Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PASSACANTANDO M
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000047687   
XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 1.576

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głębokościowe

tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling

2/6
Nr opisu: 0000025450   
Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; nakładanie L-CVD ; właściwości elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego ; poziom Fermiego ; elektroniczne pasmo wzbronione

tin dioxide ; thin film ; L-CVD deposition ; electronic properties of space charge layer ; Fermi level ; electronic band gap

3/6
Nr opisu: 0000023051
Surface morphology of L-CVD SnO2 thin films for gas sensor application.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 46

4/6
Nr opisu: 0000025442   
XPS depth profiling studies of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; profilowanie głębokościowe ; XPS

tin dioxide ; thin film ; depth profiling ; XPS

5/6
Nr opisu: 0000023052
XPS studies of surface chemistry and electronic properties of Ag-doped L-VCD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 47, bibliogr. 8 poz.

6/6
Nr opisu: 0000021704   
XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO2 thin films after oxidation.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Grzegorz* Czempik, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 36-42, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.569

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie

tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation

stosując format:
Nowe wyszukiwanie