Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SURFACE MAPPING
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000128475
Tytuł oryginału: Badanie rozkładu grubo¶ci powierzchni cienkich warstw metod± elipsometrii spektroskopowej spektroskopowej
Autorzy: B. Hajduk, Paweł Jarka, P. Nitschke.
¬ródło: -LAB Laboratoria Apar. Bad. 2019 nr 1, s. 6-8, bibliogr. 3 poz.
Punktacja MNiSW: 5.000
p-ISSN: 1427-5619
Słowa kluczowe polskie: elipsometria spektroskopowa ; mapowanie powierzchni ; warstwa cienka
Słowa kluczowe angielskie: spectroscopic ellipsometry ; surface mapping ; thin layer
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie