Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SPEKTROMETR UV VIS
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000102675
Tytuł oryginału: Cienkie warstwy polimerowe stosowane w fotowoltaice.
Tytuł w wersji angielskiej: Polymeric thin films used in photovoltaic
Autorzy: Magdalena Szindler, Katarzyna* Basa.
¬ródło: W: II Interdyscyplinarna Sesja Wyjazdowa Doktorantów Politechniki ¦l±skiej, Gliwice - Szczyrk, 2015. Red.: Mirosław Bonek, Tomasz Gaweł, Dawid Cichocki. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki ¦l±skiej, 2015, s. 296-307, bibliogr. 30 poz.
ISBN: 978-83-65138-06-4
Seria: (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki ¦l±skiej w Gliwicach ; )
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,45
Słowa kluczowe polskie: materiały polimerowe ; cienka warstwa przewodz±ca pr±d elektryczny ; mikroskop sił atomowych ; spektrometr UV/VIS ; metoda spin-coating
Słowa kluczowe angielskie: polymeric materials ; electrically conductive thin film ; atomic force microscopy ; spin-coating method
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000097325
Tytuł oryginału: Wytworzenie oraz charakterystyka cienkich warstw SiO2 osadzonych metod± wirow± na szkle.
Autorzy: Jakub* Sitek, Marek Szindler.
¬ródło: W: Sesja Okoliczno¶ciowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'15". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki ¦l±skiej, 2015, s. 53-62, bibliogr. 11 poz.
ISBN: 978-83-65138-01-9
Seria: (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika ¦l±ska nr 35)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,45
Słowa kluczowe polskie: cienka warstwa krzemowa ; tlenek krzemu ; spin-coating ; metoda wirowa ; mikroskopia konfokalna ; AFM ; spektrometr UV/VIS
Słowa kluczowe angielskie: thin silica film ; silicon oxide ; spin-coating ; spin-coating method ; confocal microscopy ; AFM ; spectrometer UV/VIS
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000090820
Tytuł oryginału: Influence of solvent on the surface morphology and optoelectronic properties of a spin coated polymer thin films
Autorzy: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, Magdalena* Szczęsna, Marek Szindler.
¬ródło: -J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2013 vol. 61 iss. 2, s. 302-307, bibliogr. 18 poz.
Punktacja MNiSW: 12.000
p-ISSN: 1734-8412
Słowa kluczowe polskie: MEH-PPV ; spin-powłoka ; spektrometr UV/VIS ; mikroskopowa siła atomowa
Słowa kluczowe angielskie: MEH-PPV ; spin-coating ; spectrometer UV/VIS ; atomic force microscope
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4671
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie