Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ELECTRON TECHNOLOGY
Liczba odnalezionych rekordów: 33



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/33
Nr opisu: 0000004359
Tytuł oryginału: Computer analysis of the Fermi level behaviour at SiO2/n-Si and SiO2/n-GaAs interfaces.
Autorzy: Bogusława Adamowicz, Marcin** Miczek, H. Hasegawa.
¬ródło: W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 249-252, bibliogr. 16 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


2/33
Nr opisu: 0000004347
Tytuł oryginału: Electronic properties of space charge layer of copper phthalocyanine (CuPc) thin films in situ studied by photoemission yield spectroscopy.
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Krzysztof* Mikołajczak, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 157-160, bibliogr. 26 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


3/33
Nr opisu: 0000004356
Tytuł oryginału: Humidity sensing properties of spin-on phosphorosilica thin films.
Autorzy: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, R. Nowak.
¬ródło: W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 217-221, bibliogr. 18 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


4/33
Nr opisu: 0000004374
Tytuł oryginału: Influence of electron states parameters on results of SSPG measurements.
Autorzy: Marian** Nowak, Anna Starczewska.
¬ródło: W: Surface and thin film structures'1999. Proceedings of the 7th seminar on surface and thin film structures, Kazimierz Dolny, Poland, September 15-18, 1999. Ed. by M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 412-415, bibliogr. 25 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 33, no. 3 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


5/33
Nr opisu: 0000004363
Tytuł oryginału: Photoemission studies of the electronic properties of the space charge layer of SnO2(110) surface.
Autorzy: Jacek Szuber, W. Gopel.
¬ródło: W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 261-281, bibliogr. 69 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


6/33
Nr opisu: 0000004371
Tytuł oryginału: Simple, low cost quartz crystal monitor system for metal phthalocyanine thin films growth control.
Autorzy: Piotr* Matkowski, Lucyna Grz±dziel, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 297-301, bibliogr. 16 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


7/33
Nr opisu: 0000004366
Tytuł oryginału: Some comments on the band bending and origin of electronic defect states on the clean SnO2(110).
Autorzy: Dominika* Lipa, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 282-285, bibliogr. 23 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


8/33
Nr opisu: 0000004353
Tytuł oryginału: Studies of the electrical and mass effects in surface acoustic wave gas sensor.
Autorzy: Marian** Urbańczyk, Wiesław Jakubik.
¬ródło: W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 161-166, bibliogr. 11 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


9/33
Nr opisu: 0000004368
Tytuł oryginału: Surface photovoltage spectroscopy system for in situ studies of metal phthalocyanine thin films.
Autorzy: Marek* Bilski, S. Kaszczyszyn, Lucyna Grz±dziel, Bogusława Adamowicz, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Semiconductor gas sensors - SGS'98. Proceedings of the 1st International Seminar on Semiconductor Gas Sensors, Ustroń, Poland, September 22-25, 1998. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 2000, s. 289-291, bibliogr. 19 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 33, no. 1/2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


10/33
Nr opisu: 0000025030
Tytuł oryginału: An UHV experimental system for in situ determination of the electronic properties of metal phthalocyanine thin films by photoemission yield spectroscopy.
Autorzy: Lucyna Grz±dziel, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 502-504, bibliogr. 15 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


11/33
Nr opisu: 0000025761
Tytuł oryginału: Application of the unipole mass filter (UMF) for determination of partial pressuress of gases with near atomic masses.
Autorzy: Aleksander Król, Jacek Szuber, S. Kaszczyszyn.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 505-507, bibliogr. 5 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


12/33
Nr opisu: 0000025768
Tytuł oryginału: Atomic hydrogen gun for cleaning of GaAs surface.
Autorzy: Adam* Girycki, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 495-498, bibliogr. 15 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


13/33
Nr opisu: 0000025890
Tytuł oryginału: Determining of diffusion length of carries in thin films of α-Si:H using SSPG technique.
Autorzy: Marian** Nowak, Anna Starczewska.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 420-424, bibliogr. 12 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


14/33
Nr opisu: 0000026003
Tytuł oryginału: Examination of physical and chemical properties of thin layers of arsenic-silicon glasses by means of an X-ray microprobe.
Autorzy: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski, Michał** Żelechower.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 468-471, bibliogr. 4 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


15/33
Nr opisu: 0000026041
Tytuł oryginału: Influence of insulator-semiconductor interface parameters and bulk parameters on frequency dependence of GaAs MIS conductance.
Autorzy: Stanisław** Kochowski.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 346-350, bibliogr. 9 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


16/33
Nr opisu: 0000026158
Tytuł oryginału: Investigations of α-Si thin film using new technique of variable angle reflectometry (VAR).
Autorzy: Janusz* Jaglarz, Marian** Nowak.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 405-408, bibliogr. 8 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


17/33
Nr opisu: 0000027875
Tytuł oryginału: Investigations of layered semiconductors using photoreflectance.
Autorzy: Mirosława Kępińska, Marian** Nowak, Ewa** Wilk.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 342-345, bibliogr. 11 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


18/33
Nr opisu: 0000026188
Tytuł oryginału: Optical and photoelectrical investigations of Ge20Se69Bi11 thin films.
Autorzy: Mirosława Kępińska, Marian** Nowak, S. Okuniewicz, Barbara Solecka.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 417-419, bibliogr. 9 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


19/33
Nr opisu: 0000026187
Tytuł oryginału: Optical properties of magnetron sputtered α-Si:H treated with a CO2 laser.
Autorzy: Andrzej Grabowski, Marian** Nowak.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 401-404, bibliogr. 10 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


20/33
Nr opisu: 0000026019
Tytuł oryginału: Some optical properties of amorphous In-Se thin films.
Autorzy: A. Michalewicz, B. Jarz±bek, Jan* Cisowski, J. Jurasik, A. Burian, J. Weszka.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 411-416, bibliogr. 15 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


21/33
Nr opisu: 0000026061
Tytuł oryginału: Sulfide passivation of GaAs surface.
Autorzy: Jacek Szuber, G. Hollinger, E. Bergignat.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 328-337, bibliogr. 58 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


22/33
Nr opisu: 0000026222
Tytuł oryginału: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th Seminar on Surface and Thin Film Structures, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber.
Adres wydawniczy: Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RED
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


23/33
Nr opisu: 0000026115
Tytuł oryginału: The influence of heating of silicon glasses and anodic oxides on their electrophysical properties.
Autorzy: Stanisław* Ło¶, Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1997. Proceedings of the 5th seminar, Ustroń, Poland, September 23-26, 1997. Ed. by J. Szuber. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1998, s. 450-454, bibliogr. 9 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 31, no. 3/4 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


24/33
Nr opisu: 0000028066
Tytuł oryginału: ADIRR investigations of temperature dependence of optical properties of alpha-Si.
Autorzy: Janusz* Jaglarz, Marian** Nowak.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 213-215, bibliogr. 7 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


25/33
Nr opisu: 0000028065
Tytuł oryginału: Analysis of MIS GaAs capacitance versus frequency data using least-squares method.
Autorzy: Stanisław** Kochowski, Marian** Nowak.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 109-112, bibliogr. 12 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


26/33
Nr opisu: 0000028072
Tytuł oryginału: Determination of density of states in -Si:H,F thin films using spectral, temperature and illumination intensity dependencies of photoconductivity.
Autorzy: Marian** Nowak.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 222-224, bibliogr. 7 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


27/33
Nr opisu: 0000028071
Tytuł oryginału: Diffusion from spin-on glasses.
Autorzy: Krzysztof Waczyński, Edyta Wróbel, Zbigniew** Pruszowski.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 138-141, bibliogr. 9 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


28/33
Nr opisu: 0000028070
Tytuł oryginału: Evaluation of the usefulness of silica glass for the production of MIS structures with a double dielectric layer.
Autorzy: Stanisław* Ło¶, Krzysztof Waczyński.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 142-144, bibliogr. 8 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


29/33
Nr opisu: 0000028069
Tytuł oryginału: Influence of CO2 laser annealing on optoelectronical parameters of alfa-Si:H.
Autorzy: Andrzej Grabowski, Marian** Nowak.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 145-148, bibliogr. 11 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


30/33
Nr opisu: 0000027768
Tytuł oryginału: Influence of spatial distribution of radiation on photoconductivity and photoelectromagnetic effect in a thin semiconductor film.
Autorzy: Marian** Nowak.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th Seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. by M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 216-221, bibliogr. 34 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


31/33
Nr opisu: 0000028068
Tytuł oryginału: Inhomogeneity of amorphous Zn-P thin films from optical measurements.
Autorzy: B. Jarzabek, J. Weszka, J. Jurusik, Jan* Cisowski.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 193-195, bibliogr. 10 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


32/33
Nr opisu: 0000028067
Tytuł oryginału: Semiconductor gas sensors.
Autorzy: Jacek Szuber.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 125-133, bibliogr. 35 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


33/33
Nr opisu: 0000027770
Tytuł oryginału: Some comments on the electronic properties of the space charge layer of the clean and oxygen exposed SnO2(110) surface.
Autorzy: Dominika* Lipa, Jacek Szuber.
¬ródło: W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 202-204, bibliogr. 7 poz.
Seria: (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2959


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie