Wynik wyszukiwania
Zapytanie: BŁASZCZYK T
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000124790   
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
-Prz. Elektrot. 2018 R. 94 nr 8, s. 51-54, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe

spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra

2/2
Nr opisu: 0000125130
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
W: XVII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1-7

spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe

spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra

stosując format:
Nowe wyszukiwanie