Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PISAREK M
Liczba odnalezionych rekordów: 5



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu: 0000125063
On-the-fly catalyst accretion and screening in chemoselective flow hydrogenation.
[Aut.]: D. Gizińki, W. Błachucki, A. Śrębowata, M. Zienkiewicz-Machnik, I. Goszewska, Krzysztof Matus, D. Lisovytskiy, M. Pisarek, J. Szlachetko, J. Sa.
-ChemCatChem 2018 in press, s. 1-9. Impact Factor 4.674. Punktacja MNiSW 35.000

kataliza ; wodorowanie

flow catalysis ; hydrogenation ; on-the-fly catalyst modification ; photon-in photon out spectroscopy ; structure-performance relationship

2/5
Nr opisu: 0000118636   
Tuning nano-nickel selectivity with tin in flow hydrogenation of 6-methyl-5-hepten-2-one by surface organometallic chemistry modification.
[Aut.]: M. Zienkiewicz-Machnik, I. Goszewska, A. Śrębowata, A. Kubas, D. Gizińki, G. Słowik, Krzysztof Matus, D. Lisovytskiy, M. Pisarek, J. Sa.
-Catal. Today 2017 vol. 308, s. 38-44, bibliogr. 61 poz.. Impact Factor 4.667. Punktacja MNiSW 40.000

chemoselective flow hydrogenation ; TiN surface modification ; 6-methyl-5-hepten-2-one ; nano-Ni grafted on resin

3/5
Nr opisu: 0000057448   
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz właściwości sensorowych cienkich warstw SnO2.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, M. Pisarek, Jerzy** Żak.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.

morfologia powierzchni ; dyfraktometria rentgenowska ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskopia AFM ; spektroskopia elektronów Augera ; adsorpcja tlenu

surface morphology ; X-ray diffraction ; atomic force microscope ; AFM microscopy ; Auger electron spectroscopy ; oxygen adsorption

4/5
Nr opisu: 0000084490
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz właściwości sensorowych cienkich warstw SnO2.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, M. Pisarek, Agnieszka Żak.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE 2010. XI Konferencja naukowa, Nałęczów, 20-23 czerwca 2010. Streszczenia. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2010, dysk optyczny (CD-ROM) s. 9, bibliogr. 2 poz.

półprzewodnik tlenkowy ; SnO2 ; gaz ; adsorpcja

metal-oxide semiconductor ; SnO2 ; gas ; adsorption

5/5
Nr opisu: 0000083469
Crystalline structure of SnO2 thin layers and their sensing properties in the oxygen containing atmosphere.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, M. Pisarek, Jerzy** Żak.
W: E-MRS 2010 Fall Meeting. Symposium F: 10th International Symposium on Electrochemical/Chemical Reactivity of Metastable Materials, Warsaw, Poland, 13-17 September 2010. [B.m.] : [b.w.], 2010, PF-I 7

stosując format:
Nowe wyszukiwanie