Wynik wyszukiwania
Zapytanie: GRZESZCZAK A
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000103131   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation after air exposure.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, A. Grzeszczak, Jacek Szuber.
-Cryst. Res. Technol. 2015 vol. 50 iss. 11, s. 884-890, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 0.908. Punktacja MNiSW 20.000

tlenek indu ; In2O3 ; powłoka cienka ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

indium oxide ; In2O3 ; ultrathin film ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

2/2
Nr opisu: 0000063330   
Theoretical analysis of electro-optical characteristics of the modified three cylindrical mirror analyzer.
[Aut.]: Sz. Klein, S. Kaszczyszyn, A. Grzeszczak, Piotr* Kościelniak.
-Opt. Appl. 2010 vol. 40 no. 2, s. 521-526, bibliogr. 7 poz.. Impact Factor 0.347

analizator zwierciadlany cylindryczny ; analizator TCMA ; metoda Bashfortha-Adamsa-Moultona

cylindrical mirror analyzer ; TCMA analyzer ; Bashforth-Adams-Moulton method

stosując format:
Nowe wyszukiwanie