Wynik wyszukiwania
Zapytanie: JAGLARZ J
Liczba odnalezionych rekordów: 21



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/21
Nr opisu: 0000105476   
Niestandardowe metody optyczne w badaniach powierzchni elektrochemicznie spasywowanego stopu Ti6Al7Nb.
[Aut.]: N. Wolska, J. Jaglarz, Janusz Szewczenko.
-Ochr. przed Koroz. 2016 R. 59 nr 3, s. 74-78, bibliogr. 13 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

stop Ti6Al7Nb ; BRDF ; dwukierunkowa funkcja rozkładu odbicia ; rozpraszanie światła ; optyka warstw cienkich ; warstwa pasywna

Ti6Al7Nb alloy ; BRDF ; bidirectional reflection distribution function ; light scattering ; thin films optics ; passive layer

2/21
Nr opisu: 0000099686   
Niestandardowe metody optyczne w badaniach powierzchni pasywowanych elektrochemicznie stopów TiAl4. [Krótkie doniesienia].
[Aut.]: N. Wolska, J. Jaglarz, Janusz Szewczenko, Marcin Basiaga.
-Ochr. przed Koroz. 2015 R. 58 nr 5, s. 205. Punktacja MNiSW 12.000

stop TiAl ; pasywowanie ; metoda optyczna

TiAl alloy ; passivating ; optical method

3/21
Nr opisu: 0000103752   
Nonstandard optical methods as a tool for rough surface analysis.
[Aut.]: J. Jaglarz, Janusz Szewczenko, K. Marszałek, Marcin Basiaga, M. Marszałek.
W: 7th International Symposium on Macro- and Supramolecular Architectures and Materials, [Johannesburg, South Africa, 23-27 November 2014]. Ed. by Sabelo Mhlanga, Lucky Sikhwivhilu, Tshepo Malefetse and Richard Harris. Amsterdam : Elsevier, 2015, s. 4046-4052, bibliogr. 24 poz. (Materials Today: Proceedings ; vol. 2, iss. 7 2214-7853)

powłoka cienka ; dwukierunkowa funkcja rozkładu odbicia

thin film ; bidirectional reflection distribution function

4/21
Nr opisu: 0000092466   
Thermo-optical properties of 1H[3,4-b] quinoline films used in electroluminescent devices.
[Aut.]: J. Jaglarz, Mirosława Kępińska, J. Sanetra.
-Opt. Mater. 2014 vol. 36 iss. 8, s. 1275-1280, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.981. Punktacja MNiSW 35.000

elipsometria spektroskopowa ; właściwości termooptyczne ; warstwa chinoliny

spectroscopic ellipsometry ; thermo-optical coefficient ; quinoline film

5/21
Nr opisu: 0000087861   
Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys.
[Aut.]: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga, J. Kurzyk, Zbigniew Paszenda.
-Opt. Appl. 2013 vol. 43 no. 1, s. 173-180, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 0.643. Punktacja MNiSW 15.000

biomateriały ; Ti6Al7Nb ; warstwa pasywna ; rozpraszanie światła ; dwukierunkowa funkcja rozkładu odbicia ; BRDF ; optyka cienkich warstw

biomaterials ; Ti6Al7Nb ; passive layer ; light scattering ; bidirectional reflection distribution function ; BRDF ; thin films optics

6/21
Nr opisu: 0000086702
Topografia i grubość warstw węglowych wytworzonych na stali martenzytycznej przeznaczonej na narzędzia chirurgiczne.
[Aut.]: Marta Kiel-Jamrozik, Marcin Basiaga, Zbigniew Paszenda, J. Jaglarz.
W: Zastosowania elektromagnetyzmu w nowoczesnych technikach i medycynie. XXIII Sympozjum Środowiskowe PTZE, Mikołajki, 16-19 czerwca 2013. PTZE Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu [i in.]. Warszawa : Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu, 2013, s. 116-118

narzędzia chirurgiczne ; stal martenzytyczna ; warstwa węglowa ; odporność korozyjna

surgical tools ; martensitic steel ; carbon coating ; corrosion resistance

7/21
Nr opisu: 0000088781   
Topografia i grubość warstw węglowych wytworzonych na stali martenzytycznej przeznaczonej na narzędzia chirurgiczne.
[Aut.]: Marta Kiel-Jamrozik, Marcin Basiaga, Janusz Szewczenko, Zbigniew Paszenda, J. Jaglarz.
-Prz. Elektrot. 2013 R. 89 nr 12, s. 317-319, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

DLC ; warstwa węglowa ; stal martenzytyczna ; X39Cr13 ; spektroskopia elipsometryczna ; narzędzia chirurgiczne

DLC ; carbon coating ; martensitic steel ; X39Cr13 ; ellipsometric spectroscopy ; surgical tools

8/21
Nr opisu: 0000073603
Badania topografii i grubości warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga, E. Skoczek.
W: Zastosowania elektromagnetyzmu w nowoczesnych technikach i informatyce. XXII Sympozjum środowiskowe PTZE, Sandomierz, 9-12 września 2012. PTZE Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu [ i in.]. Warszawa : Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu, 2012, s. 203-205

stop Ti6Al4V ; warstwa pasywna ; biomateriał metalowy ; topografia

Ti6Al4V alloy ; passive layer ; metallic biomaterial ; topography

9/21
Nr opisu: 0000071981
Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys.
[Aut.]: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga.
W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1, bibliogr. 2 poz.

10/21
Nr opisu: 0000073913   
Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych.
[Aut.]: E. Skoczek, J. Cisowski, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, B. Jarząbek.
-Mater. Ceram. 2012 R. 64 nr 2, s. 282-285, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

cienka warstwa krzemowa ; podłoże krzemowe ; porowata krzemionka ; zol-żel ; elipsometria spektroskopowa

thin silica film ; silicon substrate ; porous silica ; sol-gel ; spectroscopic ellipsometry

11/21
Nr opisu: 0000076148   
Topografia i grubość warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga, J. Kurzyk, E. Skoczek, Zbigniew Paszenda.
-Prz. Elektrot. 2012 R. 88 nr 12b, s. 228-231, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

stop Ti-6Al-4V ; biomateriały ; warstwa pasywna ; światło ; rozpraszanie ; warstwa cienka ; optyka cienkich warstw

Ti6Al4V alloy ; biomaterials ; passive layer ; light ; scattering ; thin film ; thin films optics

12/21
Nr opisu: 0000068198   
Ellipsometric and spectrophotometric investigations of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: E. Skoczek, J. Jaglarz, Paweł Karasiński.
-Acta Phys. Pol. A 2011 vol. 120 no. 4, s. 732-735, bibliogr. 12 poz.. Impact Factor 0.444. Punktacja MNiSW 15.000

metoda zol-żel ; warstwa krzemionkowa ; SiO2

sol-gel method ; silica thin film ; SiO2

13/21
Nr opisu: 0000087947
Ellipsometric and spectrophotometric investigations of the optical properties of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: E. Skoczek, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, J. Mazur.
W: Integrated optics - sensors, sensing structures and methods. IOS 2011, Szczyrk - Beskidy Mountains, Poland, 28th February to 4th March 2011. Program. [B.m.] : [b.w.], 2011, s. [24]

14/21
Nr opisu: 0000067731   
Optical properties of silica antireflective films formed in sol-gel processes.
[Aut.]: J. Jaglarz, Paweł Karasiński, E. Skoczek.
-Phys. Status Solidi, C Curr. Top. Solid State Phys. 2011 vol. 8 iss. 9, s. 2645-2648, bibliogr. 9 poz.

antyrefleksyjna powłoka ; krzemionka porowata ; elipsometria ; zol-żel

antireflective coating ; porous silica ; ellipsometry ; sol-gel

15/21
Nr opisu: 0000066301   
Optical rib waveguides based on sol-gel derived silica-titania films.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Roman Rogoziński, J. Jaglarz, Jacek* Mazur.
-Thin Solid Films 2011 vol. 519 iss. 16, s. 5544-5551, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

zol-żel ; powłoka krzemionkowo-tytanowa ; światłowód planarny ; światłowód żebrowy

sol-gel ; silica-titania film ; planar waveguide ; rib waveguide

16/21
Nr opisu: 0000067997   
Porous silica xerogel films as antireflective coatings. Fabrication and characterization.
[Aut.]: Paweł Karasiński, J. Jaglarz, M. Reben, E. Skoczek, Jacek* Mazur.
-Opt. Mater. 2011 vol. 33 iss. 12, s. 1989-1994, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 2.023. Punktacja MNiSW 30.000

krzemionka porowata ; zol-żel ; powłoka antyrefleksyjna

porous silica ; sol-gel ; antireflective coating

17/21
Nr opisu: 0000056556   
Low loss silica-titania waveguide films.
[Aut.]: Paweł Karasiński, J. Jaglarz, Jacek* Mazur.
-Photonics Lett. Pol. 2010 vol. 2 iss. 1, s. 37-39, bibliogr. 9 poz.

18/21
Nr opisu: 0000063444   
Optical investigations of AlSiSiC composites subjected to laser CO2 annealing.
[Aut.]: J. Jaglarz, Andrzej Grabowski.
-Opt. Laser Eng. 2010 vol. 48 nr 10, s. 1038-1044, bibliogr. 17 poz.. Impact Factor 1.576

materiały kompozytowe ; odbicie optyczne ; rozproszenie optyczne ; elipsometria spektroskopowa

composite materials ; optical reflection ; optical scattering ; spectroscopic ellipsometry

19/21
Nr opisu: 0000082872
Porous silica xerogel films as antireflective coatings - fabrication and characterization.
[Aut.]: Paweł Karasiński, J. Jaglarz, M. Reben, A. Mazur.
W: XXII International Congress on Glass. ICG 2010, Bahia, Brazil, September 20-25, 2010. Proceedings. Eds: J. R. Martinelli, S. M. Toffoli, L. C. Barbosa. [Brasil] : [ABIVIDRO - Associacao Tecnica Brasileira das Industrias Automaticas de Vidro], 2010, s. 1-9, bibliogr.

20/21
Nr opisu: 0000063114
Warstwy falowodowe SiO2:TiO2 o ultra niskiej tłumienności.
[Aut.]: Paweł Karasiński, J. Jaglarz, Jacek* Mazur.
W: Światłowody i ich zastosowania. TAL 2009. XII Konferencja, Lublin - Krasnobród, 14-17 października 2009. Referaty i komunikaty. Lublin : Wydaw. Liber Duo, 2009, s. 243-248, bibliogr. 4 poz.

21/21
Nr opisu: 0000048698
Optical investigations of macro and microporous silicon antireflection coating.
[Aut.]: J. Jaglarz, M. Lipiński, Paweł Karasiński.
W: Optical fibres and their applications 2008, Białowieża, Poland, 30 January - 2 February 2008. Eds: J. Dorosz [et al.]. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2008, s. 71200D - 71200D-5 (Proceedings of SPIE ; vol. 7120 0277-786X)

stosując format:
Nowe wyszukiwanie