Wynik wyszukiwania
Zapytanie: RAMZAN R
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000031531   
LNA design for on-chip RF test.
[Aut.]: R. Ramzan, L. Zou, Jerzy** Dąbrowski.
W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4236-4239, bibliogr. 8 poz.

bitowa stopa błędów ; testowanie układu ; przesłuch ; wykrywanie uszkodzeń ; transceiver

bit error rate ; circuit testing ; crosstalk ; fault detection ; transceiver

2/6
Nr opisu: 0000029028
Offset loopback test for IC RF transceivers.
[Aut.]: Jerzy** Dąbrowski, R. Ramzan.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2006. Proceedings of the international conference, Gdynia, Poland, 22-24 June 2006. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2006, s. 583-586, bibliogr. 10 poz.

3/6
Nr opisu: 0000020318
CMOS blocks for on-chip RF test.
[Aut.]: R. Ramzan, Jerzy** Dąbrowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2005. Proceedings of the 12th international conference, Kraków, Poland, 22-25 June 2005. Vol. 1. Ed. A. Napieralski. Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź [et al.]. Łódź : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2005, s. 403-408

4/6
Nr opisu: 0000020279
Programmable attenuator and switch for RF test by chip reconfiguration.
[Aut.]: T. Kantasuwan, R. Ramzan, Jerzy** Dąbrowski.
W: Proceedings of Radio Science and Communication. RVK 05, Linköping, Sweden,14-16 June 2005. Eds: O. Gustafsson, P. Lowenborg. [B.m.] : [b.w.], 2005, s. 253-256

5/6
Nr opisu: 0000020289
Programmable RF attenuator for one-chip loopback test.
[Aut.]: T. Kantasuwan, R. Ramzan, Jerzy** Dąbrowski.
W: European Test Symposium. ETS 2005, Tallinn, Estonia, 22-25 May 2005. Proceedings. Los Alamitos : IEEE Computer Society, 2005, s. 28-33

6/6
Nr opisu: 0000020320
Wideband MCML basic cells in 0.35 um CMOS end.
[Aut.]: R. Ramzan, Jerzy** Dąbrowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2005. Proceedings of the 12th international conference, Kraków, Poland, 22-25 June 2005. Vol. 1. Ed. A. Napieralski. Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź [et al.]. Łódź : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2005, s. 227-231

stosując format:
Nowe wyszukiwanie