Wynik wyszukiwania
Zapytanie: KOPEĆ M
Liczba odnalezionych rekordów: 24



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/24
Nr opisu: 0000115286   
Porównanie wybranych własności mechanicznych PMMA sieciującego na gorąco z PMMA sieciującym na zimno.
[Aut.]: M. Kopeć, Katarzyna* Paluch, Katarzyna* Sobolewska, Tomasz Tański, Grzegorz Chladek.
W: Zeszyty studenckich kół naukowych. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2017, s. 67-84, bibliogr. 14 poz. (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska z. 2)

PMMA ; sieciowanie polimeru ; proteza ; wytrzymałość ; mikrotwardość

PMMA ; polymer cross-linking ; prosthesis ; strength ; microhardness

2/24
Nr opisu: 0000097319   
Wpływ nakładania kolejnych warstw porcelany stomatologicznej na zmianę barwy metalowo-ceramicznej protezy.
[Aut.]: K. Birowski, A. Buczek, A. Budziszewska, J. Karkoszka, M. Kopeć, S. Lasok, Łukasz Reimann.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'15". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2015, s. 1-8, bibliogr. 5 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 35)

ceramika stomatologiczna ; napalanie ; barwa ; pomiar barwy ; korona protetyczna

dental ceramics ; firing ; colour ; colour measurement ; prosthetic crown

3/24
Nr opisu: 0000061262   
Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
-Prz. Elektrot. 2010 R. 86 nr 11a, s. 133-137, bibliogr. 22 poz.. Impact Factor 0.242

liniowy rejestr pierścieniowy ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; przesłuchy ; sieć połączeń

linear ring register ; test pattern generator ; System on Chip ; crosstalks ; interconnection network

4/24
Nr opisu: 0000059176
An Interconnect BIST for crosstalk faults based on a Ring LFSR.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
W: Proceedings of IEEE East-West Design and Test Symposium. EWDTS'09, Moscow, Russia, September 18-21, 2009. Moscow : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 381-384

5/24
Nr opisu: 0000056505
Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, Łódź, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 530-535

6/24
Nr opisu: 0000051249   
Application of modified ring LFSRs for interconnect faults detection.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2008, s. 487-492, bibliogr. 16 poz.

test połączeń ; wbudowane samotestowanie ; BIST ; połączenie BIST ; IBIST

interconnect test ; built-in self test ; BIST ; interconnect BIST ; IBIST

7/24
Nr opisu: 0000048018   
Interconnect faults identification and localization using modified ring LFSRs.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 247-250, bibliogr. 12 poz.

LFSR ; diagnostyka błędów ; przesłuch ; wykrywanie błędów

LFSR ; fault diagnosis ; crosstalk ; fault detection

8/24
Nr opisu: 0000039319
On application of polynomial algebra for identification of dynamic faults in interconnects.
[Aut.]: M. Kopeć, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
-Kwart. Elektron. Telekom. 2008 t. 54 z. 1, s. 29-41, bibliogr. 13 poz.

tester wbudowany ; IBIST ; uszkodzenie ; chińskie twierdzenie o resztach ; częstotliwość operacyjna

Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; fault ; Chinese Remainder Theorem ; operating frequency

9/24
Nr opisu: 0000031627   
Avoiding crosstalk influence on interconnect delay fault testing.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
W: Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 149-152, bibliogr. 10 poz.

10/24
Nr opisu: 0000031907   
Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.

test połączeń ; uszkodzenie opóźnieniowe ; przesłuch ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; metoda test-per-clock

interconnect test ; delay fault ; crosstalk ; fault location ; fault identification ; test-per-clock method

11/24
Nr opisu: 0000040204
Reliable measurement of interconnect delays in presence of crosstalk-induced noise.
[Aut.]: M. Kopeć, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
W: 12th IEEE European Test Symposium. ETS '07, Freiburg, Germany, May 20-24, 2007. Informal digest of papers. [B.m.] : [b.w.], 2007, s. 167-172

12/24
Nr opisu: 0000029027
Multi-signature analysis for interconnect test.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, M. Kopeć, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2006. Proceedings of the international conference, Gdynia, Poland, 22-24 June 2006. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2006, s. 577-582, bibliogr. 15 poz.

13/24
Nr opisu: 0000021755   
On the use of multi-signature analysis for interconnect test.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, M. Kopeć, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 2006 R. 47 nr 10, s. 16-18

14/24
Nr opisu: 0000020264
Can a D flip-flop based MISR compactor reliability detect interconnect faults?.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
W: Proceedings of 8th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS 2005, Sopron, Hungary, April 13-16, 2005. Eds: G. Takach [et al.]. Sopron : University of West Hungary, 2005, s. 2-10

15/24
Nr opisu: 0000014398
On detection of interconnect faults by a MISR compactor - unknown problems and new solutions.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
-Arch. Informat. Teor. Stosow. 2005 t. 17 z. 2, s. 109-126, bibliogr. 19 poz.

BIST ; generator obrazu kontrolnego ; MISR

BIST ; test pattern generator ; MISR

16/24
Nr opisu: 0000016479
A new efficiently tested MISR-NOT compactor for soft-repairable digital circuits.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
W: Design and diagnostics of electronic circuits and systems. DDECS'2003. Sixth International IEEE Workshop, Poznań, Poland, April 14-16, 2003. Proceedings. Poznań University of Technology [et al.]. Poznań : Wydaw. Politechniki Poznańskiej, 2003, s. 219-226

17/24
Nr opisu: 0000003151
Functional and dependable testing of identical digital structures on wafer.
[Aut.]: W. Gamża, Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
-Arch. Informat. Teor. Stosow. 2002 t. 14 z. 3, s. 203-217, bibliogr. 8 poz.

18/24
Nr opisu: 0000002507
Metoda wiarygodnego funkcjonalnego testowania identycznych struktur cyfrowych na płytce krzemowej.
[Aut.]: W. Gamża, Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - Dźwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 421-426, bibliogr. 6 poz.

19/24
Nr opisu: 0000000238
Projektowanie, ustawianie i testowanie szybkich generatorów testów typu CA złożonych z komórek o prawidłach 150/90.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
-Arch. Informat. Teor. Stosow. 2000 t. 12 z. 4, s. 265-287, bibliogr. 12 poz.

20/24
Nr opisu: 0000044839
Testowanie i projektowanie łatwo testowalnych układów i pakietów cyfrowych. Praca zbiorowa. Cz. 2. Pod red. A. Hławiczki.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, Adam Kristof, M. Kopeć, Krzysztof* Gucwa, Janusz* Muszyński, D. Badura.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 1994, 78 s., bibliogr.
(Skrypty Uczelniane ; Politechnika Śląska nr 1788 0434-0825)

21/24
Nr opisu: 0000044900
Nowe układy scalone do realizacji sprzęgu P1149.3.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć, M. Chachulski, A. Boszko.
-Elektronika 1993 R. 34 nr 5, s. 10-15, bibliogr. 15 poz.

22/24
Nr opisu: 0000045274
Properties of the rule 150/90 cellular automata-based MISRs and LFSRs used in Built-In Self-Test.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
-Arch. Informat. Teor. Stosow. 1993 t. 5 z. 1, s. 181-203, bibliogr. 15 poz.

23/24
Nr opisu: 0000045559   
Patent. Polska, nr 161 799. Sposób i układ elektryczny do wykrywania nieszczelności rur powierzchni grzewczych kotłów parowych, zwłaszcza mających tendencje do okresowego występowania dominujących składowych widma tła akustycznego w zakresie częstotliwości poniżej 300 Hz. Int. Cl. G01M 3/24, G01R 23/165.
Politechnika Śląska, Elektrownia "RYBNIK", Polska
Twórcy: Marek** Kurowicz, Henryk** Szepe, T. Sopicki, Jerzy** Antoniak, Tadeusz Chmielniak, M. Kopeć.
Zgłosz. nr 283 133 z 29.12.1989. Opubl. 30.07.1993, 4 s., 1 tabl.

24/24
Nr opisu: 0000052506
Ułatwienie testowania systemów cyfrowych przy użyciu standardu P1149.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
-Elektronika 1992 R. 33 nr 7, s. 8-14, bibliogr. 20 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie