Wynik wyszukiwania
Zapytanie: FRONTIERS OF NANOSCIENCE
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000133055
Tytuł oryginału: Interface and surface properties of oxide-organic hybrid nanostructures: from charge transfer to degradation effects.
Autorzy: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki.
Źródło: W: Nanostructured thin films. Fundamentals and applications. Ed. by Maria Benelmekki, Andreas Erbe. Amsterdam : Elsevier, 2019, s. 215-256, bibliogr. 100 poz.
ISBN: 978-0-08-102572-7
Seria: (Frontiers of Nanoscience ; vol. 14 1876-2778)
Punktacja MNiSW: 20.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 2,5
Bazy indeksujące publikację: Scopus; Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: wyrównanie poziomu energii ; skrzyżowania hybrydowe ; pogłębiona analiza fotoemisji ; tlenki metali ; interfejsy organiczne ; spektroskopia fotoelektronowa ; ftalocyjaniny ; stosunek powierzchni do objętości
Słowa kluczowe angielskie: energy level alignment ; hybrid junctions ; in-depth photoemission analysis ; metal oxides ; organic interfaces ; photoelectron spectroscopy ; phthalocyanines ; surface-to-volume ratio
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


2/3
Nr opisu: 0000131145
Tytuł oryginału: Nanostructured thin films. Fundamentals and applications. Ed. by Maria Benelmekki, Andreas Erbe.
Adres wydawniczy: Amsterdam : Elsevier, 2019
Opis fizyczny: , 323 s.
ISBN: 978-0-08-102572-7
Seria: (Frontiers of Nanoscience ; vol. 14 1876-2778)
Uwagi: Publikacja nie należy do bibliografii Uczelni
Liczba arkuszy wydawniczych: 18
Typ publikacji: 000
Język publikacji: ENG


3/3
Nr opisu: 0000131144
Tytuł oryginału: Scanning thermal microscopy - a tool for thermal measurement in the nanoscale.
Autorzy: Jerzy Bodzenta.
Źródło: W: Nanostructured thin films. Fundamentals and applications. Ed. by Maria Benelmekki, Andreas Erbe. Amsterdam : Elsevier, 2019, s. 181-213, bibliogr. 127 poz.
ISBN: 978-0-08-102572-7
Seria: (Frontiers of Nanoscience ; vol. 14 1876-2778)
Punktacja MNiSW: 20.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 2
Bazy indeksujące publikację: Scopus; Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: pomiar termiczny w nanoskali ; mikroskopia sond skanujących ; skaningowa mikroskopia termiczna ; SPM ; SThM ; transport termiczny w nanoskali
Słowa kluczowe angielskie: nanoscale thermal measurement ; scanning probe microscopy ; scanning thermal microscopy ; SPM ; SThM ; thermal transport at nanoscale
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie