Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TESTOWANIE UKŁADU ANALOGOWEGO
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000099172
Tytuł oryginału: Construction of an expert system based on fuzzy logic for diagnosis of analog electronic circuits
Autorzy: Damian Grzechca.
¬ródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 77-82, bibliogr. 25 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0867-6747
DOI:
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń układów analogowych ; testowanie układu analogowego ; teoria zbiorów rozmytych ; system ekspertowy ; analiza wrażliwo¶ci
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit fault diagnosis ; analog system testing ; fuzzy set theory ; expert system ; sensitivity analysis
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/6
Nr opisu: 0000074609
Tytuł oryginału: Hybrydowe metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Wybrane zagadnienia.
Tytuł w wersji angielskiej: Hybrid methods for testing and diagnosis of analog electronic circuits Selected problems
Autorzy: Damian Grzechca.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2012
Opis fizyczny: , 166 s., bibliogr. 169 poz.
Seria: (Monografia ; [Politechnika ¦l±ska] nr 395)
Uwagi: Rozprawa habilitacyjna
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka ; metoda hybrydowa ; testowanie układu analogowego
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; diagnostics ; hybrid method ; analogue circuit testing
Typ publikacji: M
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.
Dostęp BCP¦:


3/6
Nr opisu: 0000071090
Tytuł oryginału: Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 73-84, bibliogr. 20 poz.
Impact Factor: 0.982
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0860-8229
Słowa kluczowe polskie: obliczenia ewolucyjne ; testowanie układu analogowego ; nieszczelno¶ć izolacji
Słowa kluczowe angielskie: evolutionary computations ; analogue circuit testing ; fault isolation
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4407
Dostęp on-line:


4/6
Nr opisu: 0000082611
Tytuł oryginału: Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 232
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie układu analogowego ; obliczenia ewolucyjne ; gęsto¶ć widmowa ; szereg Fouriera
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analogue circuit testing ; evolutionary computations ; spectral density ; Fourier series
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/6
Nr opisu: 0000031051
Tytuł oryginału: Ewolucyjny dobór częstotliwo¶ci sygnałów testuj±cych z rozmyt± inicjalizacj± systemu.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 101-106, bibliogr. 12 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka układów analogowych ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; testowanie układu analogowego ; optymalizacja ewolucyjna
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit diagnosis ; evolutionary computation ; fuzzy set ; analogue circuit testing ; evolutionary optimization ; evolutionary computations
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


6/6
Nr opisu: 0000031049
Tytuł oryginału: Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testuj±cego analogowe układy elektroniczne.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 83-88, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: symulowane wyżarzanie ; optymalizacja pobudzenia ; testowanie układu analogowego ; diagnostyka układów analogowych ; algorytm symulowanego wyżarzania
Słowa kluczowe angielskie: simulated annealing ; optimization of excitation ; analogue circuit testing ; simulated annealing algorithm ; analog circuit diagnosis
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie