Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SKWAREK A
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000132073   
Metoda otrzymywania ε-kaprolaktonu przez chemo-enzymatyczne utlenianie cykloheksanonu w emulsji.
[Aut.]: Magdalena Sitko, Anna Szelwicka, M. Szmatoła, A. Skwarek, L. Schimmelpfennig, K. Dziuba, M. Morawiec-Witczak, J. Iłowska, Anna Chrobok.
-Przem. Chem. 2019 t. 98 nr 10, s. 1587-1593, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 0.428. Punktacja MNiSW 40.000

laktony ; cykloheksanon ; epsilon-kaprolakton

lactones ; cyclohexanone ; epsilon-caprolactone

2/6
Nr opisu: 0000132025
Perdecanoic acid as a safe and stable medium-chain peracid for Baeyer-Villiger oxidation of cyclic ketones to lactones.
[Aut.]: Magdalena Sitko, Anna Szelwicka, Andrzej** Wojewódka, A. Skwarek, D. Tadasiewicz, L. Schimmepfennig, K. Dziuba, M. Morawiec-Witczak, Anna Chrobok.
-RSC Adv. 2019 vol. 9 iss. 51, s. 30012-30018, bibliogr. 17 poz.. Impact Factor 3.049. Punktacja MNiSW 100.000

3/6
Nr opisu: 0000131295
Skuteczność w zarządzaniu współczesnymi organizacjami - wybrane aspekty. Red. nauk. Monika Bednarczyk, Krzysztof Czyrka, Albin Skwarek.
Gorzów Wielkopolski : Wydaw. Naukowe Akademii im. Jakuba z Paradyża, 2019, 178 s.
(Studia i Prace Wydziału Ekonomicznego ; Akademia im. Jakuba z Paradyża w Gorzowie Wielkopolskim nr 17)
Publikacja nie należy do bibliografii Uczelni

4/6
Nr opisu: 0000065603   
Efektywne wartości współczynnika dyfuzji dla modelu domieszkowania dyfuzyjnego warstwy emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, A. Skwarek, K. Drabczyk.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 57-59, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

struktura fotowoltaiczna ; ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; symulacja komputerowa

photovoltaic structure ; solar cell ; emitter layer ; computer simulation

5/6
Nr opisu: 0000059507   
Analiza występowania wiskerów na powierzchni wysokocynowych stopów lutowniczych poddanych działaniu skrajnych warunków środowiskowych.
[Aut.]: A. Skwarek, K. Witek, M. Płuska, A. Czerwiński, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 103-106, bibliogr. 8 poz.

stop lutowniczy ; wisker ; stop wysokocynkowy

soldering alloy ; whisker ; tin-rich alloy

6/6
Nr opisu: 0000082620
Analiza występowania wiskerów na powierzchni wysokocynowych stopów lutowniczych poddanych działaniu skrajnych warunków środowiskowych.
[Aut.]: A. Skwarek, K. Witek, Wojciech Filipowski, M. Płuska, A. Czerwiński.
W: Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 23
Pełny tekst na CD-ROM

wisker ; stop lutowniczy ; narażenia klimatyczne

whisker ; soldering alloy ; climatic stresses

stosując format:
Nowe wyszukiwanie