Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PAWEŁCZYK KRZYSZTOF
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000125182   
Genetically-trained deep neural networks.
[Aut.]: Jakub Nalepa, Krzysztof Pawełczyk, Michał Kawulok.
W: Proceedings of the 2018 Genetic and Evolutionary Computation Conference Companion. GECCO'18 Companion, Kyoto, Japan, 15-19 July 2018. Association for Computing Machinery. New York : Association for Computing Machinery, 2018, s. 63-64, bibliogr. 7 poz.

splotowa sieć neuronowa ; deep learning ; algorytm genetyczny

convolutional neural network ; deep learning ; genetic algorithm

2/3
Nr opisu: 0000127079   
Patent. Polska, nr 228 914. Sposób wielomodalnej analizy wizyjnej dla mierzenia atencji wizualnej odbiorców treści multimedialnych w pojazdach komunikacji zbiorowej i układ zliczania odbiorców treści multimedialnych w pojazdach komunikacji zbiorowej. Int. Cl. G07C 9/00, G06T 7/20.
Future Processing Sp. z o.o., Polska
Twórcy: Michał Kawulok, J. Szymanek, Krzysztof Pawełczyk, Jakub Nalepa.
Zgłosz. nr 415 337 z 16.12.2015. Opubl. 30.05.2018, 8 s.

wizja komputerowa ; atencja wizualna ; treści multimedialne

computer vision ; visual attention ; multimedia contents

3/3
Nr opisu: 0000119902
Towards detecting high-uptake lesions from lung CT scans using deep learning.
[Aut.]: Krzysztof Pawełczyk, Michał Kawulok, Jakub Nalepa, M. Hayball, S. J. McQuaid, V. Prakash, B. Ganeshan.
W: Image analysis and processing - ICIAP 2017. 19th International Conference, Catania, Italy, September 11-15, 2017. Proceedings. Pt. 2. Eds. Sebastiano Battiato, Giovanni Gallo, Raimondo Schettini, Filippo Stanco. Cham : Springer, 2017, s. 310-320, bibliogr. 27 poz. (Lecture Notes in Computer Science ; vol. 10485 0302-9743)

głębokie sieci neuronowe ; wykrywanie uszkodzeń ; PET/CT zobrazowanie ; PET/CT

deep neural networks ; damage detection ; PET/CT imaging ; PET/CT

stosując format:
Nowe wyszukiwanie