Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PROFIL KONCENTRACJI
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000130626
Tytuł oryginału: Model of phosphorus diffusion in silicon for highly doped solar cell emitter layer
Autorzy: Wojciech Filipowski.
Źródło: -Microelectron. Int. 2019 vol. 36 iss. 3, s. 104-108, bibliogr. 34 poz.
Impact Factor: 0.840
Punktacja MNiSW: 40.000
p-ISSN: 1356-5362
DOI:
Słowa kluczowe polskie: profil koncentracji ; proces dopingu ; warstwa emiterowa ; dyfuzja fosforu ; ogniwo słoneczne
Słowa kluczowe angielskie: concentration profile ; doping process ; emitter layer ; phosphorus diffusion ; solar cell
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie