Wynik wyszukiwania
Zapytanie: KASZCZYSZYN S
Liczba odnalezionych rekordów: 7



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu: 0000063330   
Theoretical analysis of electro-optical characteristics of the modified three cylindrical mirror analyzer.
[Aut.]: Sz. Klein, S. Kaszczyszyn, A. Grzeszczak, Piotr* Kościelniak.
-Opt. Appl. 2010 vol. 40 no. 2, s. 521-526, bibliogr. 7 poz.. Impact Factor 0.347

analizator zwierciadlany cylindryczny ; analizator TCMA ; metoda Bashfortha-Adamsa-Moultona

cylindrical mirror analyzer ; TCMA analyzer ; Bashforth-Adams-Moulton method

2/7
Nr opisu: 0000001896
Multiple-technique electron spectrometer for investigation of semiconductor surfaces and interfaces.
[Aut.]: Jacek Szuber, Piotr* Kościelniak, S. Kaszczyszyn.
-Elektronika 2001 R. 42 nr 8/9, s. 74-75, bibliogr. 17 poz.

3/7
Nr opisu: 0000019561   
Patent. Polska, nr 191 978. Cylindryczny analizator zwierciadlany energii cząstek naładowanych. Int. Cl. H01J 49/08, G01N 23/227.
Politechnika Śląska, Polska
Twórcy: Piotr* Kościelniak, S. Kaszczyszyn, Jacek Szuber.
Zgłosz. nr 340 741 z 12.06.2000. Opubl. 31.07.2006, 4 s.

4/7
Nr opisu: 0000004368
Surface photovoltage spectroscopy system for in situ studies of metal phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Marek* Bilski, S. Kaszczyszyn, Lucyna Grządziel, Bogusława Adamowicz, Jacek Szuber.
W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 289-291, bibliogr. 19 poz. (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)

5/7
Nr opisu: 0000008080
Application of the unipole mass filter for determination of the partial pressure of gases with near atomic mass number.
[Aut.]: Aleksander Król, Jacek Szuber, S. Kaszczyszyn.
W: Proceedings of the 19th International Seminar on Surface Physics, Polanica-Zdrój, Poland, 15-19 June 1998. Eds: T. L. Barr [i in.]. [B.m.] : Pergamon Press, 1999, s. 205-209, bibliogr. 10 poz. (Vacuum ; vol. 54, nr 1-4 0042-207X)

6/7
Nr opisu: 0000025761
Application of the unipole mass filter (UMF) for determination of partial pressuress of gases with near atomic masses.
[Aut.]: Aleksander Król, Jacek Szuber, S. Kaszczyszyn.
W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 505-507, bibliogr. 5 poz. (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)

7/7
Nr opisu: 0000003045
Mikrokomputerowy układ sterowania i rejestracji widm spektrometru masowego typu unipolarnego filtru mas.
[Aut.]: Michał* Piwowarczyk, S. Kaszczyszyn, Jacek Szuber.
W: Technologia elektronowa. V Konferencja naukowa. ELTE '94, Szczyrk, 20.04-23.04.1994. T. 1. Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej. Warszawa : Oficyna Wydaw. Politechniki Warszawskiej, 1994, s. 285-287, bibliogr. 5 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie