Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PARISSI P
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000076043
Tytuł oryginału: XRD and XPS comparative studies of stoichiometry of RGTO SnO2 thin films for gas sensor application.
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, P. Parissi, F. Bisti, Jacek Szuber.
Źródło: W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 198, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Department of Electronics. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. AGH [et al.]
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie