Wynik wyszukiwania
Zapytanie: USZKODZENIA PARAMETRYCZNE
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000082616
Tytuł oryginału: Grupowanie uszkodzeń parametrycznych we wzmacniaczu EKG z wykorzystaniem samoorganizuj±cej sieci neuronowej.
Autorzy: Damian Grzechca.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 234
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: detekcja uszkodzeń ; uszkodzenia parametryczne ; wzmacniacz EKG ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: fault detection ; parametric faults ; ECG amplifier ; artificial neural network
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


2/3
Nr opisu: 0000071513
Tytuł oryginału: Soft fault clustering in analog electronic circuits with the use of self organizing neural network
Autorzy: Damian Grzechca.
¬ródło: -Metrol. Meas. Syst. 2011 vol. 18 nr 4, s. 555-568, bibliogr. 46 poz.
Impact Factor: 0.764
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0860-8229
Słowa kluczowe polskie: wykrywanie uszkodzeń ; uszkodzenia parametryczne ; analogowy układ elektroniczny ; samoorganizuj±ca się sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: fault detection ; parametric faults ; analogue electronic circuit ; self-organizing neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4407
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000054333
Tytuł oryginału: Global parametric fault identification in analog electronic circuits
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Metrol. Meas. Syst. 2009 vol. 16 nr 3, s. 391-402, bibliogr. 23 poz.
p-ISSN: 0860-8229
Słowa kluczowe polskie: uszkodzenia parametryczne ; identyfikacja ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: parametric faults ; identification ; artificial neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4407
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie