Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MARSZAŁEK K
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000103752   
Nonstandard optical methods as a tool for rough surface analysis.
[Aut.]: J. Jaglarz, Janusz Szewczenko, K. Marszałek, Marcin Basiaga, M. Marszałek.
W: 7th International Symposium on Macro- and Supramolecular Architectures and Materials, [Johannesburg, South Africa, 23-27 November 2014]. Ed. by Sabelo Mhlanga, Lucky Sikhwivhilu, Tshepo Malefetse and Richard Harris. Amsterdam : Elsevier, 2015, s. 4046-4052, bibliogr. 24 poz. (Materials Today: Proceedings ; vol. 2, iss. 7 2214-7853)

powłoka cienka ; dwukierunkowa funkcja rozkładu odbicia

thin film ; bidirectional reflection distribution function

stosując format:
Nowe wyszukiwanie