Wynik wyszukiwania
Zapytanie: WZORCOWANIE PRZETWORNIKA
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000013148
Tytuł oryginału: Odtwarzanie wielkości mierzonych w torach pomiarowych dwuparametrowych metodą bisekcji.
Tytuł w wersji angielskiej: Reconstruction of measured values for two-parameters measuring chains by the half-split method
Autorzy: Henryk Urzędniczok.
Źródło: W: Podstawowe problemy metrologii. PPM'05. [Materiały konferencji naukowo-technicznej], Ustroń, 8-11 maj 2005. [Gliwice] : Komisja Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, 2005, s. 431-438, bibliogr. 12 poz.
Organizator: Instytut Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Politechniki Śląskiej, Stowarzyszenie Elektryków Polskich. Oddział Gliwicki
Seria: (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach ; Seria: Konferencje ; nr 8)
Słowa kluczowe polskie: metoda iteracyjna ; przetwornik dwuparametrowy ; wzorcowanie przetwornika
Słowa kluczowe angielskie: iterative method ; two-parameter converter ; converter calibration
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. Cz.01 112691


stosując format:
Nowe wyszukiwanie