Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ELECTRON TECHNOL
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000088048
Tytuł oryginału: Diffusion of antimony from spin-on sources of dopants
Tytuł w wersji polskiej: Dyfuzja antymonu z rozwirowywanych Ľródeł domieszek
Autorzy: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
¬ródło: -Electron Technol. 1997 vol. 30 no. 4, s. 359-362, bibliogr. 3 poz.
p-ISSN: 0070-9816
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


2/6
Nr opisu: 0000088112
Tytuł oryginału: Manufacturing of precision resistors based on Ni-P and Ni-W-P layers obtained by means of chemical reduction method
Tytuł w wersji polskiej: Wytwarzanie rezystorów precyzyjnych w oparciu o warstwy Ni-P i Ni-W-P przy wykorzystaniu metody chemicznej redukcji
Autorzy: Zbigniew** Pruszowski, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, M. Cież, W. Grzesiak, Jerzy** Pocz±tek, J. Kulawik.
¬ródło: -Electron Technol. 1997 vol. 30 no. 4, 363-365, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN: 0070-9816
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


3/6
Nr opisu: 0000035356
Tytuł oryginału: Cleaning of MBE GaAs substrates by novel techniques using surface chemical reactions with hydrogen
Autorzy: Jacek Szuber.
¬ródło: -Electron Technol. 1996 vol. 29 no. 2/3, s. 182-185, bibliogr. 27 poz.
p-ISSN: 0070-9816
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


4/6
Nr opisu: 0000000076
Tytuł oryginału: Description of frequency dispersion of MIS capacitance based on the model of interface states distributed in energy and in space
Autorzy: Stanisław** Kochowski.
¬ródło: -Electron Technol. 1996 vol. 29 no. 2/3, s. 122-125, bibliogr. 10 poz.
p-ISSN: 0070-9816
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


5/6
Nr opisu: 0000035138
Tytuł oryginału: Influence of surface layer damaging on photoelectromagnetic effect
Autorzy: Stanisław* Ło¶, Marian Nowak.
¬ródło: -Electron Technol. 1996 vol. 29 nr 1, s. 45-49, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 0070-9816
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


6/6
Nr opisu: 0000043856
Tytuł oryginału: Simulation of hysteresis effects in C-V characteristics of MIS structures based on the model of interface states distributed in energy and in space
Autorzy: Stanisław** Kochowski.
¬ródło: -Electron Technol. 1994 vol. 27 nr 2, s. 69-79, bibliogr. 7 poz.
p-ISSN: 0070-9816
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie