Wynik wyszukiwania
Zapytanie: KARCZEWSKA-BUCZEK T
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000023749   
O działalności badawczej, wdrożeniowej i dydaktycznej w dziedzinie trwałości i ochrony budowli przed korozją.
[Aut.]: Adam** Zybura, J. Karyś, A. Sokalska, A. Garbacz, M. Fiertak, T. Karczewska-Buczek.
-Ochr. przed Koroz. 2007 R. 50 nr 1, s. 2-9

ochrona budynku ; ochrona przed korozją ; ośrodek naukowo-badawczy ; stowarzyszenie pozainstytucjonalne ; badanie naukowe ; wdrożenie ; edukacja

building protection ; corrosion protection ; research and development center ; non-institutional organization ; scientific research ; implementation ; education

2/6
Nr opisu: 0000088545
Optimisation of morphology SnO2 thin films grown by RGTO method.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, T. Karczewska-Buczek, Krzysztof Waczyński, Dorota* Koziej, Jacek Szuber.
W: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002. Lausanne : Elsevier, 2003, s. 53 (Thin Solid Films ; vol. 436, iss. 1 0040-6090). Impact Factor 0.598

3/6
Nr opisu: 0000088528
Badania nad stabilnością sensorycznych warstw dwutlenku cyny technologią RTGO (Rheotaxial Growth and Thermal Oxidation).
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, T. Karczewska-Buczek.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2000. VII Konferencja naukowa, Polanica Zdrój, 18-22 września 2000. [Dokument elektroniczny]. Wrocław : Politechnika Wrocławska, 2000, dysk optyczny (CD-ROM) MS11

4/6
Nr opisu: 0000000124
Microscopic study of the structure of the SnO2 thin films obtained by RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: Optoelectronic and electronic sensors IV. [Conference], Gliwice, Poland, 13-16 June 2000. Ed. J. Frączek. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2000, s. 26-31, bibliogr. 3 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 4516 0277-786X)

5/6
Nr opisu: 0000088529
Microscopic study of the structure of the SnO2 thin films obtained by the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: XXIV International Conference IMAPS - Poland 2000, Rytro, 25-29 September 2000. Proceedings. Kraków : Research and Development Centre for Hybrid Microelectronics and Resistors, 2000, s. 247-254

6/6
Nr opisu: 0000017977
Mikroskopowe badania struktury warstw SnO2 wytworzonych techniką RGTO.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE'2000. VI Konferencja naukowa, Gliwice, 13-16 czerwca 2000. T. 1: Prezentacje sesyjne. Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach. Gliwice : Komisja Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, 2000, s. 112-123, bibliogr. 6 poz. (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach ; Seria: Konferencje ; nr 2)

stosując format:
Nowe wyszukiwanie