Wynik wyszukiwania
Zapytanie: CHASSE T
Liczba odnalezionych rekordów: 9



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu: 0000077211   
Photoemission study of the Si(1 1 1)-native SiO2/copper phthalocyanine (CuPc) ultra-thin film interface.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
-Org. Electron. 2012 vol. 13 iss. 10, s. 1873-1880, bibliogr. 44 poz.. Impact Factor 3.836. Punktacja MNiSW 40.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjaniny ; powierzchnia organiczna ; powierzchnia nieorganiczna

organic semiconductor ; phthalocyanines ; organic interface ; inorganic interface ; silicon native substrate

2/9
Nr opisu: 0000063754   
Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 519 iss. 7, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; właściwości elektroniczne ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie

organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; electronic properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; ultraviolet photoelectron spectroscopy

3/9
Nr opisu: 0000069288
Effect of long term air exposure on surface chemistry and electronic properties of CuPc ultra thin sensing layer.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki, T. Chasse, Jacek Szuber.
W: VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010, s. 50

4/9
Nr opisu: 0000069311
Influence of substrate doping on surface morphology of CuPc ultra thin films deposition on Si (111) RCA-treated substrates.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, Jerzy Bodzenta, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
W: VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010, s. 56

5/9
Nr opisu: 0000058364   
X-ray Photoelectron Spectroscopy characterization of native and RCA-treated Si (111) substrates and their influence on surface chemistry of copper phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, H. Peisert, I. Biswas, T. Chasse, Jacek Szuber.
-Thin Solid Films 2010 vol. 518 iss. 10, s. 2688-2694, bibliogr. 37 poz.. Impact Factor 1.935

warstwa cienka ; półprzewodnik organiczny ; spektroskopia fotoemisyjna ; promieniowanie rentgenowskie

thin film ; organic semiconductor ; photoemission spectroscopy ; X-ray

6/9
Nr opisu: 0000059232
Photoemission study of Si(111)-native SiO2/CuPc ultra thin film interface.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
W: VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009. [B.m.] : [b.w.], 2009, s. 50

7/9
Nr opisu: 0000047690   
Analysis of mechanism of carbon removal from GaAs(1 0 0) surface by atomic hydrogen.
[Aut.]: Paweł* Tomkiewicz, A. Winkler, Maciej Krzywiecki, T. Chasse, Jacek Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8035-8040, bibliogr. 42 poz.. Impact Factor 1.576

GaAs ; oczyszczanie ; wytrawianie ; wodór atomowy ; spektroskopia elektronów Augera ; spektrometria mas ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

GaAs ; cleaning ; etching ; atomic hydrogen ; Auger electron spectroscopy ; mass spectrometry ; X-ray photoelectron spectroscopy

8/9
Nr opisu: 0000047757
Analysis of the mechanism of cleaning process of GaAs(100) surface by atomic hydrogen.
[Aut.]: Paweł* Tomkiewicz, Maciej Krzywiecki, A. Winkler, T. Chasse, Jacek Szuber.
W: V International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP' 2007, Zakopane, Poland, September 16-19, 2007. Programme, abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2007, s. 63, bibliogr. 7 poz.

9/9
Nr opisu: 0000023050
Influence of ambient air exposure on the surface chemistry and electronic properties of CuPc thin films.
[Aut.]: Lucyna Grządziel, M. Krzywicki, L. Zhang, H. Peisert, T. Chasse, Jacek Szuber.
W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 43, bibliogr. 5 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie