Wynik wyszukiwania
Zapytanie: OTTAVIANO L
Liczba odnalezionych rekordów: 20



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/20
Nr opisu: 0000114163   
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO2 films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, J. Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2017 vol. 401, s. 256-261, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 4.439. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; technologia RGTO ; krystaliczność ; morfologia ; chemia ; XRD ; SEM ; AFM ; XPS ; sensoryka NO2

tin dioxide ; RGTO technology ; crystallinity ; morphology ; chemistry ; XRD ; SEM ; AFM ; XPS ; NO2 sensor

2/20
Nr opisu: 0000096287   
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO2 films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2014 vol. 326, s. 27-31, bibliogr. 20 poz.. Impact Factor 2.711. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; morfologia ; chemia ; odpowiedź czujnika

tin dioxide ; morphology ; chemistry ; sensor response

3/20
Nr opisu: 0000096259   
XPS, TDS, and AFM studies of surface chemistry and morphology of Ag-covered L-CVD SnO2 nanolayers.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Piotr* Kościelniak, Jacek Szuber.
-Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 2.779. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; powłoki cienkie L-CVD ; domieszkowanie Ag ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; TDS ; AFM

tin dioxide ; SnO2 ; L-CVD thin films ; Ag-doping ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; TDS ; AFM

4/20
Nr opisu: 0000089092
Surface properties of the 1D and 2D SnO2 nanostructures.
[Aut.]: Monika Kwoka, Michał* Sitarz, L. Ottaviano, E. Comini, D. Zappa, Jacek Szuber.
W: Proceedings of 8th Solid State Surfaces and Interfaces. 8th SSSI, Smolenice Castle, Slovak Republik, November 25-28, 2013. Extended abstract book. Ed. R. Brunner. Bratislava : Comenius University, 2013, s. 86, bibliogr. 4 poz.

5/20
Nr opisu: 0000082832   
Photoemission studies of the surface electronic properties of L-CVD SnO2 ultra thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8425-8429, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 2.112. Punktacja MNiSW 30.000

cienka powłoka L-CVD ; poziom Fermiego ; dwutlenek cyny

L-CVD thin film ; Fermi level ; tin dioxide

6/20
Nr opisu: 0000083459
XPS and TDS comparative studies of the surface chemistry of Ag-doped L-CVD SnO2 nanolayers and SnO2 nanowires after air exposure.
[Aut.]: Monika Kwoka, Michał* Sitarz, L. Ottaviano, E. Comini, D. Zappa, Jacek Szuber.
W: VIII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2012, Cracow, Poland, 11-15 September 2012. Programme & abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 55, bibliogr. 3 poz.

7/20
Nr opisu: 0000063356   
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 1.795

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS

tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS

8/20
Nr opisu: 0000059231
AFM studies of surface morphology of GaAs(100) surface after sulfide passivation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, L. Ottaviano, S. Arabasz, Jacek Szuber.
W: VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009. [B.m.] : [b.w.], 2009, s. 52

9/20
Nr opisu: 0000056850   
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grządziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy

10/20
Nr opisu: 0000058962
Influence of substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, Jacek Szuber.
W: VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009. [B.m.] : [b.w.], 2009, s. 53

11/20
Nr opisu: 0000056438   
Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.727

dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymałość na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy

12/20
Nr opisu: 0000048128   
XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, L. Grzadziel, L. Ottaviano, P. Parisse, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Mater. Sci. Pol. 2008 vol. 26 no. 2, s. 287-294, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 0.368

ftalocyjanina miedzi ; CuPc ; warstwa cienka ; chemia powierzchni

copper phthalocyanine ; CuPc ; thin film ; surface chemistry

13/20
Nr opisu: 0000047687   
XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 1.576

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głębokościowe

tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling

14/20
Nr opisu: 0000039992   
AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2007 vol. 515 iss. 23, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 1.693

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; mikroskopia sił atomowych ; morfologia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD thin film ; atomic force microscopy ; surface morphology

15/20
Nr opisu: 0000076043
XRD and XPS comparative studies of stoichiometry of RGTO SnO2 thin films for gas sensor application.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, P. Parissi, F. Bisti, Jacek Szuber.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 198, bibliogr. 7 poz.

16/20
Nr opisu: 0000025450   
Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; nakładanie L-CVD ; właściwości elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego ; poziom Fermiego ; elektroniczne pasmo wzbronione

tin dioxide ; thin film ; L-CVD deposition ; electronic properties of space charge layer ; Fermi level ; electronic band gap

17/20
Nr opisu: 0000023051
Surface morphology of L-CVD SnO2 thin films for gas sensor application.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 46

18/20
Nr opisu: 0000025442   
XPS depth profiling studies of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; profilowanie głębokościowe ; XPS

tin dioxide ; thin film ; depth profiling ; XPS

19/20
Nr opisu: 0000023052
XPS studies of surface chemistry and electronic properties of Ag-doped L-VCD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 47, bibliogr. 8 poz.

20/20
Nr opisu: 0000021704   
XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO2 thin films after oxidation.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Grzegorz* Czempik, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 36-42, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.569

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie

tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation

stosując format:
Nowe wyszukiwanie