Wynik wyszukiwania
Zapytanie: BORYŁO PAULINA
Liczba odnalezionych rekordów: 29



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/29
Nr opisu: 0000131786
Nanometryczne warstwy tlenku cynku wytwarzane metodami próżniowymi.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz.
-Elektronika 2019 R. 60 nr 9, s. 6-10, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

transparentne tlenki przewodzące ; tlenek cynku ; osadzanie warstw atomowych ; ALD ; rozpylanie magnetronowe ; PVD

transparent conductive oxide ; zinc oxide ; atomic layer deposition ; ALD ; magnetron sputtering ; PVD

2/29
Nr opisu: 0000130050
Nanometryczne warstwy tlenku cynku wytwarzane metodami próżniowymi.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz.
W: XVIII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 02-06.06.2019. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2019, pamięć USB (PenDrive) s. 188-193, bibliogr. 9 poz.

transparentne tlenki przewodzące ; tlenek cynku ; osadzanie warstw atomowych ; ALD ; rozpylanie magnetronowe ; PVD

transparent conductive oxide ; zinc oxide ; atomic layer deposition ; ALD ; magnetron sputtering

3/29
Nr opisu: 0000131377
Optical Al2O3 thin film for applications in silicon solar cells.
[Aut.]: Marek Szindler, Magdalena Szindler, Aleksandra Drygała, Paulina Boryło.
W: 13th Conference "Electron Technology" ELTE. 43rd International Microelectronics and Packaging IMAPS Poland Conference, 4-6 September 2019, Wrocław, Poland. Technical digest. [Dokument elektroniczny]. Eds. Rafał Walczak, Karol Malecha. Kraków : International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter, 2019, pamięć USB (PenDrive) s. 194-195, bibliogr. 2 poz.

krzemowe ogniwa słoneczne ; osadzanie warstw atomowych ; tritlenek aluminium

silicon solar cell ; atomic layer deposition ; aluminium trioxide

4/29
Nr opisu: 0000122443   
The influence of atomic layer deposition process temperature on ZnO thin film structure.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Matus, Krzysztof Lukaszkowicz, J. Kubacki, K. Balin, Marcin Basiaga, Magdalena Szindler, Jarosław Mikuła.
-Appl. Surf. Sci. 2019 vol. 474, s. 177-186, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 5.155. Punktacja MNiSW 140.000

ZnO ; ALD ; TEM ; UV-Vis ; XPS ; ToF-SIMS

ZnO ; ALD ; TEM ; UV-Vis ; XPS ; ToF-SIMS

5/29
Nr opisu: 0000130585
Various applications of multifunctional thin films with specific properties deposited by the ALD method.
[Aut.]: Paulina Boryło, Marek Szindler, Krzysztof Lukaszkowicz.
W: Functional thin films and special coatings. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019, s. 111-123 (Solid State Phenomena ; vol. 293 1662-9779)

Al2O3 ; ALD ; ogniwo słoneczne ; TCL ; ZnO

Al2O3 ; ALD ; solar cell ; TCL ; ZnO

6/29
Nr opisu: 0000129402
Zastosowanie skaningowej mikroskopii elektronowej w badaniach materiałów inżynierskich.
[Aut.]: Paulina Boryło, Liwia Sozańska-Jędrasik, Klaudiusz Gołombek.
-LAB Laboratoria Apar. Bad. 2019 nr 2, s. 6-13, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

skaningowa mikroskopia elektronowa ; materiały inżynierskie

scanning electron microscopy ; engineering materials

7/29
Nr opisu: 0000122027
Metody spektroskopowe w mikroskopii elektronowej.
[Aut.]: Paulina Boryło, Bartłomiej Sobel.
-LAB Laboratoria Apar. Bad. 2018 nr 1, s. 24-32, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

skaningowy mikroskop elektronowy ; skład chemiczny ; analiza ; mikroskopia elektronowa ; EDS ; mikroskop transmisyjny

scanning electron microscope ; chemical composition ; analysis ; electron microscopy ; EDS ; transmission microscope

8/29
Nr opisu: 0000122138   
Microstructure and properties of CoCr alloys used in prosthetics procedure.
[Aut.]: Anna Ziębowicz, Anna Woźniak, Bogusław Ziębowicz, Marcin Adamiak, Paulina Boryło.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2018 vol. 89 nr 1, s. 20-26, bibliogr. 17 poz.. Punktacja MNiSW 13.000

materiał protetyczny ; SEM ; AFM ; chropowatość ; badanie korozyjne

prosthetic material ; SEM ; AFM ; roughness ; corrosion test

9/29
Nr opisu: 0000126445   
Properties of ZnO thin films deposited by ALD process.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz.
W: 3rd International Conference InterNanoPoland 2018, 12-13 September 2018, Katowice. Abstracts book. Ed. by Marta Zaborowska and Agnieszka Piekara. Katowice : The NANONET Foundation, 2018, s. 89

10/29
Nr opisu: 0000122143   
The morphology and structure of ZnO thin films deposited by ald method.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Matus, Krzysztof Lukaszkowicz, Klaudiusz Gołombek.
-Arch. Metall. Mater. 2018 vol. 63 iss. 1, s. 129-133, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 0.697. Punktacja MNiSW 30.000

ALD ; ZnO ; SEM ; TEM ; UV-Vis

ALD ; ZnO ; SEM ; TEM ; UV-Vis

11/29
Nr opisu: 0000127546   
Zastosowanie nanowarstw ZnO osadzonych metodą ALD w mikroelektronice i fotowoltaice.
[Aut.]: J. Szczypara, D. Paczuła, Paulina Boryło.
W: Konferencja Studenckich Kół Naukowych. TalentDetector'2018. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2018, s. 43 (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska z. 5)

ZnO ; metoda ALD ; nanowarstwa

ZnO ; ALD method ; nanolayer

12/29
Nr opisu: 0000126091   
ZnO nanocrystalline powder prepared by sol-gel method for photoanode of dye sensitized solar cells application.
[Aut.]: Magdalena Szindler, Marek Szindler, Paulina Boryło.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2018 vol. 88 iss. 1, s. 12-17, bibliogr. 16 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

fotowoltaika ; barwnikowe ogniwa fotowoltaiczne ; zol-żel ; nanocząstka

photovoltaic ; dye sensitized solar cell ; sol-gel ; nanoparticle

13/29
Nr opisu: 0000115777
Characterization of participates formed in the aluminium alloy with antimony.
[Aut.]: Krzysztof Matus, Klaudiusz Gołombek, P. Palcek, Paulina Boryło.
W: SEMDOK 2017. 22nd International seminar of Ph.D. students, Western Tatras - Zuberec, Slovakia, January 25-27, 2017. University of Zilina. Faculty of Mechanical Engineering. Department of Materials Engineering. Zilina : Zilinska Univerzita, 2017, s. 52-55, bibliogr. 10 poz.

14/29
Nr opisu: 0000116920
Cienkie warstwy ALD stosowane w fotowoltaice i optoelektronice.
[Aut.]: Paulina Boryło, Marek Szindler, Krzysztof Lukaszkowicz, Magdalena Szindler.
W: Szesnasta Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłowo, 05-09.06.2017. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2017, pamięć USB (PenDrive) s. 364-365, bibliogr. 16 poz.

fotowoltaika ; optoelektronika ; warstwa antyrefleksyjna ; transparentna warstwa przewodząca ; osadzanie warstw atomowych

photovoltaics ; optoelectronics ; antireflection layer ; transparent conducting film ; atomic layer deposition

15/29
Nr opisu: 0000115393   
Profilowa analiza składu chemicznego metodą GDOES.
[Aut.]: Mirosław* Skrzypczak, Paulina Boryło, Marcin Staszuk, Błażej Tomiczek.
W: Zeszyty studenckich kół naukowych. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2017, s. 209-216, bibliogr. 6 poz. (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska z. 2)

GDOES ; spektrometria ; analiza profilu

GDOES ; spectrometry ; profile analysis

16/29
Nr opisu: 0000122732
Structure and optical properties of TiO2 thin films deposited by ALD method.
[Aut.]: Marek Szindler, Magdalena Szindler, Paulina Boryło, Tymoteusz* Jung.
-Open Phys. 2017 vol 15 iss. 1, s. 1067-1071, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.755. Punktacja MNiSW 15.000

fotowoltaika ; krzemowe ogniwo słoneczne ; osadzanie warstw atomowych ; powłoka antyrefleksyjna

photovoltaic ; silicon solar cell ; atomic layer deposition ; antireflection coating

17/29
Nr opisu: 0000115775
The influence of PVD process parameters on ZnO:Al thin films.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Matus, Krzysztof Lukaszkowicz, Klaudiusz Gołombek.
W: SEMDOK 2017. 22nd International seminar of Ph.D. students, Western Tatras - Zuberec, Slovakia, January 25-27, 2017. University of Zilina. Faculty of Mechanical Engineering. Department of Materials Engineering. Zilina : Zilinska Univerzita, 2017, s. 13-17, bibliogr. 12 poz.

18/29
Nr opisu: 0000115291   
Wpływ odczynników trawiących na ujawnienie struktury na podstawie badań wybranych stali szybkotnących.
[Aut.]: Krzysztof Matus, Paulina Boryło, Janusz Ćwiek.
W: Zeszyty studenckich kół naukowych. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2017, s. 111-120, bibliogr. 7 poz. (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska z. 2)

szybkotnąca stal narzędziowa ; mikrostruktura ; metalografia

high speed steel tool ; microstructure ; metallography

19/29
Nr opisu: 0000118876   
Wpływ parametrów osadzania cienkich warstw ZnO metodą ALD.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz.
W: Innowacyjne badania dla nauki i przemysłu. Red. Mirosław Bonek, Anna Filipowska, Łukasz Kohlbrenner, Tomasz Gaweł. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2017, s. 2-9, bibliogr. 12 poz. (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej w Gliwicach ; )

cienka warstwa ZnO ; osadzanie ; metoda ALD ; transparentność

ZnO thin film ; deposition ; ALD method ; transparency

20/29
Nr opisu: 0000114086
Morfologia cienkich warstw ZnO osadzonych metodą ALD.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Matus, Krzysztof Lukaszkowicz, Klaudiusz Gołombek.
W: XLIV Szkoła Inżynierii Materiałowej, Kraków-Rytro, 27-30 IX 2016. Monografia. Pod red. Jerzego Pacyny. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. Kraków : Wydaw. Naukowe Akapit, 2016, s. 160-163

21/29
Nr opisu: 0000107391   
Structure and properties of Al2O3 thin films deposited by ALD process.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz, Marek Szindler, J. Kubacki, K. Balin, Marcin Basiaga, Janusz Szewczenko.
-Vacuum 2016 vol. 131, s. 319-326, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.530. Punktacja MNiSW 25.000

powłoka cienka ; ALD ; adhezja ; korozja ; XPS ; AES ; SEM ; ToF-SIMS

thin film ; ALD ; adhesion ; corrosion ; XPS ; AES ; SEM ; ToF-SIMS

22/29
Nr opisu: 0000106981   
Synthesis of Pt nanowires with the participation of physical vapour deposition.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Mirosława Pawlyta, Magdalena Szindler, Paulina Boryło, Błażej Tomiczek.
-Open Phys. 2016 vol 14 iss. 1, s. 159-165, bibliogr. 24 poz.. Impact Factor 0.745. Punktacja MNiSW 15.000

nanotechnologia ; nanomateriały ; nanodruty ; fizyczne osadzanie z fazy gazowej

nanotechnology ; nanomaterials ; nanowires ; physical vapour deposition

23/29
Nr opisu: 0000114873
The influence of ALD process temperature on ZnO thin film structure.
[Aut.]: Krzysztof Matus, Paulina Boryło, Klaudiusz Gołombek, Krzysztof Lukaszkowicz.
W: 11th International Conference on Surface Coatings and Nanostructured Materials, , Aveiro, Portugalia, 09.09.2016. [B.m.] : [ b.w.], 2016, s. 137-138

24/29
Nr opisu: 0000104739   
Characteristics of ZnO thin films deposited by atomic layer deposition.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz, Marek Szindler, Marcin Basiaga.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2015 vol. 73 iss. 2, s. 86-91, bibliogr. 16 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

tlenek cynku ; atomowe osadzanie warstw ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; dyfraktometr rentgenowski ; próba zarysowania

zinc oxide ; atomic layer deposition ; scanning electron microscopy ; X-ray diffractometer ; scratch test

25/29
Nr opisu: 0000102671   
Struktura i własności cienkich warstw Al2O3 wytworzonych w procesie ALD.
[Aut.]: Paulina Boryło.
W: II Interdyscyplinarna Sesja Wyjazdowa Doktorantów Politechniki Śląskiej, Gliwice - Szczyrk, 2015. Red.: Mirosław Bonek, Tomasz Gaweł, Dawid Cichocki. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2015, s. 261-267, bibliogr. 21 poz. (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej w Gliwicach ; )

ALD ; Al2O3 ; twardość ; scratch test ; SEM ; AFM

ALD ; Al2O3 ; hardness ; scratch test ; SEM ; AFM

26/29
Nr opisu: 0000099585
The influence of deposition parameters of ZnO thin films by ALD method on optical properties.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz, Marek Szindler.
W: Materiały i technologie XXI wieku. XVII Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 14 maja 2015. [Dokument elektroniczny]. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc, Paweł Krzywda. [Katowice] : [b.w.], 2015, pamięć USB (PenDrive) s. 85-88, bibliogr. 14 poz.

27/29
Nr opisu: 0000093631
Characteristics of hybrid coating deposited by PVD and PACVD process.
[Aut.]: Krzysztof Lukaszkowicz, Justyna Wiśniewska, Agnieszka Paradecka, Paulina Boryło.
W: Modern technologies in industrial engineering II. Selected, peer reviewed papers from the Modern Technologies in Industrial Engineering. ModTech 2014, Gliwice, Poland, July 13-16. Ed. by Constantin Carausu, Andrzej Wróbel [et al.]. Staffa-Zurich : Trans Tech Publications, 2014, s. 225-229 (Advanced Materials Research ; vol. 1036 1662-8985). Punktacja MNiSW 7.000

powłoka AlTiCrN ; powłoka DLC ; HRTEM ; SEM ; właściwości tribologiczne

AlTiCrN film ; DLC film ; HRTEM ; SEM ; tribological properties

28/29
Nr opisu: 0000093542   
Komputerowe wspomaganie zaawansowanych badań materiałoznawczych.
[Aut.]: K. Matus, Paulina Boryło, M. Skrzypczak, Agata Śliwa.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2014, s. 21-28, bibliogr. 15 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 29)

wspomaganie komputerowe badań naukowych ; krystalografia ; elektronowy mikroskop transmisyjny ; dyfrakcja ; Crystal Maker

computer assistance in scientific research ; crystallography ; transmission electron microscopy ; diffraction ; Crystal Maker

29/29
Nr opisu: 0000093679   
Metoda atomowego osadzania cienkich warstw optycznych.
[Aut.]: Paulina Boryło, Marek Szindler, Magdalena Szindler.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2014, s. 3-8, bibliogr. 12 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 30)

atomowe osadzanie warstw ; mikroskopia sił atomowych ; elipsometria

atomic layer deposition ; atomic force microscopy ; ellipsometry

stosując format:
Nowe wyszukiwanie