Wynik wyszukiwania
Zapytanie: NIEMIEC N
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000100168
Badania odpowiedzi sensorowej cienkich warstw oraz nanostruktur SnO2.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Weronika Izydorczyk, N. Niemiec, Jerzy Uljanow, Wiesław Domański, Janusz Mazurkiewicz.
W: Czternasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 08-12.06.2015]. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 59-65, bibliogr. 15 poz.

sensor ; warstwa cienka ; nanostruktura SnO2 ; czujnik rezystancyjny ; technologia RGTO ; termiczne osadzanie z fazy gazowej

sensor ; thin layer ; SnO2 nanostructure ; resistive sensor ; RGTO technology ; thermal vapour deposition

stosując format:
Nowe wyszukiwanie