Wynik wyszukiwania
Zapytanie: FLEMING A
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000133028   
Thermophysical properties of refractory W-50.4%Re and Mo-39.5%Re thin alloy layers deposited on silicon and silica substrates.
[Aut.]: Dominika Trefon-Radziejewska, Justyna Juszczyk, A. Fleming, J. Podwórny, M. Chirtoc, N. Horny, Adriana Wrona, M. Lis, Michał Mazur, D. Wojcieszak, D. Kaczmarek, Jerzy Bodzenta.
-Int. J. Refract. Met. Hard Mat. 2020 vol. 87, art. no. 105147 s. 1-8, bibliogr. 44 poz.. Impact Factor 3.407. Punktacja MNiSW 140.000

stopy ogniotrwałe ; stopy renu ; powłoki ; właściwości termofizyczne ; przewodność cieplna ; mikrostruktura

refractory alloys ; rhenium alloys ; films ; thermophysical properties ; thermal conductivity ; microstructure

2/3
Nr opisu: 0000120189   
Thermal characterization of metal phthalocyanine layers using photothermal radiometry and scanning thermal microscopy methods.
[Aut.]: Dominika Trefon-Radziejewska, Justyna Juszczyk, A. Fleming, N. Horny, J. S. Antoniow, M. Chirtoc, Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta.
-Synth. Met. 2017 vol. 232, s. 72-78, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 2.526. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; metaloftalocyjanina ; przewodność cieplna ; skaningowa mikroskopia termiczna ; mikroskopia sił atomowych ; radiometria fototermiczna

organic semiconductor ; metal phthalocyanine ; thermal conductivity ; scanning thermal microscopy ; atomic force microscopy ; photothermal radiometry

3/3
Nr opisu: 0000106991   
Quantitative thermal microscopy measurement with thermal probe driven by dc+ac current.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta, Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, P. Firek, A. Fleming, M. Chirtoc.
-Int. J. Thermophys. 2016 vol. 37 iss. 7, s. 1-17, bibliogr. 60 poz.. Impact Factor 0.745. Punktacja MNiSW 20.000

metoda elementów skończonych ; analiza numeryczna ; skaningowa mikroskopia termiczna ; pomiar przewodności cieplnej ; warstwa cienka

finite element method ; numerical analysis ; scanning thermal microscopy ; thermal conductivity measurement ; thin layer

stosując format:
Nowe wyszukiwanie