Wynik wyszukiwania
Zapytanie: RUTKOWSKI JERZY
Liczba odnalezionych rekordów: 183



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/183
Nr opisu: 0000124078   
Effective computer-assisted assessment: challenges and solutions.
[Aut.]: Katarzyna Mościńska, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of 2018 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), 17-20 April, 2018, Santa Cruz de Tenerife, Canary Islands, Spain. Piscataway : IEEE, 2018, s. 989-978, bibliogr. 18 poz.

ocenianie wspomagane komputerowo ; ocena formatywna ; ocena sumatywna ; nauczanie wspomagane technologią ; nauka samodzielna

computer assisted assessment ; formative assessment ; summative assessment ; technology enhanced learning ; self-directed learning

2/183
Nr opisu: 0000106542   
Evaluation of the correlation between formative tests and final exam results. Theory of Information Approach.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Int. J. Electron. Telecommun. 2016 vol. 62 no. 1, s. 55-60, bibliogr. 16 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

nauczanie wspomagane technologią ; ocenianie wspomagane komputerowo

technology enhanced learning ; computer assisted assessment

3/183
Nr opisu: 0000099173   
Identification of circuit parameters for the specified or measured performances.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 95-100, bibliogr. 13 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

układ analogowy ; identyfikacja parametrów ; diagnostyka uszkodzeń

analog circuit ; parameter identification ; fault diagnosis

4/183
Nr opisu: 0000104901
Moodle-based computer-assisted assessment in flipped classroom.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Smart education and smart e-learning. 2nd International KES conference, Sorrento, Italy, June 17-19, 2015. Eds.: Vladimir L. Uskov, Robert J. Howlett, Lakhmi C. Jain. Berlin : Springer, 2015, s. 37-46, bibliogr. 16 poz. (Smart Innovation, Systems and Technologies ; vol. 41 2190-3018)

nauczanie wspomagane technologią ; ocenianie wspomagane komputerowo

technology enhanced learning ; computer assisted assessment ; flip teaching

5/183
Nr opisu: 0000113908
Flipped classroom - from experiment to practice.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Smart Digital Futures 2014. KES International Conference on Smart Digital Futures (SDF), Chania, Greece, June 18-20 2014. Ed. R. Neves-Silva, G. A. Tsihrintzis, V. Uskov, R. J. Howlett, L. C. Jain. Amsterdam : IOS Press, 2014, s. 565-574 (Frontiers in Artificial Intelligence and Applications ; 262 0922-6389)

6/183
Nr opisu: 0000082465   
Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2012 vol. 60 no. 1, s. 133-142, bibliogr. 38 poz.. Impact Factor 0.980. Punktacja MNiSW 30.000

analogowy układ scalony ; diagnozowanie usterek ; lokalizacja ; identyfikacja ; algorytm ewolucyjny

analogue integrated circuit ; fault diagnosis ; localization ; identification ; evolutionary algorithm

7/183
Nr opisu: 0000083530
From traditional lecture to video-podcast based lecture.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska.
W: Proceedings of the 15th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education. CATE 2012, Napoli, Italy, June 25-27, 2012. Ed. Vladimir Uskov. Anaheim : Acta Press, 2012, s. 133-140

8/183
Nr opisu: 0000083527
Increasing teaching efficiency - are they ready for new technology?.
[Aut.]: Katarzyna Mościńska, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 15th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education. CATE 2012, Napoli, Italy, June 25-27, 2012. Ed. Vladimir Uskov. Anaheim : Acta Press, 2012, s. 170-176

9/183
Nr opisu: 0000083226   
Rethinking e-assessment in a core engineering course.
[Aut.]: Katarzyna Mościńska, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 2012 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), Marrakech, Morocco, 17-20 April 2012 r [online]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, (plik PDF) s. 1-4, bibliogr. 11 poz.
Dostępny w Internecie: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6201136 [dostęp 13 maja 2012]

blended learning ; ocena sumatywna ; ocena formatywna

blended learning ; summative assessment ; formative assessment

10/183
Nr opisu: 0000071090   
Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
-Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 73-84, bibliogr. 20 poz.. Impact Factor 0.982. Punktacja MNiSW 20.000

obliczenia ewolucyjne ; testowanie układu analogowego ; nieszczelność izolacji

evolutionary computations ; analogue circuit testing ; fault isolation

11/183
Nr opisu: 0000071521   
A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.244. Punktacja MNiSW 15.000

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network

12/183
Nr opisu: 0000069623   
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 65-68, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

elektronika analogowa ; układ analogowy ; triangulacja Delaunaya ; testowanie sterowane specyfikacją

analogue electronics ; analogue circuit ; Delaunay's triangulation ; specification driven testing

13/183
Nr opisu: 0000081583   
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489

analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne ; czas odpowiedzi

analogue electronic circuits ; functional testing ; response time

14/183
Nr opisu: 0000083507   
Barriers to introduction of e-learning: a case study.
[Aut.]: Katarzyna Mościńska, Jerzy** Rutkowski.
W: Learning environments and ecosystems in engineering education. 2011 IEEE Global Engineering Education Conference (EDUCON), Amman, Jordan, 04-06 April 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 460-465, bibliogr. 8 poz.

e-learning ; system zarządzania nauczaniem ; innowacja ; edukacja ; pedagogika

e-learning ; Learning Management Systems ; innovation ; education ; pedagogy

15/183
Nr opisu: 0000083262   
Blended engineering course - electric circuit theory case study.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska.
W: 2011 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS, Rio de Janeiro, Brazil, 15-18. May 2011. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 333-336, bibliogr. 7 poz.

animacja ; teoria obwodów ; komputer ; edukacja ; zintegrowane modelowanie obiegu ; materiały ; oprogramowanie

animation ; circuit theory ; computer ; education ; integrated circuit modeling ; materials ; software

16/183
Nr opisu: 0000068427   
Czwórnikowa metoda testowania 4-tBT analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 76-79, bibliogr. 7 poz.. Impact Factor 0.244. Punktacja MNiSW 15.000

czwórnikowa metoda testowania ; 4-tBT ; uszkodzenie katastroficzne

4-terminal based test ; 4-tBT ; catastrophic fault

17/183
Nr opisu: 0000082608
Czwórnikowa metoda testowania N-tBT analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 229
Pełny tekst na CD-ROM

czwórnikowa metoda testowania ; N-tBT ; uszkodzenie katastroficzne

4-terminal based test ; N-tBT ; catastrophic fault

18/183
Nr opisu: 0000083511
How to encourage digital natives to "analog courses".
[Aut.]: Katarzyna Mościńska, Jerzy** Rutkowski, Piotr* Jantos.
W: International Conference on Engineering Education. ICEE'2011. Belfast, 21-26.08.2011 Proceedings. [Dokument elektroniczny]. Belfast : [b.w.], 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6

19/183
Nr opisu: 0000083522
Links between technology-based education and engineering education research - Electric Circuit Theory case study.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska.
W: Proceedings of the 14th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education. CATE 2011, Cambridge, July 11-13, 2011. Ed. V. Uskov. Anaheim : Acta Press, 2011, s. 152-159

20/183
Nr opisu: 0000082617
Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 236
Pełny tekst na CD-ROM

diagnostyka uszkodzeń ; elektronika analogowa ; algorytm genetyczny ; tolerancja elementów ; uszkodzenie katastroficzne ; lokalizacja uszkodzeń

fault diagnosis ; analogue electronics ; genetic algorithm ; components tolerance ; catastrophic fault ; fault location

21/183
Nr opisu: 0000070646   
Testowanie elektronicznych układów analogowych z wykorzystaniem wielowymiarowej przestrzeni poszukiwań i algorytmów zbiorowej inteligencji. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł.
Gliwice, 2011, 157 k., bibliogr.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

układ analogowy ; algorytm zbiorowej inteligencji ; układ elektroniczny

analogue circuit ; collective intelligence algorithm ; electronic system

22/183
Nr opisu: 0000082610
Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 231
Pełny tekst na CD-ROM

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analog electronic circuit ; artificial neural network

23/183
Nr opisu: 0000068432   
Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 159-163, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 0.244. Punktacja MNiSW 15.000

diagnostyka uszkodzeń ; elektronika analogowa ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny

fault diagnosis ; analogue electronics ; components tolerance ; genetic algorithm

24/183
Nr opisu: 0000082611
Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 232
Pełny tekst na CD-ROM

analogowy układ elektroniczny ; testowanie układu analogowego ; obliczenia ewolucyjne ; gęstość widmowa ; szereg Fouriera

analog electronic circuit ; analogue circuit testing ; evolutionary computations ; spectral density ; Fourier series

25/183
Nr opisu: 0000069301   
An analogue electronic circuits diagnosis with the use of evolutionary algorithms.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 289-292, bibliogr. 12 poz.

26/183
Nr opisu: 0000063371   
An analogue integrated circuits yield optimisation with the use of genetic algorithm.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 293-296, bibliogr. 12 poz.

27/183
Nr opisu: 0000063360   
Analog IC fault diagnosis by means of supply current monitoring in test points selected evolutionarily.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 397-400, bibliogr. 7 poz.

28/183
Nr opisu: 0000067364   
Application of Bloom's taxonomy for increasing teaching efficiency - case study.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska, Piotr* Jantos.
W: International Conference on Engineering Education. ICEE'2010, Gliwice, Poland, July 18-22, 2010. Proceedings. [Dokument elektroniczny]. Gliwice : Silesian University of Technology, 2010, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6, bibliogr. 9 poz.

teoria obwodów ; taksonomia Blooma ; blended learning

circuit theory ; Bloom's taxonomy ; blended learning

29/183
Nr opisu: 0000069954
Barriers to innovation in e-pedagogy: a case study.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska.
W: Proceedings of the 13th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education, Maui, USA, August 23-25, 2010. Ed. V. Uskov. Anaheim : Acta Press, 2010, s. 147-151

30/183
Nr opisu: 0000059491   
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 17-20, bibliogr. 6 poz.

genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony

genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit

31/183
Nr opisu: 0000082627
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 48
Pełny tekst na CD-ROM

genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony

genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit

32/183
Nr opisu: 0000070254
Diagnostyka globalnych uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach scalonych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 45
Pełny tekst na CD-ROM

analogowy układ scalony ; algorytm ewolucyjny ; diagnostyka

analog integrated circuit ; evolutionary algorithm ; diagnostics

33/183
Nr opisu: 0000061264   
Multidimensional search space in testing and diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2010 R. 86 nr 11a, s. 251-255, bibliogr. 11 poz.. Impact Factor 0.242

wielowymiarowa przestrzeń poszukiwań ; układ analogowy ; PSO ; diagnostyka

multidimensional search space ; analog circuit ; particle swarm optimization ; diagnosis

34/183
Nr opisu: 0000063214   
PCA application to frequency reduction for fault diagnosis in analog and mixed electronic circuit.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
W: Nano-bio circuit fabrics and systems. IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS, Paris, France, May 30th - June 2nd, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 1919-1922, bibliogr. 6 poz.

35/183
Nr opisu: 0000063512   
Searching groups and layouts in N-terminal based test method using heuristic PSO algorithm.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 217-220, bibliogr. 3 poz.

36/183
Nr opisu: 0000059493   
Synteza impedancji dwójnika pasywnego RLC z wykorzystaniem algorytmu programowania genetycznego.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 24-28, bibliogr. 8 poz.

dwójnik ; impedancja ; programowanie genetyczne

two-terminal network ; impedance ; genetic programming

37/183
Nr opisu: 0000063340   
Testing analog electronic circuits using N-terminal network.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 177-180, bibliogr. 7 poz.

układ analogowy ; testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; filtracja

analog circuit ; circuit testing ; fault diagnosis ; filtering

38/183
Nr opisu: 0000069290
The use of field programmable analog array for heart beat detection.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the Seventh IASTED International Conference on Biomedical Engineering, Innsbruck, Austria, February 17-19, 2010.. Vol. 1. Ed. A. Hierlemann. Anaheim : Acta Press, 2010, s. 109-113

39/183
Nr opisu: 0000063337   
The use of FPAA in signal processing laboratory for biomedical engineering students.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 453-456, bibliogr. 6 poz.

40/183
Nr opisu: 0000062783   
Wykorzystanie układu FPAA w laboratorium przetwarzania sygnałów dla studentów kierunku inżynieria biomedycznych.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 95-98, bibliogr. 6 poz.

przetwarzanie sygnałów ; inżynieria biomedyczna ; e-learning ; ćwiczenia laboratoryjne

signal processing ; biomedical engineering ; e-learning ; laboratory exercises

41/183
Nr opisu: 0000062781   
Zastosowanie algorytmu genetycznego do optymalizacji uzysku analogowych układów scalonych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 84-86, bibliogr. 12 poz.

analiza Monte Carlo ; technologia CMOS ; algorytm genetyczny

Monte Carlo analysis ; CMOS technology ; genetic algorithm

42/183
Nr opisu: 0000056513   
A global parametric faults diagnosis with the use of artificial neural networks.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 651-654, bibliogr. 11 poz.

sztuczna sieć neuronowa ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ scalony

artificial neural network ; fault diagnosis ; analog integrated circuit

43/183
Nr opisu: 0000056507
Analog circuit state identification by means of differential evolution.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, Łódź, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 509-512

44/183
Nr opisu: 0000087534
Blended Education at Large Technical University Located in Highly Urbanized Metropolitan Region.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska, Piotr Kłosowski.
-J. Educ. Informat. Cybern. 2009 vol. 1 no. 3, s. 42-47, bibliogr. 12 poz.

zaawansowana technologia w edukacji ; rozwój kadry ; e-learning

advanced technology in education ; development of staff ; e-learning

45/183
Nr opisu: 0000056508
Classification of analog circuit states using PSO in the multidimensional space of solutions.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, Łódź, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 513-518

46/183
Nr opisu: 0000055513   
Diagnostyka uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach elektronicznych z wykorzystaniem metod sztucznej inteligencji. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Piotr* Jantos.
Gliwice, 2009, 161 k., bibliogr. 71 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

diagnostyka ; układ analogowy ; słownik uszkodzeń ; sztuczna inteligencja

diagnostics ; analog circuit ; dictionary of damages ; artificial intelligence

47/183
Nr opisu: 0000052095   
Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2009 R. 85 nr 11, s. 135-138, bibliogr. 7 poz.. Impact Factor 0.196

diagnostyka układów analogowych ; ewolucja różnicowa ; transmitancja operatorowa

analog fault diagnosis ; differential evolution ; transfer function

48/183
Nr opisu: 0000051444
Ewolucyjna metoda identyfikacji stanu liniowego układu analogowego.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Ósma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 07-10 czerwca 2009]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2009, s. 58
Pełny tekst na CD-ROM

49/183
Nr opisu: 0000055677   
Fault diagnosis in analog electronic circuits - the SVM approach.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Metrol. Meas. Syst. 2009 vol. 16 nr 4, s. 582-597, bibliogr. 29 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; obwód elektroniczny ; Maszyna Wektorów Nośnych ; SVM

fault diagnosis ; electronic circuit ; Support Vector Machine ; SVM

50/183
Nr opisu: 0000054333   
Global parametric fault identification in analog electronic circuits.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Metrol. Meas. Syst. 2009 vol. 16 nr 3, s. 391-402, bibliogr. 23 poz.

uszkodzenia parametryczne ; identyfikacja ; sztuczna sieć neuronowa

parametric faults ; identification ; artificial neural network

51/183
Nr opisu: 0000056441   
Global parametric faults identification with the use of differential evolution.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 222-225, bibliogr. 10 poz.

analogowy układ scalony ; diagnostyka uszkodzeń ; wzmacniacz operacyjny

analog integrated circuit ; fault diagnosis ; operational amplifier

52/183
Nr opisu: 0000058974
ICT supported engineering course - case study and guidelines.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska.
W: 12th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education. (CATE 2009), St. Thomas, US Virgin Islands, 22-24 November 2009. Ed. V. Uskov. Red Hook : Curran, 2010, s. 129-136

53/183
Nr opisu: 0000056512   
Multidimensional search space for catastrophic faults diagnosis in analog electronic circuits.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 555-558, bibliogr. 6 poz.

błąd katastrofalny ; algorytm roju cząstek ; przestrzeń wielowymiarowa ; tester

catastrophic fault ; particle swarm algorithm ; multidimensional space ; tester

54/183
Nr opisu: 0000056514   
Specialised aperiodic excitation and wavelet transform improves analogue fault diagnosis.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 655-658, bibliogr. 5 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; detekcja uszkodzeń ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny ; elektronika analogowa

fault diagnosis ; fault detection ; wavelet transform ; genetic algorithm ; analogue electronics

55/183
Nr opisu: 0000059062
Specialised excitation and wavelet transform in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: II International Interdisciplinary Technical Conference of Young Scientist. InterTech 2009, Poznań, Poland, 20-22 May 2009. Proceedings. Ed. W. Karpiuk, K. Wiśniewski. Uczelniany Samorząd Doktorantów Politechniki Poznańskiej. Poznań : Uczelniany Samorząd Doktorantów Politechniki Poznańskiej, 2009, s. 138-142

56/183
Nr opisu: 0000055481   
Testowanie analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem dedykowanych pobudzeń aperiodynycznych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk.
Gliwice, 2009, 137 k., bibliogr. 93 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

układ analogowy ; algorytm genetyczny ; transformata falkowa ; detekcja uszkodzeń

analog circuit ; genetic algorithm ; wavelet transform ; fault detection

57/183
Nr opisu: 0000052106   
Wykorzystanie algorytmu PSO w diagnostyce analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 57-59, bibliogr. 5 poz.

optymalizacja rojem cząstek ; PSO ; analogowy układ elektroniczny

particle swarm optimization ; PSO ; analog electronic circuit

58/183
Nr opisu: 0000071585
Blended education at large technical university located in highly urbanized metropolitan region.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska, Piotr Kłosowski.
W: The 2nd International Multi-Conference on Society, Cybernetics and Informatics. IMSCI '08, Orlando, USA, June 29th - July 2nd, 2008 [consisting of 6th International Conference on Education and Information Systems, Technologies and Applications (EISTA), 4th International Conference on Social and Organizational Informatics and Cybernetics (SOIC), 6th International Conference on Politics and Information Systems, Technologies and Applications (PISTA)]. Proceedings. Orlando : International Institute of Informatics and Systemics, 2008, s. 160-165

59/183
Nr opisu: 0000050793
Diagnosis of specification parametric faults in the FPAA - the RBF neural network approach.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: New aspects on computing research. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008, s. 275-280, bibliogr. 8 poz.

60/183
Nr opisu: 0000043106   
Dopasowanie impedancyjne w systemach radiowej identyfikacji RFID na przykładzie układu TRF7960.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 155-158, bibliogr. 6 poz.

dopasowanie impedancyjne ; RFID ; identyfikacja radiowa ; antena ; TRF7960

impedance matching ; RFID ; radio frequency identification ; antenna ; TRF7960

61/183
Nr opisu: 0000050168
Estimation of the FPAA specification with use of the Artificial Neural Network.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of [6th] IEEE East-West Design and Test Symposium. EWDTS'08, Lviv, Ukraine, October 9-12, 2008. Kharkov : SPD FL Stepanov V.V., 2008, s. 219-222

62/183
Nr opisu: 0000038042   
Evolutionary methods to analogue electronic circuits yield optimisation.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2008 vol. 56 no. 1, s. 9-16, bibliogr. 8 poz.

algorytm ewolucyjny ; wydajność parametryczna ; koszt produkcji ; optymalizacja ; koszt obliczeniowy

evolutionary algorithm ; parametric yield ; production cost ; optimization ; computation cost

63/183
Nr opisu: 0000048021   
Excitation optimization in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 279-282, bibliogr. 9 poz.

układ analogowy ; diagnostyka błędów ; symulacja obwodów elektronicznych ; transformata falkowa

analog circuit ; fault diagnosis ; circuit system simulation ; wavelet transform

64/183
Nr opisu: 0000050448
Five years of Faculty Distant Education Platform - how it changed education process.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska, Piotr Kłosowski.
W: Globalization of education through advanced technology. Proceedings of the 11th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education. [CATE 2008], Crete, Greece, September 29 - October 01, 2008,. Ed. V. Uskov. Anaheim : Acta Press, 2008, s. 94-99

65/183
Nr opisu: 0000050791
Global parametric faults in analogue integrated circuits: two approaches to classification with the use of differential evolution.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: New aspects on computing research. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008, s. 281-286, bibliogr. 9 poz.

66/183
Nr opisu: 0000043102   
Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 122-125, bibliogr. 11 poz.

analogowy układ scalony ; testowanie ; globalne uszkodzenie parametryczne ; diagnostyka uszkodzeń

analog integrated circuit ; testing ; global parametric fault ; fault diagnosis

67/183
Nr opisu: 0000038044   
Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2008 vol. 56 no. 1, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.

analogowy układ elektroniczny ; analogowy układ scalony ; logika rozmyta ; ekspresja genów ; algorytm genetyczny ; wyżarzanie

analog electronic circuit ; analog integrated circuit ; fuzzy logic ; gene expression ; genetic algorithm ; annealing

68/183
Nr opisu: 0000041232
Impedance matching concepts in RF systems based on TRF7960 example.
[Aut.]: P. Kozioł, Damian Grzechca, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: The Seventh International PhD Students' Workshop Control and Information Technology. IWCIT'08, Gliwice, 18-19 September 2008. Silesian University of Technology. Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science. Institute of Electronics. [Gliwice] : [Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2008, s. 72-77, bibliogr. 6 poz.
Toż na CD-ROM

69/183
Nr opisu: 0000049055   
Optimization of PWL analog testing excitation by means of genetic algorithm.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008, s. 541-544, bibliogr. 15 poz.

układ analogowy ; testowanie układu ; PWL ; algorytm genetyczny ; fenotyp ; genotyp

analog circuit ; circuit testing ; PWL ; genetic algorithm ; phenotype ; genotype

70/183
Nr opisu: 0000051411
Optymalizacja pobudzenia PWL testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 311-316, bibliogr. 6 poz.

71/183
Nr opisu: 0000051413
Poprawa skuteczności diagnostyki uszkodzeń parametrycznych.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 325-330, bibliogr. 8 poz.

72/183
Nr opisu: 0000043108   
Poprawa skuteczności diagnostyki uszkodzeń parametrycznych.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 163-166, bibliogr. 8 poz.

filtr dolnoprzepustowy ; algorytm genetyczny ; diagnostyka uszkodzeń ; uszkodzenie parametryczne ; transformata falkowa

low-pass filter ; genetic algorithm ; fault diagnosis ; parametric fault ; wavelet transform

73/183
Nr opisu: 0000038638
Scenariusze rozwoju technologicznego panelu "Technologie informacyjne i telekomunikacyjne".
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Grzegorz Dziwoki, Zdzisław Filus, B. Gabryś, Marcin Gorawski, Piotr Kłosowski, Henryk** Małysiak, A. Sambura, L. Tomaszewski, Ryszard* Winiarczyk.
W: Priorytetowe technologie dla zrównoważonego rozwoju województwa śląskiego. Praca zbiorowa. Cz. 3: Branżowe scenariusze rozwoju technologicznego województwa śląskiego. Pod red. Krystyny Czaplickiej-Kolarz, Andrzeja Karbownika. Katowice : Główny Instytut Górnictwa, 2008, s. 154-189

74/183
Nr opisu: 0000049105   
Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2008, Malta, 31st August - 3rd September 2008. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 242-246, bibliogr. 9 poz.

testowanie układu ; obwód elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; ekstrakcja cech ; pomiar czasu ; ocena efektywności

circuit testing ; electronic circuit ; fault diagnosis ; fault location ; feature extraction ; time measurement ; performance evaluation

75/183
Nr opisu: 0000084725   
Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2008, s. 511-516, bibliogr. 10 poz.

lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka uszkodzeń ; słownik uszkodzeń ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny ; elektronika analogowa

fault location ; fault diagnosis ; fault dictionary ; wavelet transform ; genetic algorithm ; analogue electronics

76/183
Nr opisu: 0000050691
Students' attitude to formative web-based assessment.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska, Damian Grzechca.
W: Proceedings of the Seventh IASTED International Conference on Web-Based Education, Innsbruck, Austria, March 17-19, 2008. Ed. V. Uskov. Anaheim : Acta Press, 2008, s. 139-144

77/183
Nr opisu: 0000048020   
The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 299-303, bibliogr. 8 poz.

analogowy układ scalony ; analiza w dziedzinie czasu ; diagnostyka błędów

analog integrated circuit ; time domain analysis ; fault diagnosis

78/183
Nr opisu: 0000049104   
The use of variable load for RF circuit testing.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008, s. 557-560, bibliogr. 7 poz.

79/183
Nr opisu: 0000050684
Use of artificial intelligence techniques to fault diagnosis in analog systems.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
W: New aspects on computing research. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008, s. 267-274, bibliogr. 58 poz.

80/183
Nr opisu: 0000084727
Wavelet transform improves fault location in analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: 1st International Interdisciplinary Technical Conference of Young Scientists. INTERTECH 2008, Poznań, Poland, April 17-18, 2008. Proceedings. Ed. by P. Rydlichowski, A. Kliks, P. Sroka. Uczelniany Samorząd Doktorantów Politechniki Poznańskiej. Poznań : Uczelniany Samorząd Doktorantów Politechniki Poznańskiej, 2008, s. 92-96, bibliogr. 9 poz.

81/183
Nr opisu: 0000041678   
A common-sense based approach to the automated test-point selection in fault diagnosis.
[Aut.]: Andrzej Pułka, Jerzy** Rutkowski.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2007, Sevilla, Spain, 26-30 August 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 838-841, bibliogr. 18 poz.

82/183
Nr opisu: 0000031904
Analogue electronic circuits yield optimization with the use of evolutionary algorithms.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: International Workshop Control and Information Technology. IWCIT 2007, Ostrava, September 6th-7th, 2007. Ed. by V. Srovnal, Z. Slanina. VSB - Technical University of Ostrava. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. Department of Measurement and Control. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland. Ostrava : Vysoka Skola Banska - Technicka Univerzita, 2007, s. 245-250, bibliogr. 8 poz.

83/183
Nr opisu: 0000031903
Enhancing fault diagnosis efficiency of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
W: International Workshop Control and Information Technology. IWCIT 2007, Ostrava, September 6th-7th, 2007. Ed. by V. Srovnal, Z. Slanina. VSB - Technical University of Ostrava. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. Department of Measurement and Control. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland. Ostrava : Vysoka Skola Banska - Technicka Univerzita, 2007, s. 241-244, bibliogr. 8 poz.

84/183
Nr opisu: 0000031632   
Evolutionary system for analog test frequencies selection with fuzzy initialization.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 353-356, bibliogr. 10 poz.

testowanie analogowe ; niejednoznaczność zbioru ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; system wbudowany

analog testing ; ambiguity set ; evolutionary computations ; fuzzy set ; embedded system

85/183
Nr opisu: 0000032119
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 72-75, bibliogr. 12 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

analogowy układ elektroniczny ; optymalna częstotliwość

analog electronic circuit ; optimal frequency

86/183
Nr opisu: 0000031051
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 101-106, bibliogr. 12 poz.

diagnostyka układów analogowych ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; testowanie układu analogowego ; optymalizacja ewolucyjna

analog circuit diagnosis ; evolutionary computation ; fuzzy set ; analogue circuit testing ; evolutionary optimization ; evolutionary computations

87/183
Nr opisu: 0000031902
Finding an optimal frequency set for purpose of analog circuits' fault diagnosis.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: International Workshop Control and Information Technology. IWCIT 2007, Ostrava, September 6th-7th, 2007. Ed. by V. Srovnal, Z. Slanina. VSB - Technical University of Ostrava. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. Department of Measurement and Control. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland. Ostrava : Vysoka Skola Banska - Technicka Univerzita, 2007, s. 209-214, bibliogr. 6 poz.

88/183
Nr opisu: 0000031567   
Finding of optimal excitation signal for testing of analog electric circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2007 vol. 55 no. 3, s. 273-280, bibliogr. 5 poz.

wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny

fault detection ; fault location ; fault diagnosis ; analog electronic circuit ; wavelet transform ; genetic algorithm

89/183
Nr opisu: 0000031891
Gene expression programming-based method of optimal frequency set determination for purpose of analogue circuits' diagnosis.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Computer recognition systems 2. Eds: M. Kurzynski [et al.]. Berlin : Springer-Verlag, 2007, s. 794-801, bibliogr. 5 poz. (Advances in Soft Computing ; vol. 45 1615-3871)

90/183
Nr opisu: 0000039010   
Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-IEEE Trans. Circuits Syst., II 2007 vol. 54 iss. 2, s. 117-121, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 1.104

układ antenowy ; analogowy system testowania ; testowalność ; algorytm genetyczny

analog circuit ; analog system testing ; design for testability ; genetic algorithm

91/183
Nr opisu: 0000031908   
Optimal excitation in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 523-528, bibliogr. 4 poz.

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; słownik uszkodzeń ; transformata falkowa

analog electronic circuit ; fault diagnosis ; fault dictionary ; wavelet transform

92/183
Nr opisu: 0000031052
Optymalizacja uzysku analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 125-130, bibliogr. 8 poz.

optymalizacja uzysku ; analogowy układ elektroniczny ; koszt produkcji ; algorytm genetyczny ; strategia ewolucyjna

yield optimization ; analog electronic circuit ; production cost ; genetic algorithm ; evolutionary strategy

93/183
Nr opisu: 0000039873   
Simulated annealing with fuzzy fitness function for test frequencies selection.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 2007 IEEE International Fuzzy Systems Conference. FUZZ-IEEE 2007, London, UK, July 23-26, 2007. [Dokument elektroniczny]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6, bibliogr. 8 poz.

testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych ; symulowane wyżarzanie

circuit testing ; fault diagnosis ; fuzzy set theory ; simulated annealing

94/183
Nr opisu: 0000039872   
The use of simulated annealing with fuzzy objective function to optimal frequency selection for analog circuit diagnosis.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 899-902, bibliogr. 9 poz.

układ analogowy ; niezawodność obwodu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych

analogue circuit ; circuit reliability ; fault diagnosis ; fuzzy set theory

95/183
Nr opisu: 0000032124
Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 121-124, bibliogr. 5 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

wyżarzanie symulowane ; analogowy układ elektroniczny

simulated annealing ; analog electronic circuit

96/183
Nr opisu: 0000032117
Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 37-39, bibliogr. 13 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

analogowy układ elektroniczny ; klasyfikator neuronowy ; sieć neuronowa

analog electronic circuit ; neural classifier ; neural network

97/183
Nr opisu: 0000031023
Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 71-76, bibliogr. 13 poz.

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; klasyfikator neuronowy ; RBF ; sieć neuronowa ; słownik uszkodzeń ; metoda BKS ; modularna sieć neuronowa

analogue electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; neural classifier ; RBF ; neural network ; dictionary of damages ; BKS method ; analog electronic circuit ; modular neural network ; dictionary of faults

98/183
Nr opisu: 0000031165   
Analog fault AC dictionary creation - the fuzzy set approach.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 5744-5747, bibliogr. 4 poz.

testowanie układu ; słownik ; sprzęt elektroniczny ; częstotliwość ; teoria zbiorów rozmytych ; wytwarzanie ; macierz rzadka

circuit testing ; dictionary ; electronic equipment ; frequency ; fuzzy set theory ; manufacturing

99/183
Nr opisu: 0000031164   
Application of genetic programming to edge detector design.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4683-4686, bibliogr. 7 poz.

pomiar prądu ; detektor ; programowanie genetyczne ; przetwarzanie obrazu ; piksel ; układ logiki programowalnej ; proces stochastyczny ; transmitancja operatorowa

current measurement ; detector ; genetic programming ; image processing ; pixel ; programmable logic device ; stochastic process ; transfer function

100/183
Nr opisu: 0000023359
Circuit theory.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2006, 327 s., bibliogr. 15 poz.

obwód elektryczny ; elektrotechnika

electric circuit ; electrotechnics

101/183
Nr opisu: 0000024711
Design centering and tolerancing with utilization of evolutionary techniques.
[Aut.]: Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
W: Applied soft computing technologies. The challenge of complexity. Berlin : Springer, 2006, s. 91-98, bibliogr. 15 poz.

102/183
Nr opisu: 0000031532
Development and evaluation of computer assisted exam.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska, Łukasz Chruszczyk.
W: Proceedings of the Ninth IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education, Lima, Peru, October 4-6, 2006. Ed. V. Uskov. Anaheim : Acta Press, 2006, s. 333-338

103/183
Nr opisu: 0000031738
Diagnostyka analogowych filtrów aktywnych z wykorzystaniem sieci neuronowych o radialnych funkcjach bazowych.
[Aut.]: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
W: Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 51-56, bibliogr. 10 poz.

104/183
Nr opisu: 0000031754
Dobór optymalnego pobudzenia testującego do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
W: Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 123-128, bibliogr. 4 poz.

105/183
Nr opisu: 0000031163
Evolutionary method for test frequencies selection based on entropy index an ambiguity sets.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'06, Łódź, Poland, September 17-20, 2006. Conference proceedings. Institute of Circuit Theory, Metrology and Materials Science of the Technical Unifersity of Łódź, Poland [et al.]. [Łódź] : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa Politechniki Łódzkiej], [2006], s. 511-514

106/183
Nr opisu: 0000031753
Ewolucyjny detektor krawędzi.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 105-110, bibliogr. 5 poz.

107/183
Nr opisu: 0000021399
Fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: The Fifth International Workshop Control and Information Technology. IWCIT'06, Gliwice, 21-22 September 2006. Silesian University of Technology. Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science. Institute of Electronics. [B.m.] : [b.w.], [2006], s. 58-64, bibliogr. 4 poz.

108/183
Nr opisu: 0000032826
Finding of optimal excitation signal for testing of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'06, Łódź, Poland, September 17-20, 2006. Conference proceedings. Institute of Circuit Theory, Metrology and Materials Science of the Technical Unifersity of Łódź, Poland [et al.]. [Łódź] : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa Politechniki Łódzkiej], [2006], s. 613-616

109/183
Nr opisu: 0000023913   
Kodowanie z korekcją błędów w systemach transmisyjnych z modulacją wielotonową. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Marcin Kucharczyk.
Gliwice, 2006, 115 s., bibliogr. 120 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

modulacja wielotonowa ; modulacja OFDM ; kod korekcji błędów ; LDPC ; detekcja ; kodowanie

multitone modulation ; OFDM modulation ; error correction code ; LDPC ; detection ; coding

110/183
Nr opisu: 0000018175   
Kody LDPC - konkurencja dla turbokodów.
[Aut.]: Jacek Izydorczyk, Marcin Kucharczyk, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Telekom. 2006 R. 79 nr 2/3, s. 65-72, bibliogr. 26 poz.

kod LDPC ; kod blokowy ; dekodowanie

LDPC code ; block code ; decoding

111/183
Nr opisu: 0000031746
Konstrukcja rozmytego słownika uszkodzeń z wykorzystaniem rzadkości macierzy wrażliwości do testowania w dziedzinie częstotliwości.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 87-92, bibliogr. 4 poz.

112/183
Nr opisu: 0000020977
Theory of information and coding.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2006, 105 s., bibliogr. 17 poz.

113/183
Nr opisu: 0000032349
Use of genetic algorithm to optimum test frequency selection.
[Aut.]: B. Puchalski, Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
W: Applications of soft computing. Recent trends. Eds: A. Tiwari [et al.]. Berlin : Springer-Verlag, 2006, s. 283-290 (Advances in Soft Computing ; vol. 36 1615-3871)

114/183
Nr opisu: 0000031524   
Use of granular method to design centering.
[Aut.]: B. Puchalski, Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 3986-3989, bibliogr. 9 poz.

metodologia projektowania ; system immunologiczny ; metoda Monte Carlo ; metoda optymalizacyjna ; produkcja ; analiza statystyczna

design methodology ; immune system ; Monte Carlo method ; optimization method ; production ; statistical analysis

115/183
Nr opisu: 0000021402
Use of modular neural networks to fault diagnosis in analog active filters.
[Aut.]: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
W: The Fifth International Workshop Control and Information Technology. IWCIT'06, Gliwice, 21-22 September 2006. Silesian University of Technology. Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science. Institute of Electronics. [B.m.] : [b.w.], [2006], s. 80-85, bibliogr. 10 poz.

116/183
Nr opisu: 0000017970
Use of the Multi Layer Perceptron to analog fault functional test creation.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
W: Proceedings of IFAC Workshop on Programmable Devices and Embedded Systems. PDeS 2006, Brno, February 14th - 16th, 2006. [Brno] : [Brno University of Technology], [2006], s. 352-355, bibliogr. 6 poz.

117/183
Nr opisu: 0000030230
Wykorzystanie dekompozycji grafów w projektowaniu układów sekwencyjnych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Dariusz Kania.
W: Reprogramowalne układy cyfrowe. RUC'2006. IX Konferencja naukowa, Szczecin, 18-19 maja 2006. Warszawa : Agenda Wydaw. PAK, 2006, s. 118-120 (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7 bis wyd. spec. dod. 0032-4140)

118/183
Nr opisu: 0000031596   
Yield enhancement by means of evolutionary computation techniques.
[Aut.]: Ł. Zieliński, B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4631-4634, bibliogr. 16 poz.

obwód ; obliczenia ewolucyjne ; wytyczne ; przybliżenie liniowe ; wytwarzanie ; metoda Monte Carlo

circuit ; evolutionary computation ; guidelines ; linear approximation ; manufacturing ; Monte Carlo method

119/183
Nr opisu: 0000019969
Applying artificial intelligence techniques to analog fault detection and classification.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Zesz. Nauk. Wydz. ETI PGdań., Technol. Inf. 2005 t. 6, s. 15-24, bibliogr. 48 poz.

120/183
Nr opisu: 0000016941
Creation of functional test - the neural network utilization.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Methods of artificial intelligence. AI-METH 2005. [Proceedings of the Symposium on Methods of Artificial Intelligence AI-METH 2005 and the Workshop on Knowledge Acquisition in Mechanical Engineering, Gliwice, Poland, 16-18 November 2005]. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. [Gliwice] : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005, s. 57-58, bibliogr. 5 poz.

sieć neuronowa ; perceptron wielowarstwowy ; analogowe wykrywanie usterek ; diagnostyka układów analogowych ; wykrywanie błędów

neural network ; multilayer perceptron ; analog faults detection ; analog fault diagnosis ; fault detection

121/183
Nr opisu: 0000017094
Creation of functional test - the neural network utilization.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Recent developments in artificial intelligence methods. AI-METH 2005. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. Gliwice : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005, s. 95-98, bibliogr. 8 poz.
pełny tekst na CD-ROM

sieć neuronowa ; perceptron wielowarstwowy ; analogowe wykrywanie usterek ; diagnostyka układów analogowych

neural network ; multilayer perceptron ; analog faults detection ; analog fault diagnosis

122/183
Nr opisu: 0000014671
Distance learning platform based on moodle open source software.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Piotr Kłosowski, Katarzyna Mościńska.
W: Proceedings of the International Conference on Engineering Education. ICEE'2005. Global education interlink, Gliwice, Poland, July 25-29, 2005. Vol. 1. Eds: Jerzy Mościński, Marcin Maciążek. Gliwice : Silesian University of Technology, 2005, s. 767-772, bibliogr. 3 poz.
Toż na CD

kształcenie na odległość ; e-learning ; internet ; open source

distance learning ; e-learning ; internet ; open source

123/183
Nr opisu: 0000020308
Fault detection of analog active filters using RBF neural network.
[Aut.]: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
W: International Workshop Control and Information Technology. IWCIT 2005, Ostrava, Czech Republik, September 15th-16th, 2005. Ostrava : Vysoka Skola Banska - Technicka Univerzita, 2005, s. 309-312

124/183
Nr opisu: 0000032353
Optimum test selection for analog circuits with the use of genetic algorithm.
[Aut.]: Ł. Zieliński, B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
W: Soft computing. Methodologies and applications. Eds: F. Hoffmann [et al.]. Berlin : Springer-Verlag, 2005, s. 129-136 (Advances in Soft Computing ; vol. 32 1615-3871)

125/183
Nr opisu: 0000015812
Optymalny dobór częstotliwości testowych z wykorzystaniem koncepcji kanału informacyjnego.
[Aut.]: B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 151-156, bibliogr. 9 poz.

126/183
Nr opisu: 0000021602
Redevelopment of a large engineering course from a traditional to blended model - circuit theory example.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska, Piotr Kłosowski.
W: The Fifth IASTED International Conference on Modelling, Simulation and Optimization. [MSO 2005], Oranjestad, Aruba, August 29-31, 2005. Ed. G. Tonella. Anaheim : Acta Press, 2005, s. 300-305

127/183
Nr opisu: 0000015807
Wykorzystanie algorytmu genetycznego do optymalizacji zbioru częstotliwości testowych.
[Aut.]: B. Puchalski, Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 133-138, bibliogr. 9 poz.

128/183
Nr opisu: 0000015811
Wykorzystanie klasyfikatora neuronowego w diagnostyce analogowych filtrów aktywnych.
[Aut.]: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
W: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 12-15 czerwca 2005 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2005, s. 139-144, bibliogr. 8 poz.

129/183
Nr opisu: 0000013764
Application of genetic algorithms to optimum testing point selection with the use of multiple input stimuli.
[Aut.]: Ł. Zieliński, B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'04, Poznań, Poland, 13-15 September 2004. Ed. Maciej Bartkowiak [i in.]. Poznań : Polish Society for Theoretical and Applied Electrical Engineering, 2004, s. 389-392

130/183
Nr opisu: 0000013759
Computer assisted and web-based learning techniques in electronics and telecommunication education process.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Katarzyna Mościńska, Piotr Kłosowski.
W: Proceedings of the 7th IASTED International Conference on Computers and Advanced Technology in Education, Kauai-Hawaii 2004. [B.m.] : [b.w.], [2004], s. 60-65

131/183
Nr opisu: 0000013765
Design tolerancing with utilization of gene expression programming and genetic algorithm.
[Aut.]: Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'04, Poznań, Poland, 13-15 September 2004. Ed. Maciej Bartkowiak [i in.]. Poznań : Polish Society for Theoretical and Applied Electrical Engineering, 2004, s. 381-384

132/183
Nr opisu: 0000011154
Dictionary approach to fault diagnosis in analog circuits.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Methods of artificial intelligence. AI-METH 2004. [Proceedings of the Symposium on Methods of Artificial Intelligence and the Workshop on Knowledge Acquisition in Mechanical Engineering, Gliwice, Poland, 17-19 November 2004]. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Gliwice : Silesian University of Technology. Department for Strength of Materials and Computational Mechanics. Department of Fundamentals of Machinery Design, 2004, s. 119-120

133/183
Nr opisu: 0000010736
Dictionary approach to fault diagnosis in analog circuits.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Recent developments in artificial intelligence methods. AI-METH 2004, Gliwice, Poland, November 17-19, 2004. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Silesian University of Technology. Department for Strength of Materials and Computational Mechanics. Department of Fundamentals of Machinery Design, Polish Association for Computational Mechanics. Gliwice : Silesian University of Technology. Department for Strength of Materials and Computational Mechanics. Department of Fundamentals of Machinery Design, 2004, s. 223-228, bibliogr. 47 poz.

układ analogowy ; słownik uszkodzeń ; sztuczna inteligencja

analog circuit ; fault dictionary ; artificial intelligence

134/183
Nr opisu: 0000011198   
Entropy-based optimum test points selection for analog fault dictionary techniques.
[Aut.]: J. Starzyk, D. Liu, Z. Liu, D. Nelson, Jerzy** Rutkowski.
-IEEE Trans. Instrum. Meas. 2004 vol. 53 iss. 3, s. 754-761, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 0.446

diagnostyka układów analogowych ; słownik uszkodzeń ; teoria zbiorów przybliżonych ; punkt pomiarowy

analog fault diagnosis ; fault dictionary ; rough set theory ; test point

135/183
Nr opisu: 0000013754
Fault detection in analog circuits with the use of multifrequency fault dictionary.
[Aut.]: B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'04, Poznań, Poland, 13-15 September 2004. Ed. Maciej Bartkowiak [i in.]. Poznań : Polish Society for Theoretical and Applied Electrical Engineering, 2004, s. 393-396

136/183
Nr opisu: 0000013971
Optymalny dobór punktów testowych dla analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 157-162, bibliogr. 7 poz.

układ analogowy ; testowanie analogowe ; optymalizacja ; kanał informacyjny

analogue circuit ; analog testing ; optimisation ; information channel

137/183
Nr opisu: 0000013972
Optymalny dobór punktów testowych z wykorzystaniem algorytmu genetycznego i różnych pobudzeń.
[Aut.]: Ł. Zieliński, B. Puchalski, Jerzy** Rutkowski.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 163-167, bibliogr. 9 poz.

układ analogowy ; testowanie ; optymalizacja ; algorytm genetyczny

analogue circuit ; testing ; optimisation ; genetic algorithm

138/183
Nr opisu: 0000013962
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 13-22, bibliogr.

testowanie ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny

testing ; fault diagnosis ; analog electronic circuit

139/183
Nr opisu: 0000010695   
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2004 R. 45 nr 12, s. 33-37, bibliogr. 36 poz.

140/183
Nr opisu: 0000013969
Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do centrowania układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Ł. Zieliński.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 145-150, bibliogr. 11 poz.

centrowanie ; strategia ewolucyjna ; analogowy układ elektroniczny ; optymalizacja

centering ; evolutionary strategy ; analog electronic circuit ; optimisation

141/183
Nr opisu: 0000013970
Zastosowanie ewolucji różnicowej do projektowania odcinkowo-liniowego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 151-156, bibliogr. 7 poz.

diagnostyka układów analogowych ; pobudzenie testujące ; ewolucja różnicowa ; populacja ; genotyp

analog circuit diagnosis ; testing stimuli ; differential evolution ; population ; genotype

142/183
Nr opisu: 0000013973
Zastosowanie teorii zbiorów rozmytych oraz rzadkości macierzy wrażliwości do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach analogowych.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 169-174, bibliogr. 5 poz.

teoria zbiorów rozmytych ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; układ analogowy ; wrażliwość

fuzzy set theory ; fault detection ; fault localization ; analogue circuit ; sensitivity

143/183
Nr opisu: 0000007705
Analysis and processing of information contained in DNA microarrays.
[Aut.]: R. Szczepaniak, Jerzy** Rutkowski.
W: The Third International Workshop Control and Information Technology. IWCIT'03, Gliwice, September 22-23, 2003. [Gliwice] : [Instytut Elektroniki. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej], [2003], s. 54-60, bibliogr. 6 poz.
Toż na dysku optycznym (CD-ROM)

144/183
Nr opisu: 0000009232
Application of genetic programming to analog fault decoder design.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 2. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica, s. II-113-116, bibliogr. 6 poz.

145/183
Nr opisu: 0000009236
Creation of Analog Fault AC Dictionary based on fuzzy - neural network and output coding.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 2. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica, s. II-237-240, bibliogr. 6 poz.

146/183
Nr opisu: 0000009181
Koncepcja konstrukcji rozmyto-neuronowego słownika do lokalizacji uszkodzeń - testowanie w dziedzinie czasu.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 253-258, bibliogr. 6 poz.

147/183
Nr opisu: 0000009233
Optimum stimuli selection in testing of analog circuits.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, B. Puchalski.
W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 2. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica, s. II-201-204, bibliogr. 7 poz.

148/183
Nr opisu: 0000009180
Optymalny dobór pobudzeń w testowaniu analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, B. Puchalski.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 247-252, bibliogr. 6 poz.

149/183
Nr opisu: 0000009179
Optymalny dobór testów dla układów analogowych z wykorzystaniem algorytmów genetycznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, B. Puchalski, Ł. Zieliński.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 241-246, bibliogr. 6 poz.

150/183
Nr opisu: 0000018460
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
Warszawa : Wydaw. Komunikacji i Łączności, 2003, 176 s., bibliogr.

analogowy układ elektroniczny

analog electronic circuit

151/183
Nr opisu: 0000009178
Strategia ewolucyjna doboru optymalnego skokowego pobudzenia testującego.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 235-240, bibliogr. 5 poz.

152/183
Nr opisu: 0000032611
The state of the art of genetic algorithms.
[Aut.]: Ł. Zieliński, Jerzy** Rutkowski.
W: The Third International Workshop Control and Information Technology. IWCIT'03, Gliwice, September 22-23, 2003. [Gliwice] : [Instytut Elektroniki. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej], [2003], s. 103-108, bibliogr. 5 poz.
Toż na dysku optycznym (CD-ROM)

153/183
Nr opisu: 0000009238
Using evolutionary techniques for chosen optimalization problems related to analog circuits design.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Ł. Zieliński.
W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 3. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica, s. III-313-316, bibliogr. 6 poz.

154/183
Nr opisu: 0000009192
Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do dekompozycji krawędziowej grafu obwodu.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Ł. Zieliński.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 2. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 659-664, bibliogr. 5 poz.

155/183
Nr opisu: 0000013074   
Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do projektowania i diagnozowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Tomasz Golonek.
Gliwice, 2003, 98 s., bibliogr. 53 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

elektronika analogowa ; układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; ewolucyjne techniki obliczeniowe ; programowanie genetyczne

analogue electronics ; electronic system ; analog circuit diagnosis ; evolutionary computational techniques ; genetic programming

156/183
Nr opisu: 0000013070   
Wykorzystanie sieci neuronowych i technik rozmytych do testowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Damian Grzechca.
Gliwice, 2003, 99 s., bibliogr. 44 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; sieć neuronowa ; teoria zbiorów rozmytych ; testowanie analogowych układów elektronicznych

analog electronic circuit ; fault diagnosis ; neural network ; fuzzy set theory ; analog circuit fault diagnosis

157/183
Nr opisu: 0000002538
Diagnostyka układów analogowych w oparciu o sieci neuronowe ze zwiększoną informacją wejściową.
[Aut.]: D. Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - Dźwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 193-198, bibliogr. 5 poz.

158/183
Nr opisu: 0000002513
Optymalizacja doboru węzłów testowych z wykorzystaniem algorytmu genetycznego.
[Aut.]: T. Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - Dźwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 289-294, bibliogr. 6 poz.

159/183
Nr opisu: 0000002512
Wykorzystanie koncepcji kanału informacyjnego do optymalizacji testowania układów analogowych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, B. Puchalski.
W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - Dźwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 295-300, bibliogr. 6 poz.

160/183
Nr opisu: 0000002655
Use of sensitivity matrix and fuzzy set theory to analog fault detection.
[Aut.]: D. Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'2001, Łódź, Poland [18-21 September 2001]. Ed. by P. Strumiłło. Łódź : [CMYK Studio Poligrafii i Reklamy], 2001, s. 349-355, bibliogr. 6 poz.

161/183
Nr opisu: 0000000726   
Zbiór zadań z teorii informacji i kodowania.
[Aut.]: Jan** Chojcan, Jerzy** Rutkowski.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2001, 164 s., bibliogr. 32 poz.
Skrypt nr 2265

162/183
Nr opisu: 0000003093
Fuzzy rule expert system approach to analog fault diagnosis.
[Aut.]: D. Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES '2000, Ustroń, Poland, 17-20 October 2000. [Gliwice] : [Institute of Electronics Silesian University of Technology], [2000], s. 509-514, bibliogr. 4 poz.

163/183
Nr opisu: 0000003097
Use of genetic algorithms to analog fault dictionary construction.
[Aut.]: T. Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES '2000, Ustroń, Poland, 17-20 October 2000. [Gliwice] : [Institute of Electronics Silesian University of Technology], [2000], s. 503-508, bibliogr. 4 poz.

164/183
Nr opisu: 0000014335   
Wykorzystanie analizy wrażliwościowej do diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Jan Machniewski.
Gliwice, 1999, 100 s., bibliogr. 50 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

165/183
Nr opisu: 0000027016
Zbiór zadań z teorii informacji i kodowania.
[Aut.]: Jan** Chojcan, Jerzy** Rutkowski. Wyd. 5 popr..
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 1997, 168 s., bibliogr. 32 poz.
(Skrypt ; Politechnika Śląska nr 2018 0434-0825)

166/183
Nr opisu: 0000035183   
Diagnozowalność praktycznych analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Zesz. Nauk. PŚl., Elektron. 1996 z. 5, s. 147-157, bibliogr. 8 poz.

167/183
Nr opisu: 0000035189   
Sieci neuronowe - uogólnienie algorytmu uczenia sieci back-propagation, zastosowanie do rozpoznawania linii papilarnych, cyfr i lokalizacji uszkodzeń w nieliniowych obwodach DC.
[Aut.]: Jan** Chojcan, Katarzyna Mościńska, Jerzy** Rutkowski, Grzegorz* Tyma.
-Zesz. Nauk. PŚl., Elektron. 1996 z. 5, s. 21-35, bibliogr. 15 poz.

168/183
Nr opisu: 0000088085
Neural network DC fault dictionary with Hamming coding of outputs.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Circuit theory and electronic networks. XVII National conference, Wrocław, Polanica Zdrój, September 19-21, 1994. Vol. 2. Ed. by Włodzimierz Wolski. Wrocław : Oficyna Wydaw. Politechniki Wrocławskiej, 1994, s. 501-506, bibliogr. 7 poz. (Prace Naukowe Instytutu Telekomunikacji i Akustyki Politechniki Wrocławskiej ; nr 79 Seria: Konferencje ; nr 25 0324-9344)

169/183
Nr opisu: 0000044631   
Two stage neural network DC fault dictionary.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 1994 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, London. Pt 6. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1994, s. 299-302, bibliogr. 5 poz. (Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems ; vol. 6)

170/183
Nr opisu: 0000046851
A dc approach for analog fault dictionary determination.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Circuit theory and design 93. Proceedings of the 11th European Conference on Circuit Theory and Design - ECCTD'93, Davos, Switzerland, August 30 - September 3, 1993. Pt 2. Ed. by H. Dedieu. Amsterdam : Elsevier, 1993, s. 877-880, bibliogr. 4 poz.

171/183
Nr opisu: 0000088364
A neural network analog fault dictionary.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Circuit theory and electronic circuits. Proceedings of the XVI-th national conference, Kołobrzeg, October 26-28, 1993. Vol. 2. Institute of Electronics. Technical University of Koszalin. Koszalin : Institute of Electronics. Technical University of Koszalin, 1993, s. 600-604, bibliogr. 5 poz.

172/183
Nr opisu: 0000046852
Decomposition approach to analog fault location.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Circuit theory and design 93. Proceedings of the 11th European Conference on Circuit Theory and Design - ECCTD'93, Davos, Switzerland, August 30 - September 3, 1993. Pt 2. Ed. by H. Dedieu. Amsterdam : Elsevier, 1993, s. 881-884, bibliogr. 6 poz.

173/183
Nr opisu: 0000057661
A DC fault dictionary approach to analog fault diagnosis.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Circuit theory and electronic circuits. Proceedings of the XV-th national conference, Szczyrk, October 20-23, 1992. Vol. 1. Institute of Electronics Fundamentals Warsaw University of Technology. Warszawa : Warsaw University of Technology Publications, 1992, s. 151-156, bibliogr. 4 poz.

174/183
Nr opisu: 0000057658
Diagnosability of practical analog networks.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Circuit theory and electronic circuits. Proceedings of the XV-th national conference, Szczyrk, October 20-23, 1992. Vol. 1. Institute of Electronics Fundamentals Warsaw University of Technology. Warszawa : Warsaw University of Technology Publications, 1992, 157-162, bibliogr. 7 poz.

175/183
Nr opisu: 0000053262
Identyfikacja uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Problemy współczesnej elektroniki, Gliwice 1992. Materiały jubileuszowej sesji naukowej zorganizowanej z okazji nadania tytułu doktora h.c. Politechniki Śląskiej i 80-lecia urodzin prof. dr inż. Tadeusza Zagajewskiego. Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Instytut Elektroniki. [B.m.] : [b.w.], 1992, s. 31-44, bibliogr. 11 poz.

176/183
Nr opisu: 0000053899   
Diagnostyka dużych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem metod topologicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 1991, 127 s., bibliogr. 134 poz.
(Zeszyty Naukowe ; Politechnika Śląska nr 1121 Automatyka ; z. 105)

177/183
Nr opisu: 0000088374
Neural network approach to fault location in nonlinear DC circuits.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Circuit theory and electronic circuits. XIV national conference, Waplewo, 23-25.10.1991. Vol. 2. Institute of Electronics Fundamentals. Warsaw University of Technology. [B.m.] : [b.w.], 1991, s. 568-573, bibliogr. 4 poz.

178/183
Nr opisu: 0000053486
Podstawy techniki systemów telewizji kablowej.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Elektronizacja 1991 nr 6, s. 15-16

179/183
Nr opisu: 0000053481
Zamierzenia rozwoju telewizji kablowej w Polsce.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Elektronizacja 1991 nr 7, s.12-13, bibliogr. 6 poz.

180/183
Nr opisu: 0000060337
Zbiór zadań z teorii informacji i kodowania.
[Aut.]: Jan** Chojcan, Jerzy** Rutkowski. Wyd. 3 uzup..
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 1990, 171 s., bibliogr. 15 poz.
(Skrypty Uczelniane ; Politechnika Śląska im. W. Pstrowskiego nr 1501 0434-0825)

181/183
Nr opisu: 0000060616
Kompatybilność elektromagnetyczna. [Sprawozdanie z sympozjum zorganizowanego w dniach 7-9 marca 1989 r. w Zurychu].
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Wiad. Telekom. 1989 R. 29 nr 11/12, s. 56, 3-4 s. okl.

182/183
Nr opisu: 0000060617
Wprowadzanie sieci cyfrowych z integracją usług (ISDN) do publicznych sieci telekomunikacyjnych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Wiad. Telekom. 1989 R. 29 nr 4, s. 4-6

183/183
Nr opisu: 0000060618
Współpraca międzynarodowa w dziedzinie telekomunikacji w ramach UIT.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Wiad. Telekom. 1989 R. 29 nr 10, s. 15-18

stosując format:
Nowe wyszukiwanie