa. ELTE '97, Krynica, 6.05-9.05.1997. T. 1. Instytut Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie. Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza, 1997, s. 209-212, bibliogr. 3 poz.

125/144
Nr opisu: 0000028070
Evaluation of the usefulness of silica glass for the production of MIS structures with a double dielectric layer.
[Aut.]: Stanisław* Łoś, Krzysztof Waczyński.
W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 142-144, bibliogr. 8 poz. (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)

126/144
Nr opisu: 0000088112
Manufacturing of precision resistors based on Ni-P and Ni-W-P layers obtained by means of chemical reduction method.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, M. Cież, W. Grzesiak, Jerzy** Początek, J. Kulawik.
-Electron Technol. 1997 vol. 30 no. 4, 363-365, bibliogr. 5 poz.

127/144
Nr opisu: 0000088104
Modelling of dopant concentration distribution in silicon doped from spin-on glasses.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
W: Proceedings of the 20th Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Jurata, September 15-18, 1996. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Society for Hybrid Microelectronics, Poland-Chapter, 1997, s. 283-286, bibliogr. 8 poz.

128/144
Nr opisu: 0000003082
Parametry elektrofizyczne struktur MIS z GaAs z podwójnym dielektrykiem.
[Aut.]: Stanisław* Łoś, Krzysztof Waczyński.
W: Technologia elektronowa. VI Konferencja naukowa. ELTE '97, Krynica, 6.05-9.05.1997. T. 1. Instytut Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie. Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza, 1997, s. 599-601, bibliogr. 7 poz.

129/144
Nr opisu: 0000026672
Problemy związane ze stosowaniem rozwirowywanych źródeł domieszek w technologii krzemowej.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof Waczyński.
-Elektronika 1997 R. 38 nr 12, s. 15-20, bibliogr. 23 poz.

130/144
Nr opisu: 0000027899
Przyrządy półprzewodnikowe. Cz. 1: Podstawy działania diod i tranzystorów.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 1997, 259 s., bibliogr. 15 poz.
(Skrypt ; [Poliechnika Śląska] nr 2022 0434-0825)

131/144
Nr opisu: 0000003073
Technologia otrzymywania struktur MIS z dwuwarstwowym dielektrykiem.
[Aut.]: Stanisław* Łoś, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
W: Technologia elektronowa. VI Konferencja naukowa. ELTE '97, Krynica, 6.05-9.05.1997. T. 1. Instytut Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie. Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza, 1997, s. 234-237, bibliogr. 5 poz.

132/144
Nr opisu: 0000003070
Wytwarzanie rezystorów precyzyjnych na bazie warstw Ni-P oraz Ni-W-P otrzymywanych metodą chemicznej redukcji.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, M. Cież, W. Grzesiak, J. Początek.
W: Technologia elektronowa. VI Konferencja naukowa. ELTE '97, Krynica, 6.05-9.05.1997. T. 1. Instytut Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie. Kraków : Akademia Górniczo-Hutnicza, 1997, s. 299-302, bibliogr. 5 poz.

133/144
Nr opisu: 0000038240
Zastosowanie organicznych połączeń tytanu i krzemu w technologii krzemowej.
[Aut.]: Stanisław* Krompiec, Jacek** Majewski, Krzysztof Waczyński.
W: Program obchodów 50-lecia Wydziału Chemicznego Politechniki Śląskiej w Gliwicach, Gliwice, 20-22.04.1995. [Streszczenia posterów]. [B.m.] : [b.w.], 1995, s. 11

134/144
Nr opisu: 0000046258
Grubowarstwowe czujniki gazów na bazie ogniw elektrochemicznych ze stałym elektrolitem cyrkonowym (ZrO2).
[Aut.]: Krzysztof* Dąbrowski, Sławomir** Kończak, Krzysztof Waczyński.
W: Technologia elektronowa. V Konferencja naukowa. ELTE '94, Szczyrk, 20.04-23.04.1994. T. 2. Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej. Warszawa : Oficyna Wydaw. Politechniki Warszawskiej, 1994, s. 500-503, bibliogr. 5 poz.

135/144
Nr opisu: 0000003063
Hybrydyzacja układu kluczy sterowanych z ogranicznikiem prądowym.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, K. Dąbrowski, R. Puławski.
W: Technologia elektronowa. V Konferencja naukowa. ELTE '94, Szczyrk, 20.04-23.04.1994. T. 1. Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej. Warszawa : Oficyna Wydaw. Politechniki Warszawskiej, 1994, s. 378-381, bibliogr. 3 poz.

136/144
Nr opisu: 0000003062
Stanowisko do badania rozkładu rezystancji powierzchniowej na płytce krzemowej domieszkowanej ze źródeł SPIN-ON.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, K. Dąbrowski, G. Hunicz.
W: Technologia elektronowa. V Konferencja naukowa. ELTE '94, Szczyrk, 20.04-23.04.1994. T. 1. Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej. Warszawa : Oficyna Wydaw. Politechniki Warszawskiej, 1994, s. 382-385, bibliogr. 2 poz.

137/144
Nr opisu: 0000003050
Zastosowanie związków krzemoorganicznych w technologii elektronowej.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Stanisław* Łoś, Stanisław* Krompiec.
W: Technologia elektronowa. V Konferencja naukowa. ELTE '94, Szczyrk, 20.04-23.04.1994. T. 1. Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej. Warszawa : Oficyna Wydaw. Politechniki Warszawskiej, 1994, s. 386-389, bibliogr. 4 poz.

138/144
Nr opisu: 0000045060
Badania nad zastosowaniem szkliw domieszkowanych arsenem i antymonem w półprzewodnikowej technologii krzemowej.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Stanisław* Krompiec, Danuta** Matysek-Majewska.
-Zesz. Nauk. PŚl., Chem. 1993 z. 129, s. 95-111, bibliogr. 13 poz.

139/144
Nr opisu: 0000045059
Badania nad zastosowaniem szkliw domieszkowanych borem i fosforem w technologii półprzewodników krzemowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Stanisław* Krompiec, Danuta** Matysek-Majewska.
-Zesz. Nauk. PŚl., Chem. 1993 z. 129, s. 113-125, bibliogr. 14 poz.

140/144
Nr opisu: 0000045058
Badania nad zastosowaniem szkliwa planaryzującego w technologii krzemowej.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Stanisław* Krompiec, Stanisław* Łoś.
-Zesz. Nauk. PŚl., Chem. 1993 z. 129, s. 127-140, bibliogr. 17 poz.

141/144
Nr opisu: 0000061932
Podstawowe parametry elektrofizyczne szkliwa bezdomieszkowego w strukturze MIS.
[Aut.]: Stanisław* Łoś, Krzysztof Waczyński.
W: Technologia elektronowa. IV Konferencja naukowa. ELTE'90, [Książ, 11-14.09.1990]. Książ : [b.w.], 1990, s. 351-353, bibliogr. 4 poz.
PŚl. sygn. 96090

142/144
Nr opisu: 0000061742   
Patent. Polska, nr 151 168. Sposób wytwarzania rozwirowywanego źródła antymonu do dyfuzji planarnej w krzemie. Int. Cl. C30B 25/02, H01L 21/205.
Politechnika Śląska, Polska
Twórcy: Sławomir** Kończak, Krzysztof Waczyński, Teresa* Dobiech, Joachim** Gmyrek.
Zgłosz. nr P 264 594 z 11.03.1987. Opubl. 31.12.1990, 2 s.

143/144
Nr opisu: 0000061743   
Patent. Polska, nr 151 167. Sposób wytwarzania rozwirowywanego źródła arsenu albo fosforu do dufuzji planarnej w krzemie. Int. Cl. C30B 25/02, H01L 21/205.
Politechnika Śląska, Polska
Twórcy: Sławomir** Kończak, Teresa* Dobiech, Krzysztof Waczyński, Joachim** Gmyrek, Stanisław* Krompiec.
Zgłosz. nr P 264 595 z 11.03.1987. Opubl. 31.12.1990, 3 s.

144/144
Nr opisu: 0000065511
Rozwirowywane szkliwo bezdomieszkowe do planaryzacji.
[Aut.]: Sławomir** Kończak, Krzysztof Waczyński, Teresa* Dobiech.
W: Fizyka dla przemysłu. VI Konferencja, Gliwice, 14-16 września 1988. Materiały. Polskie Towarzystwo Fizyczne, Instytut Fizyki Politechniki Śląskiej w Gliwicach. Gliwice : [b.w.], 1988, s. 80, bibliogr. 3 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie