Wynik wyszukiwania
Zapytanie: LONCIERZ B
Liczba odnalezionych rekordów: 7



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu: 0000008471   
Patent. Polska, nr 176 712. Sposób wyznaczania czasu życia nośników ładunku elektrycznego w półprzewodnikach. Int. Cl. G01R 31/26.
Politechnika Śląska, Polska
Twórcy: Marian** Nowak, B. Loncierz.
Zgłosz. nr 306 613 z 28.12.1994. Opubl. 30.07.1999, 3 s.

2/7
Nr opisu: 0000025891
Determining temperature dependence of carrier lifetime using contactless PEM investigations of semiconductors.
[Aut.]: B. Loncierz, Marian** Nowak.
W: National Symposium on Crystalline Microstructures, Poznań, 2-4 July 1997. Ed. M. Oszwałdowski. Institute of Physics. Technical University of Poznań, Polish Society for Crystal Growth. Poznań : Ośrodek Wydaw. Naukowych, 1998, s. 135-136, bibliogr. 3 poz. (Molecular Physics Reports ; vol. 21 1505-1250)

3/7
Nr opisu: 0000009558
Bezkontaktowa metoda fotomagnetoelektryczna wyznaczania czasu życia nośników ładunku elektrycznego w półprzewodnikach.
[Aut.]: B. Loncierz, Marian** Nowak.
W: Podstawy fizyczne badań nieniszczących. Materiały II krajowej konferencji, Gliwice [3-5 września] 1997. Gliwice : Instytut Fizyki Politechniki Śląskiej, 1997, s. 185-192, bibliogr. 24 poz.

4/7
Nr opisu: 0000027797
Determining carrier lifetime using frequency dependence in contactless photoelectromagnetic investigations of GaAs:Te, GaAs:Si, and MQW on GaAs.
[Aut.]: B. Loncierz, Marian** Nowak.
W: Solid state crystals in optoelectronics and semiconductor technology, Zakopane, Poland, 7-11 October 1996. Eds: A. Rogalski [i in.]. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 1997, s. 151-157, bibliogr. 18 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 3179 0277-786X)

5/7
Nr opisu: 0000009549
Kalibracja aparatury do badań półprzewodników bezkontaktową metodą fotomagnetoelektryczną.
[Aut.]: B. Loncierz, Marian** Nowak.
W: Podstawy fizyczne badań nieniszczących. Materiały II krajowej konferencji, Gliwice [3-5 września ] 1997. Gliwice : Instytut Fizyki Politechniki Śląskiej, 1997, s. 177-183, bibliogr. 2 poz.

6/7
Nr opisu: 0000035036
Nowe stanowiska badawcze w ZFCS Instytutu Fizyki Politechniki Śląskiej.
[Aut.]: Andrzej Grabowski, Janusz* Jaglarz, Mirosława Kępińska, B. Loncierz, Marian** Nowak, Anna Starczewska.
-Zesz. Nauk. PŚl., Mat. 1996 z. 73, s. 91-115, bibliogr. 16 poz.

7/7
Nr opisu: 0000033247   
Determining carrier lifetime using frequency dependence in contactless photoelectromagnetic investigations of semiconductors.
[Aut.]: B. Loncierz, R. Murri, Marian** Nowak.
-Thin Solid Films 1995 vol. 266 iss. 2, s. 274-277, bibliogr. 26 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie