Wynik wyszukiwania
Zapytanie: DRABCZYK K
Liczba odnalezionych rekordów: 27



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/27
Nr opisu: 0000125188   
Borosilicate spray-on glass solutions for fabrication silicon solar cell back surface field.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, K. Drabczyk, Edyta Wróbel, P. Sobik, Krzysztof Waczyński, Natalia Waczyńska-Niemiec.
-Microelectron. Int. 2018 vol. 35 iss. 3, s. 172-176, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.608. Punktacja MNiSW 20.000

back-surface field ; diffusion process ; dopant sources ; silicon solar cells

2/27
Nr opisu: 0000118488   
Spray-on glass solution for fabrication silicon solar cell emitter layer.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Edyta Wróbel, K. Drabczyk, Krzysztof Waczyński, G. Kulesza-Matlak, M. Lipiński.
-Microelectron. Int. 2017 vol. 34 iss. 3, s. 149-153, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.608. Punktacja MNiSW 20.000

warstwa emiterowa ; krzemowe ogniwo słoneczne ; roztwór domieszkowy

emitter layer ; silicon solar cell ; spray-on glass solution ; dopant solution

3/27
Nr opisu: 0000107789   
Comparison of diffused layer prepared using liquid dopant solutions and pastes for solar cell with screen printed electrodes.
[Aut.]: K. Drabczyk, Edyta Wróbel, G. Kulesza-Matlak, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, M. Lipiński.
-Microelectron. Int. 2016 vol. 33 iss. 3, s. 167-171, bibliogr. 10 poz.. Impact Factor 0.737. Punktacja MNiSW 20.000

druk sitowy ; elektroda przednia ; proces dyfuzyjny ; krzemowe ogniwo słoneczne

screen printing ; front electrode ; diffusion process ; silicon solar cell ; Dopant source

4/27
Nr opisu: 0000104458   
Electroluminescence imaging for determining the influence of metallization parameters for solar cell metal contacts.
[Aut.]: K. Drabczyk, G. Kulesza-Matlak, Aleksandra Drygała, Marek Szindler, M. Lipiński.
-Sol. Energy 2016 vol. 126, s. 14-21, bibliogr.. Impact Factor 4.018. Punktacja MNiSW 35.000

ogniwo słoneczne ; obrazowanie elektroluminescencyjne ; proces metalizacji ; elektroda metalowa

solar cell ; electroluminescence imaging ; metallization process ; metal electrode

5/27
Nr opisu: 0000104926
Comparison of diffused layer prepared using dopant liquid solutions and pastes for solar cell with screen printed electrodes.
[Aut.]: K. Drabczyk, Edyta Wróbel, G. Kulesza-Matlak, Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, M. Lipiński.
W: 39th International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland Conference, Gdańsk, September 20-23, 2015. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 1-5

6/27
Nr opisu: 0000065604   
Badanie właściwości cienkich warstw antyrefleksyjnych z dwutlenku tytanu w strukturze ogniwa fotowoltaicznego.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, K. Drabczyk.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 77-79, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

warstwa antyrefleksyjna ; dwutlenek tytanu ; ogniwo fotowoltaiczne

antireflection layer ; titanium dioxide ; photovoltaic cell

7/27
Nr opisu: 0000065602   
Badanie właściwości cienkich warstw pasywujących z SiO2 w strukturze ogniwa fotowoltaicznego.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Natalia Waczyńska, K. Drabczyk, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 55-57, bibliogr. 3 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

fotowoltaika ; ogniwo fotowoltaiczne ; ogniwo słoneczne ; warstwa pasywująca

photovoltaics ; photovoltaic cell ; solar cell ; passivates layer

8/27
Nr opisu: 0000065603   
Efektywne wartości współczynnika dyfuzji dla modelu domieszkowania dyfuzyjnego warstwy emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, A. Skwarek, K. Drabczyk.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 57-59, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

struktura fotowoltaiczna ; ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; symulacja komputerowa

photovoltaic structure ; solar cell ; emitter layer ; computer simulation

9/27
Nr opisu: 0000057181   
Badania nad możliwościami jednorodnego domieszkowania warstwy emiterowej struktury fotowoltaicznej w niskiej temperaturze procesu dyfuzji.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 5, s. 60-62, bibliogr. 4 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; szkliwo domieszkowe ; domieszkowanie ; rezystancja powierzchniowa

solar cell ; emitter layer ; silica glasses ; doping ; sheet resistance

10/27
Nr opisu: 0000057183   
Model dyfuzji fosforu w krzemie wykorzystywany do wyznaczania profilu koncentracji domieszki w warstwie emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 5, s. 102-105, bibliogr. 21 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; domieszkowanie ; fotowoltaika

solar cell ; emitter layer ; photovoltaics ; doping

11/27
Nr opisu: 0000059111
Badania nad możliwościami jednorodnego domieszkowania warstwy emiterowej struktury fotowoltaicznej w niskiej temperaturze procesu dyfuzji.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, K. Drabczyk.
W: I Krajowa Konferencja Fotowoltaiki, Krynica Zdrój, 9-11 października 2009. [Dokument elektroniczny]. [Kraków] : [Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk], 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6

12/27
Nr opisu: 0000059179
Effective coefficient of phosphorus diffusion in silicon for doping emitter layer of solar cell.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
W: XXXIII International Conference of IMAPS - CPMT IEEE Poland, Pszczyna, 21-24 September 2009. Proceedings. [Dokument elektroniczny]. Eds: Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński. Gliwice : Silesian University of Technology, 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 126-131

13/27
Nr opisu: 0000059082
Model dyfuzji fosforu w krzemie wykorzystywany do wyznaczania profilu koncentracji domieszki w warstwie emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, K. Drabczyk.
W: I Krajowa Konferencja Fotowoltaiki, Krynica Zdrój, 9-11 października 2009. [Dokument elektroniczny]. [Kraków] : [Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk], 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-14

14/27
Nr opisu: 0000059180
Research on feasibility of homogenous emitter layer doping of photovoltaic structure.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
W: XXXIII International Conference of IMAPS - CPMT IEEE Poland, Pszczyna, 21-24 September 2009. Proceedings. [Dokument elektroniczny]. Eds: Piotr Kowalik, Krzysztof Waczyński. Gliwice : Silesian University of Technology, 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 132-137

15/27
Nr opisu: 0000083688
Wytwarzanie ogniw fotowoltaicznych z wykorzystaniem metody sitodruku.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Małgorzata Musztyfaga, Aleksandra Drygała, P. Panek, K. Drabczyk, P. Zięba.
W: I Krajowa Konferencja Fotowoltaiki, Krynica Zdrój, 9-11 października 2009. [Dokument elektroniczny]. [Kraków] : [Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polskiej Akademii Nauk], 2009, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-9, bibliogr. 20 poz.

16/27
Nr opisu: 0000036430   
Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach nad formowaniem powierzchni krzemowych ogniw słonecznych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, P. Panek, K. Drabczyk, A. Olechowska.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 1, s. 83-86, bibliogr. 8 poz.

krzemowe ogniwo słoneczne ; mikroskop sił atomowych ; krzem monokrystaliczny ; krzem multikrystaliczny ; warstwa porowata ; trawienie

silicon solar cell ; atomic force microscope ; monocrystalline silicon ; multicrystalline silicon ; porous layer ; etching

17/27
Nr opisu: 0000040377
Atomic force microscope investigation of silicon surface for solar cells.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Wojciech Filipowski, K. Drabczyk, A. Olechowska, Edyta Wróbel, P. Panek.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 185

18/27
Nr opisu: 0000036467
Investigation of laser texturization for multicrystalline.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Aleksandra Drygała, P. Panek, K. Drabczyk, P. Zięba.
W: Thermal processing and surface engineering: key activities in the global knowledge economy. The 16th International Federation for Heat Treatment and Surface Engineering (IFHTSE) Congress, Brisbane, Australia, 30th October to 1st November 2007. Proceedings. [B.m.] : [b.w.], 2007, s. 237

19/27
Nr opisu: 0000039575
Technologia wytwarzania multikrystalicznych ogniw fotowoltaicznych.
[Aut.]: Anna* Janikowska, Aleksandra Drygała, M. Lipiński, K. Drabczyk.
W: Kongres Studenckich Kół Naukowych "CO-KÓŁ'07". Impreza towarzysząca światowemu kongresowi COMMENT 2007, Gliwice, 25 maja 2007 r.. Red. Wojciech Sitek. Gliwice : [Komitet Organizacyjny Międzynarodowych Konferencji Naukowych Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej], 2007, s. 79-84, bibliogr. 7 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 12)

fotowoltaika ; ogniwo słoneczne ; krzem multikrystaliczny

photovoltaics ; solar cell ; multicrystalline silicon

20/27
Nr opisu: 0000007663
Analysis of photovoltaic cell emitter layer using diffusion process simulation.
[Aut.]: W. Filipowski, K. Drabczyk, Krzysztof Waczyński.
W: 27-th International Conference and Exhibition IMAPS - Poland 2003, Podlesice, Gliwice, 16-19 September, 2003. Proceedings. Eds: M. Drelichowska [i in.]. [Kraków] : [International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter], 2003, s. 150-153, bibliogr. 5 poz.

ogniwo fotowoltaiczne ; domieszkowanie Si ; warstwa emiterowa ; symulacja komputerowa

photovoltaic cell ; Si doping ; emitter layer ; computer simulation

21/27
Nr opisu: 0000007667
Solar cell emiter layer created during diffusion in IR belt furnace.
[Aut.]: K. Drabczyk, Krzysztof Waczyński.
W: 27-th International Conference and Exhibition IMAPS - Poland 2003, Podlesice, Gliwice, 16-19 September, 2003. Proceedings. Eds: M. Drelichowska [i in.]. [Kraków] : [International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter], 2003, s. 325-328, bibliogr. 6 poz.

krzemowe ogniwo słoneczne ; krzem multikrystaliczny ; dyfuzja fosforowa

silicon solar cell ; multicrystalline silicon ; phosphorus diffusion

22/27
Nr opisu: 0000004837
Technologie mikroelektroniczne. Laboratorium technik warstwowych. Praca zbiorowa. Pod red. K. Waczyńskiego.
[Aut.]: K. Drabczyk, Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2003, 186 s., bibliogr. 35 poz.
Skrypt nr 2303

23/27
Nr opisu: 0000008323   
The infrared processing in multicrystalline silicon solar cell low-cost technology.
[Aut.]: P. Panek, M. Lipiński, R. Ciach, K. Drabczyk, Ewa** Bielińska.
-Sol. Energy Mater. Sol. Cells 2003 vol. 76 iss. 4, s. 529-534. Impact Factor 1.188

technika podczerwieni ; multikrystaliczne krzemowe ogniwa słoneczne

infrared technique ; multicrystalline silicon solar cells

24/27
Nr opisu: 0000002541
Badania nad technologią domieszkowania warstwy emiterowej ogniwa słonecznego z wykorzystaniem past do dyfuzji.
[Aut.]: K. Drabczyk, Krzysztof Waczyński, M. Lipiński, P. Panek.
W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - Dźwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 129-133, bibliogr. 3 poz.

25/27
Nr opisu: 0000002540
Badania nad technologią domieszkowania warstwy emiterowej ogniwa słonecznego z wykorzystaniem szkliw domieszkowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, K. Drabczyk, I. Zborowska-Lindert.
W: Pierwsza Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2002, Kołobrzeg - Dźwirzyno, 10-12.06.2002. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2002, s. 163-168, bibliogr. 11 poz.

26/27
Nr opisu: 0000008244
Technologie mikroelektroniczne. Laboratorium technologii półprzewodników. Praca zbiorowa. Pod red. K. Waczyńskiego.
[Aut.]: K. Drabczyk, Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2000, 186 s., bibliogr. 22 poz.
(Skrypty Uczelniane ; [Politechnika Śląska] nr 2195 0434-0825)

27/27
Nr opisu: 0000007428
Niszczące i nieniszczące metody pomiaru profilu koncentracji domieszek w materiałach półprzewodnikowych.
[Aut.]: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Zesz. Nauk. PŚl., Mat. 1999 z. 87, s. 133-143, bibliogr. 11 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie