Wynik wyszukiwania
Zapytanie: CZEMPIK G
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000133654
Metody badań izolacji głównej maszyn elektrycznych.
[Aut.]: Piotr Zientek, G. Czempik, W. Polewka.
-Śl. Wiad. Elektr. 2019 R. 25 nr 5, s. 27-32, bibliogr. 21 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

maszyna elektryczna ; układ napędowy ; pomiar diagnostyczny ; diagnostyka wysokiego napięcia

electric machine ; drive system ; diagnostic measurement ; high voltage diagnostics

2/6
Nr opisu: 0000130990   
Metody badań izolacji głównej maszyn elektrycznych dużej mocy przy wykorzystaniu napięcia stałego.
[Aut.]: Piotr Zientek, Waleria Łukaszewicz-Szmytka, G. Czempik.
-Zesz. Probl. Masz. Elekt. 2019 nr 122, s. 27-34, bibliogr. 18 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

maszyna elektryczna ; diagnostyka maszyn ; remont maszyny ; pomiar izolacji

electrical machine ; machine diagnostics ; machine repair ; insulation measurement

3/6
Nr opisu: 0000132259   
Wykorzystanie napięcia stałego do badań izolacji głównej maszyn elektrycznych dużej mocy.
[Aut.]: Piotr Zientek, Waleria Łukaszewicz-Szmytka, G. Czempik.
-Napędy i Sterowanie 2019 R. 21 nr 10, s. 74-82, bibliogr. 18 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

maszyna elektryczna ; diagnostyka ; remont maszyny ; pomiar izolacji

electrical machine ; diagnostics ; machine repair ; insulation measurement

4/6
Nr opisu: 0000047687   
XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 1.576

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głębokościowe

tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling

5/6
Nr opisu: 0000025450   
Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; nakładanie L-CVD ; właściwości elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego ; poziom Fermiego ; elektroniczne pasmo wzbronione

tin dioxide ; thin film ; L-CVD deposition ; electronic properties of space charge layer ; Fermi level ; electronic band gap

6/6
Nr opisu: 0000023052
XPS studies of surface chemistry and electronic properties of Ag-doped L-VCD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek Szuber.
W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 47, bibliogr. 8 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie