Wynik wyszukiwania
Zapytanie: HENEK J
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000071524
Tytuł oryginału: XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation
Autorzy: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, Ł. Pawela, Jacek Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: In2O3 ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: In2O3 ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000071753
Tytuł oryginału: XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation
Autorzy: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, L. Pawela, Jacek Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2010 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.
Impact Factor: 1.935
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: In2O3 ; RGVO ; XPS ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: In2O3 ; RGVO ; XPS ; surface chemistry ; surface morphology ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie