Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ULJANOW JERZY
Liczba odnalezionych rekordów: 32



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/32
Nr opisu: 0000120570
Hydrogen sensing properties of SnO2 nanocrystalline thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow.
W: 41st International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland 2017 Conference, September 11-13, 2017, Warsaw. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2017, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-5, bibliogr. 20 poz.

spin-coating ; czujnik ; cienka powłoka ; nanopowłoka SiO2

spin-coating ; sensor ; thin film ; SnO2 nanostructure

2/32
Nr opisu: 0000123054   
Hydrogen sensing properties of SnO2 nanocrystalline thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow.
W: Proceedings of the 21st European Microelectronics Packaging Conference (EMPC 2017). Eds. Andrzej Dziedzic, Piotr Jasiński. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017, s. 1-5, bibliogr. 20 poz.

powlekanie wirowe ; nanostruktura SnO2 ; czujnik gazu ; cienka powłoka

spin coating ; SnO2 nanostructure ; gas sensor ; thin film

3/32
Nr opisu: 0000100168
Badania odpowiedzi sensorowej cienkich warstw oraz nanostruktur SnO2.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Weronika Izydorczyk, N. Niemiec, Jerzy Uljanow, Wiesław Domański, Janusz Mazurkiewicz.
W: Czternasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 08-12.06.2015]. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 59-65, bibliogr. 15 poz.

sensor ; warstwa cienka ; nanostruktura SnO2 ; czujnik rezystancyjny ; technologia RGTO ; termiczne osadzanie z fazy gazowej

sensor ; thin layer ; SnO2 nanostructure ; resistive sensor ; RGTO technology ; thermal vapour deposition

4/32
Nr opisu: 0000101655   
Badania odpowiedzi sensorowej cienkich warstw oraz nanostruktur SnO2.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Weronika Izydorczyk, Natalia Niemiec, Jerzy Uljanow, Wiesław Domański, Janusz Mazurkiewicz.
-Prz. Elektrot. 2015 R. 91 nr 9, s. 199-203, bibliogr. 15 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

sensor ; cienka warstwa SnO2 ; czujnik rezystancyjny ; technologia RGTO ; termiczne osadzanie z fazy gazowej

sensor ; SnO2 thin film ; resistive sensor ; RGTO technology ; thermal vapour deposition

5/32
Nr opisu: 0000095577   
Electrical and optical properties of spin-coated SnO2 nanofilms.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Krzysztof Waczyński, Jacek Izydorczyk, Paweł Karasiński, Janusz Mazurkiewicz, Mirosław Magnuski, Jerzy Uljanow, Natalia Waczyńska-Niemiec, Wojciech Filipowski.
-Mater. Sci. Pol. 2014 vol. 32 no. 4, s. 729-736, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 0.507. Punktacja MNiSW 15.000

spin-coating ; spektroskopia UV-Vis ; dyfrakcja rentgenowska

spin-coating ; tin dioxide ; UV-Vis spectroscopy ; X-ray diffraction

6/32
Nr opisu: 0000088559
Electrical and optical properties of spin-coated SnO2 nanofilms.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Krzysztof Waczyński, Jacek Izydorczyk, Paweł Karasiński, Janusz Mazurkiewicz, Mirosław Magnuski, Jerzy Uljanow, Natalia Waczyńska-Niemiec, Wojciech Filipowski.
W: Proceedings of 37th International Microelectronics and Packaging IMAPS - CPMT, Poland Conference, Kraków, September 22-25, 2013. [Dokument elektroniczny]. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-5

7/32
Nr opisu: 0000075515   
Electrical characterization of 1D SnO2 nanowires.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Jacek Izydorczyk, Janusz Mazurkiewicz, Mirosław Magnuski, Jerzy Uljanow.
W: 12th IEEE Conference on Nanotechnology. NANO'12, Birmingham, United Kingdom, 20-23 August 2012. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, s. 1-6, bibliogr. 40

8/32
Nr opisu: 0000050874
Crystalline structure research of SnO2 thin layer and their sensor properties in the oxide containing atmosphere.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow.
W: 32nd International IMAPS-IEEE CPMT Poland Conference, Warszawa - Pułtusk, 21-24 September 2008. Warszawa : Oficyna Wydaw. Politechniki Warszawskiej, 2008, s. 45
Pełny tekst na CD-ROM

9/32
Nr opisu: 0000076042
Response of an optimised SnO2-based gas sensor to oxygen.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz, Andrzej** Klimasek, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 183, bibliogr. 3 poz.

10/32
Nr opisu: 0000029267
Studies of chemical composition and response of the SnO2 based sensor structure to dry and humid synthetic air.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
W: XXX International Conference IMAPS Poland Chapter 2006, Kraków, 24-27 September 2006. Proceedings. Eds.: W. Zaraska, A. Cichocki, D. Szwagierczak. Kraków : Institute of Electron Technology. Cracow Division, [2006], s. 259-262

11/32
Nr opisu: 0000023294   
Studies of chemical composition and response of the SnO2 based sensor structure to dry and humid synthetic air.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
-Elektronika 2006 R. 47 nr 12, s. 5-6

12/32
Nr opisu: 0000021172
Badania nad opracowaniem modelowej konstrukcji czujnika gazu z sensoryczną warstwą SnO2.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, A. Strugacz, Jacek Szuber.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 379-384, bibliogr. 12 poz.

13/32
Nr opisu: 0000021169
Badania struktury wysepkowej cienkich warstw cyny wytworzonych techniką reotaksjalnego wzrostu.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, D. Jasiok.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 367-372, bibliogr. 6 poz.

14/32
Nr opisu: 0000021700   
On the correlation between morphology and gas sensing properties of RGTO SnO2 thin films.
[Aut.]: Jacek Szuber, Jerzy Uljanow, Teresa** Buczek-Karczewska, Wiesław Jakubik, Krzysztof Waczyński, Monika Kwoka, Sławomir** Kończak.
-Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 54-58, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.569

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie

tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation

15/32
Nr opisu: 0000020266
Response of an optimised SnO2-based gas sensor structure to changes of NO2 concentration in synthetic air.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz, Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: XXIX International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter. IMAPS Poland, Koszalin - Darłówko, 18-21 September 2005. Proceedings. Eds: P. Majchrzak [et al.]. [Kraków] : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 2005, s. 377-380

16/32
Nr opisu: 0000020269
Response of SnO2 sensor structure to changes of NO2 contained in synthetic air.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: International Workshop Control and Information Technology. IWCIT 2005, Ostrava, Czech Republic, September 15th-16th, 2005. Ostrava : Vysoka Skola Banska - Technicka Univerzita, 2005, s. 351-354

17/32
Nr opisu: 0000021304
Studies of island structure of SnO2 thin films grown with the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, Weronika Izydorczyk, D. Jasiok.
W: XXIX International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter. IMAPS Poland, Koszalin - Darłówko, 18-21 September 2005. Proceedings. Eds: P. Majchrzak [et al.]. [Kraków] : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 2005, s. 171-174

18/32
Nr opisu: 0000088549   
Study of the structure of the SnO2 thin films obtained by the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
-Phys. Chem. Solid State 2005 vol. 6 no. 4, s. 680-684, bibliogr. 5 poz.

materiały nanowęglowe ; nanorurki węglowe ; obróbka termochemiczna

nanocarbon materiale ; carbon nanotubes ; thermochemical treatment

19/32
Nr opisu: 0000013979   
Badania nad optymalizacją technologii wytwarzania cienkich warstw dwutlenku cyny SnO2 metodą RGTO w aspekcie zastosowań sensorowych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Jerzy Uljanow.
Gliwice, 2004, 117 s., bibliogr. 53 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek Szuber

20/32
Nr opisu: 0000013922
Microscopic and X-ray diffraction study of the structure of the SnO2 thin films obtained by the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: VIII Electron Technology Conference. ELTE 2004, Stare Jabłonki, 19-22.04.2004. Book of extended abstracts. Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, 2004, s. 156

21/32
Nr opisu: 0000009176
Badania struktury warstw SnO2 wytworzonych techniką RGTO.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 109-114, bibliogr. 6 poz.

22/32
Nr opisu: 0000088545
Optimisation of morphology SnO2 thin films grown by RGTO method.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, T. Karczewska-Buczek, Krzysztof Waczyński, Dorota* Koziej, Jacek Szuber.
W: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002. Lausanne : Elsevier, 2003, s. 53 (Thin Solid Films ; vol. 436, iss. 1 0040-6090). Impact Factor 0.598

23/32
Nr opisu: 0000004837
Technologie mikroelektroniczne. Laboratorium technik warstwowych. Praca zbiorowa. Pod red. K. Waczyńskiego.
[Aut.]: K. Drabczyk, Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2003, 186 s., bibliogr. 35 poz.
Skrypt nr 2303

24/32
Nr opisu: 0000003036
Badania nad optymalizacją technologii reotaksjalnego wzrostu cienkich warstw cyny w zastosowaniu do struktur sensorowych.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE 2002. VII Konferencja naukowa, Rzeszów, 5-8 czerwca 2002. Materiały konferencyjne. T. 1. Rzeszów : Oficyna Wydaw. Politechniki Rzeszowskiej, 2002, s. 173-178, bibliogr. 6 poz.

25/32
Nr opisu: 0000088530
Study of the structure of the SnO2 thin films obtained by the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński.
W: XXVI International Conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter. IMAPS'2002 , Warsaw, 25-27 September 2002. Proceedings. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 2002, s. 213-216

26/32
Nr opisu: 0000002543
Własności sensorowe cienkich warstw SnO2 wykonanych metodą RGTO.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, Wiesław Jakubik.
W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - Dźwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 91-96, bibliogr. 15 poz.

27/32
Nr opisu: 0000088528
Badania nad stabilnością sensorycznych warstw dwutlenku cyny technologią RTGO (Rheotaxial Growth and Thermal Oxidation).
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, T. Karczewska-Buczek.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2000. VII Konferencja naukowa, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000. [Dokument elektroniczny]. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2000, dysk optyczny (CD-ROM) MS11

28/32
Nr opisu: 0000000124
Microscopic study of the structure of the SnO2 thin films obtained by RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: Optoelectronic and electronic sensors IV. [Conference], Gliwice, Poland, 13-16 June 2000. Ed. J. Frączek. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2000, s. 26-31, bibliogr. 3 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 4516 0277-786X)

29/32
Nr opisu: 0000088529
Microscopic study of the structure of the SnO2 thin films obtained by the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: XXIV International Conference IMAPS - Poland 2000, Rytro, 25-29 September 2000. Proceedings. Kraków : Research and Development Centre for Hybrid Microelectronics and Resistors, 2000, s. 247-254

30/32
Nr opisu: 0000017977
Mikroskopowe badania struktury warstw SnO2 wytworzonych techniką RGTO.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE'2000. VI Konferencja naukowa, Gliwice, 13-16 czerwca 2000. T. 1: Prezentacje sesyjne. Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach. Gliwice : Komisja Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, 2000, s. 112-123, bibliogr. 6 poz. (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach ; Seria: Konferencje ; nr 2)

31/32
Nr opisu: 0000088106
Investigation on possibility of application thin spin-on glass films and zirconium ceramics in humidity sensors.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Zbigniew** Pruszowski, Jerzy Uljanow, Edyta Wróbel.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 265-267, bibliogr. 7 poz.

32/32
Nr opisu: 0000088527
Properties and application of spin-on phosphorus glass as a basic material for humidity sensors.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Piotr Kowalik, Edyta Wróbel, Jerzy Uljanow.
W: Proceedings of the 21-st Conference of the International Society for Hybrid Microelectronics - Poland Chapter, Ustroń, 5-8 October, 1997. Ed. by M. Łukaszewicz, M. Kramkowska. Wrocław : International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter, 1998, s. 105

stosując format:
Nowe wyszukiwanie