Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SKOCZEK E
Liczba odnalezionych rekordów: 7



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu: 0000073603
Badania topografii i grubości warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga, E. Skoczek.
W: Zastosowania elektromagnetyzmu w nowoczesnych technikach i informatyce. XXII Sympozjum środowiskowe PTZE, Sandomierz, 9-12 września 2012. PTZE Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu [ i in.]. Warszawa : Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu, 2012, s. 203-205

stop Ti6Al4V ; warstwa pasywna ; biomateriał metalowy ; topografia

Ti6Al4V alloy ; passive layer ; metallic biomaterial ; topography

2/7
Nr opisu: 0000073913   
Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych.
[Aut.]: E. Skoczek, J. Cisowski, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, B. Jarząbek.
-Mater. Ceram. 2012 R. 64 nr 2, s. 282-285, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

cienka warstwa krzemowa ; podłoże krzemowe ; porowata krzemionka ; zol-żel ; elipsometria spektroskopowa

thin silica film ; silicon substrate ; porous silica ; sol-gel ; spectroscopic ellipsometry

3/7
Nr opisu: 0000076148   
Topografia i grubość warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga, J. Kurzyk, E. Skoczek, Zbigniew Paszenda.
-Prz. Elektrot. 2012 R. 88 nr 12b, s. 228-231, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

stop Ti-6Al-4V ; biomateriały ; warstwa pasywna ; światło ; rozpraszanie ; warstwa cienka ; optyka cienkich warstw

Ti6Al4V alloy ; biomaterials ; passive layer ; light ; scattering ; thin film ; thin films optics

4/7
Nr opisu: 0000068198   
Ellipsometric and spectrophotometric investigations of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: E. Skoczek, J. Jaglarz, Paweł Karasiński.
-Acta Phys. Pol. A 2011 vol. 120 no. 4, s. 732-735, bibliogr. 12 poz.. Impact Factor 0.444. Punktacja MNiSW 15.000

metoda zol-żel ; warstwa krzemionkowa ; SiO2

sol-gel method ; silica thin film ; SiO2

5/7
Nr opisu: 0000087947
Ellipsometric and spectrophotometric investigations of the optical properties of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: E. Skoczek, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, J. Mazur.
W: Integrated optics - sensors, sensing structures and methods. IOS 2011, Szczyrk - Beskidy Mountains, Poland, 28th February to 4th March 2011. Program. [B.m.] : [b.w.], 2011, s. [24]

6/7
Nr opisu: 0000067731   
Optical properties of silica antireflective films formed in sol-gel processes.
[Aut.]: J. Jaglarz, Paweł Karasiński, E. Skoczek.
-Phys. Status Solidi, C Curr. Top. Solid State Phys. 2011 vol. 8 iss. 9, s. 2645-2648, bibliogr. 9 poz.

antyrefleksyjna powłoka ; krzemionka porowata ; elipsometria ; zol-żel

antireflective coating ; porous silica ; ellipsometry ; sol-gel

7/7
Nr opisu: 0000067997   
Porous silica xerogel films as antireflective coatings. Fabrication and characterization.
[Aut.]: Paweł Karasiński, J. Jaglarz, M. Reben, E. Skoczek, Jacek* Mazur.
-Opt. Mater. 2011 vol. 33 iss. 12, s. 1989-1994, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 2.023. Punktacja MNiSW 30.000

krzemionka porowata ; zol-żel ; powłoka antyrefleksyjna

porous silica ; sol-gel ; antireflective coating

stosując format:
Nowe wyszukiwanie