Wynik wyszukiwania
Zapytanie: BROJA A
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000000124
Microscopic study of the structure of the SnO2 thin films obtained by RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: Optoelectronic and electronic sensors IV. [Conference], Gliwice, Poland, 13-16 June 2000. Ed. J. Frączek. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2000, s. 26-31, bibliogr. 3 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 4516 0277-786X)

2/3
Nr opisu: 0000088529
Microscopic study of the structure of the SnO2 thin films obtained by the RGTO technique.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: XXIV International Conference IMAPS - Poland 2000, Rytro, 25-29 September 2000. Proceedings. Kraków : Research and Development Centre for Hybrid Microelectronics and Resistors, 2000, s. 247-254

3/3
Nr opisu: 0000017977
Mikroskopowe badania struktury warstw SnO2 wytworzonych techniką RGTO.
[Aut.]: Jerzy Uljanow, Krzysztof Waczyński, A. Broja, T. Karczewska-Buczek.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE'2000. VI Konferencja naukowa, Gliwice, 13-16 czerwca 2000. T. 1: Prezentacje sesyjne. Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach. Gliwice : Komisja Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, 2000, s. 112-123, bibliogr. 6 poz. (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach ; Seria: Konferencje ; nr 2)

stosując format:
Nowe wyszukiwanie