Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ŻYWICKI J
Liczba odnalezionych rekordów: 12



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/12
Nr opisu: 0000093840
Analiza chemiczna AES pasywacyjnych warstw na powierzchni GaN, AlGaN i SiC.
[Aut.]: Alina Domanowska, Rafał* Ucka, Maciej* Matys, Bogusława Adamowicz, M. Sochacki, Z. Żytkiewicz, M. Sobańska, K. Kłosek, A. Taube, R. Kruszka, J. Żywicki.
W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 193 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM

Al2O3 ; SixNy ; SiO2 ; pasywacja ; analiza chemiczna ; spektroskopia elektronów Augera ; struktura metal-izolator-półprzewodnik

Al2O3 ; SixNy ; SiO2 ; passivation ; chemical analysis ; Auger electron spectroscopy ; metal-insulator-semiconductor structure

2/12
Nr opisu: 0000080343   
Surface photovoltage and Auger electron spectromicroscopy studies of HfO2/SiO2/4H-SiC and HfO2/Al2O3/4H-SiC structures.
[Aut.]: Alina Domanowska, Marcin** Miczek, Rafał* Ucka, Maciej* Matys, Bogusława Adamowicz, J. Żywicki, A. Taube, K. Korwin-Mikke, S. Gierałtowska, M. Sochacki.
-Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8354-8359, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 2.112. Punktacja MNiSW 30.000

węglik krzemu ; pasywacja powierzchni ; fotonapięcie powierzchniowe ; spektroskopia elektronów Augera

silicon carbide ; surface passivation ; surface photovoltage ; Auger electron spectroscopy ; chemical in-depth profiling ; interface charge

3/12
Nr opisu: 0000068353   
Profilowanie składu chemicznego tlenkowych warstw pasywacyjnych metodą spektromikroskopii elektronów Augera.
[Aut.]: Alina Domanowska, Andrzej** Klimasek, E. Lisiecka, Piotr* Bidziński, Bogusława Adamowicz, Janusz Szewczenko, A. Taube, K. Korwin-Mikke, S. Gierałtowska, J. Żywicki.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 9, s. 63-66, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

spektromikroskopia ; elektron Augera ; widmo AES

spectromicroscopy ; Auger electron ; AES spectrum

4/12
Nr opisu: 0000082584
Profilowanie składu chemicznego tlenkowych warstw pasywacyjnych metodą spektromikroskopii elektronów Augera.
[Aut.]: Alina Domanowska, Andrzej** Klimasek, E. Lisiecka, Piotr* Bidziński, Bogusława Adamowicz, J. Żywicki, Janusz Szewczenko.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 145
Pełny tekst na CD-ROM

spektromikroskopia ; elektron Augera ; skład chemiczny ; pasywacja

spectromicroscopy ; Auger electron ; chemical composition ; passivation

5/12
Nr opisu: 0000081095   
Profile składu chemicznego nanowarstw pasywacyjnych na podstawie analizy numerycznej widm elektronów Augera.
[Aut.]: Alina Domanowska, Piotr* Bidziński, Andrzej** Klimasek, J. Żywicki, Bogusława Adamowicz.
W: IV Krajowa Konferencja Nanotechnologii. NANO 2010, Poznań, 28.06-02.07 2010. Program i streszczenia. Wydział Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej [et al.].. Poznań : [b.w.], 2010, s. 145, bibliogr. 2 poz.

spektroskopia elektronów Augera ; analiza numeryczna

Auger electron spectroscopy ; numerical analysis

6/12
Nr opisu: 0000073181
Badania struktury cienkich warstw SnO2 oraz ich właściwości sensorowych w atmosferze zawierającej tlen.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz, Jacek Izydorczyk, E. Papis, E. Kamińska, A. Piotrowska, Janusz Mazurkiewicz, Waldemar Kwaśny, Jacek* Mazur, Jerzy Bodzenta, Wiesław Jakubik, Andrzej** Klimasek, J. Żywicki.
W: II Krajowa Konferencja Nanotechnologii, Kraków, 25-28 czerwca 2008. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2008, s. Sr-P-10

SnO2 ; nanowarstwa ; właściwości sensorowe

SnO2 ; nanolayer ; sensor properties

7/12
Nr opisu: 0000050150   
Response to oxygen and chemical properties of SnO2 thin-film gas sensors.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Jacek Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
-Vacuum 2008 vol. 82 iss. 10, s. 966-970, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 1.114

dwutlenek cyny ; RGTO ; adsorpcja tlenu ; spektroskopia elektronów Augera ; czujnik gazowy

tin dioxide ; RGTO technology ; oxygen adsorption ; Auger electron spectroscopy ; gas sensor

8/12
Nr opisu: 0000041375   
Response to oxygen and chemical properties of SnO2 thin-film gas sensors.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Jacek Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
W: Proceedings of the 9th Electron Technology Conference. ELTE 2007, Cracow, 4-7 September 2007. Ed. by B. Dziurdzia, T. Pisarkiewicz. [B.m.] : Elsevier, 2008, s. 966-970, bibliogr. 16 poz. (Vacuum ; vol. 82, iss. 10 0042-207X)

GaN ; technika wzrostu MOVPE ; podłoża proszkowe nanokrystaliczne

GaN ; MOVPE growth technique ; nanocrystalline powder substrates

9/12
Nr opisu: 0000039315   
Capacitance-voltage and Auger chemical profile studies on AIGaN/GaN structures passivated by SiO2/Si3N4 and SiNx/Si3N4 bilayers.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Marcin** Miczek, T. Hashizume, Andrzej** Klimasek, P. Bobek, J. Żywicki.
-Opt. Appl. 2007 vol. 37 no. 4, s. 327-334, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 0.284

azotek galu ; HEMT ; bramka izolowana ; pasywacja ; C-V ; spektroskopia elektronów Augera

gallium nitride ; HEMT ; insulated gate ; passivation ; C-V ; Auger electron spectroscopy ; chemical in-depth profiles

10/12
Nr opisu: 0000076042
Response of an optimised SnO2-based gas sensor to oxygen.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz, Andrzej** Klimasek, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 183, bibliogr. 3 poz.

11/12
Nr opisu: 0000029267
Studies of chemical composition and response of the SnO2 based sensor structure to dry and humid synthetic air.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
W: XXX International Conference IMAPS Poland Chapter 2006, Kraków, 24-27 September 2006. Proceedings. Eds.: W. Zaraska, A. Cichocki, D. Szwagierczak. Kraków : Institute of Electron Technology. Cracow Division, [2006], s. 259-262

12/12
Nr opisu: 0000023294   
Studies of chemical composition and response of the SnO2 based sensor structure to dry and humid synthetic air.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Krzysztof Waczyński, Jerzy Uljanow, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
-Elektronika 2006 R. 47 nr 12, s. 5-6

stosując format:
Nowe wyszukiwanie