Wynik wyszukiwania
Zapytanie: HENEL J
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000069310
Tytuł oryginału: XPX and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 nanolayers deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
Autorzy: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henel, Ł. Pawela, Monika Kwoka, Jacek Szuber.
Źródło: W: VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010, s. 55
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie