Wynik wyszukiwania
Zapytanie: USTERKA OBWODU
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000111647
Tytuł oryginału: Analog circuits specifications testing by means of fast fourier transformation.
Autorzy: Tomasz Golonek.
Źródło: W: 2016 International Conference on Signals and Electronic Systems (ICSES), Kraków, Poland, 5-7 September 2016. Eds.: Witold Machowski and Jacek Stępień. Piscataway : IEEE, 2016, s. 13-18, bibliogr. 12 poz.
ISBN: 978-1-5090-2667-8
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,3
Bazy indeksujące publikację: Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie ; model matematyczny ; korelacja ; obwód analogowy ; organizacja ; modelowanie komputerowe ; usterka obwodu
Słowa kluczowe angielskie: testing ; mathematical model ; correlation ; analog circuit ; organization ; computational modelling ; circuit fault
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie