Wynik wyszukiwania
Zapytanie: WACZYŃSKA NATALIA
Liczba odnalezionych rekordów: 17



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/17
Nr opisu: 0000131364
Influence of ammonium tungstate (NH4)2WO4 additive in metallization baths on Ni-Cu-P resistive layer chemical composition.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Zbigniew** Pruszowski, Natalia Waczyńska-Niemiec, Piotr Kowalik, A. Czerwiński, J. Kulawik, Krzysztof Waczyński.
W: 13th Conference "Electron Technology" ELTE. 43rd International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland Conference, 4-6 September 2019, Wrocław, Poland. Technical digest. [Dokument elektroniczny]. Eds. Rafał Walczak, Karol Malecha. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter, 2019, pamięć USB (PenDrive) s. 149-150, bibliogr. 4 poz.

stop Ni-Cu-P ; metalizacja bezprądowa ; warstwa rezystywna

Ni-Cu-P alloy ; electroless metallization ; resistive layer

2/17
Nr opisu: 0000125188   
Borosilicate spray-on glass solutions for fabrication silicon solar cell back surface field.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, K. Drabczyk, Edyta Wróbel, P. Sobik, Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec.
-Microelectron. Int. 2018 vol. 35 iss. 3, s. 172-176, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.840. Punktacja MNiSW 20.000

pole powierzchni bocznej ; proces dyfuzyjny ; źródła domieszek ; krzemowe ogniwa słoneczne

back-surface field ; diffusion process ; dopant sources ; silicon solar cells

3/17
Nr opisu: 0000120570
Hydrogen sensing properties of SnO2 nanocrystalline thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow.
W: 41st International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland 2017 Conference, September 11-13, 2017, Warsaw. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2017, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-5, bibliogr. 20 poz.

spin-coating ; czujnik ; cienka powłoka ; nanopowłoka SiO2

spin-coating ; sensor ; thin film ; SnO2 nanostructure

4/17
Nr opisu: 0000123054   
Hydrogen sensing properties of SnO2 nanocrystalline thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow.
W: Proceedings of the 21st European Microelectronics Packaging Conference (EMPC 2017). Eds. Andrzej Dziedzic, Piotr Jasiński. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017, s. 1-5, bibliogr. 20 poz.

powlekanie wirowe ; nanostruktura SnO2 ; czujnik gazu ; cienka powłoka

spin coating ; SnO2 nanostructure ; gas sensor ; thin film

5/17
Nr opisu: 0000123061   
Influence of ammonium tungstate additive in metallization baths on Ni-Cu-P resistive layer properties.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec, A. Czerwiński, M. Płuska, J. Kulawik.
W: Proceedings of the 21st European Microelectronics Packaging Conference (EMPC 2017). Eds. Andrzej Dziedzic, Piotr Jasiński. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017, s.

stop Ni-Cu-P ; metalizacja bezprądowa ; warstwa rezystywna

Ni-Cu-P alloy ; electroless metallization ; resistive layer

6/17
Nr opisu: 0000104160   
Porous titania films fabricated via sol gel rout - optical and AFM characterization.
[Aut.]: Paweł Karasiński, E. Gondek, Sabina Drewniak, Anita Kajzer, Natalia Waczyńska-Niemiec, Marcin Basiaga, Weronika Izydorczyk, Y. E. L. Kouari.
-Opt. Mater. 2016 vol. 56, s. 64-70, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 2.238. Punktacja MNiSW 35.000

zol-żel ; zwilżalność ; przerwa energetyczna ; powłoka mezoporowata ; powłoka tytanowa

sol-gel ; wettability ; energy band gap ; mesoporous film ; titania film

7/17
Nr opisu: 0000100167
Badania derywatograficzne i z wykorzystaniem mikroskopii skaningowej cienkich warstw SnOx wytworzonych metodą rozwirowania roztworów SnCl4*5H2O+IPA.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec, Edyta Wróbel, Justyna Majewska, M. Libera.
W: Czternasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 08-12.06.2015]. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 40-46, bibliogr. 4 poz.

derywatografia ; rozwirowywanie ; sensoryczna warstwa dwutlenku cyny

derivatography ; spin-on ; sensitive film of tin dioxide

8/17
Nr opisu: 0000101652   
Badania derywatograficzne i z wykorzystaniem mikroskopii skaningowej cienkich warstw SnOx wytworzonych metodą rozwirowania roztworów SnCl4ˇ5H2O+IPA.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec, Edyta Wróbel, Justyna Majewska, M. Libera.
-Prz. Elektrot. 2015 R. 91 nr 9, s. 195-198, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

derywatografia ; roztwory SnCl4ˇ5H2O+IPA ; rozwirowywanie ; sensoryczna warstwa dwutlenku cyny

derivatography ; SnCl4ˇ5H2O+IPA solutions ; spinning ; sensoric layers of tin dioxide

9/17
Nr opisu: 0000101655   
Badania odpowiedzi sensorowej cienkich warstw oraz nanostruktur SnO2.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Jerzy Uljanow, Wiesław Domański, Janusz Mazurkiewicz.
-Prz. Elektrot. 2015 R. 91 nr 9, s. 199-203, bibliogr. 15 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

sensor ; cienka warstwa SnO2 ; czujnik rezystancyjny ; technologia RGTO ; termiczne osadzanie z fazy gazowej

sensor ; SnO2 thin film ; resistive sensor ; RGTO technology ; thermal vapour deposition

10/17
Nr opisu: 0000095577   
Electrical and optical properties of spin-coated SnO2 nanofilms.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Krzysztof Waczyński, Jacek Izydorczyk, Paweł Karasiński, Janusz Mazurkiewicz, Mirosław Magnuski, Jerzy Uljanow, Natalia Waczyńska-Niemiec, Wojciech Filipowski.
-Mater. Sci. Pol. 2014 vol. 32 no. 4, s. 729-736, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 0.507. Punktacja MNiSW 15.000

spin-coating ; spektroskopia UV-Vis ; dyfrakcja rentgenowska

spin-coating ; tin dioxide ; UV-Vis spectroscopy ; X-ray diffraction

11/17
Nr opisu: 0000088559
Electrical and optical properties of spin-coated SnO2 nanofilms.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Krzysztof Waczyński, Jacek Izydorczyk, Paweł Karasiński, Janusz Mazurkiewicz, Mirosław Magnuski, Jerzy Uljanow, Natalia Waczyńska-Niemiec, Wojciech Filipowski.
W: Proceedings of 37th International Microelectronics and Packaging IMAPS - CPMT, Poland Conference, Kraków, September 22-25, 2013. [Dokument elektroniczny]. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-5

12/17
Nr opisu: 0000082740
Optymalizacja technologii osadzania nanowarstw SnO2 metodą rozwirowywania z roztworów (spin-coating).
[Aut.]: Jacek Szuber, Krzysztof Waczyński, Monika Kwoka, Michał* Sitarz, Natalia Waczyńska-Niemiec, Piotr* Kościelniak.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 159
Pełny tekst na CD-ROM

SnO2 ; nanowarstwa ; spin-coating ; technologia osadzania

SnO2 ; nanolayer ; spin-coating ; deposition technology

13/17
Nr opisu: 0000065602   
Badanie właściwości cienkich warstw pasywujących z SiO2 w strukturze ogniwa fotowoltaicznego.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Natalia Waczyńska, K. Drabczyk, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 55-57, bibliogr. 3 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

fotowoltaika ; ogniwo fotowoltaiczne ; ogniwo słoneczne ; warstwa pasywująca

photovoltaics ; photovoltaic cell ; solar cell ; passivates layer

14/17
Nr opisu: 0000071525   
X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 913-917, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

dwutlenek cyny ; L-CVD ; powłoka cienka ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; profilowanie głębokościowe ; spektroskopia termodesorpcyjna ; chemia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD ; ultrathin film ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; depth profiling ; thermal desorption spectroscopy ; surface chemistry

15/17
Nr opisu: 0000063356   
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 1.795

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS

tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS

16/17
Nr opisu: 0000069313
XPS and TPD-MS Comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thien films.
[Aut.]: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Jacek Szuber.
W: VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010, s. 58

17/17
Nr opisu: 0000058962
Influence of substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, Jacek Szuber.
W: VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009. [B.m.] : [b.w.], 2009, s. 53

stosując format:
Nowe wyszukiwanie