Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TESTOWANIE FUNKCJONALNE
Liczba odnalezionych rekordów: 8



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/8
Nr opisu: 0000130749
Tytuł oryginału: Design an identification function to reduce the computational resources on the testing process of an analog electronic circuit
Autorzy: Sebastian Temich, Tomasz Golonek, Damian Grzechca.
¬ródło: -Elektron. Elektrotech. 2019 vol. 25 no. 3, s. 25-33, bibliogr. 28 poz.
Impact Factor: 0.684
Punktacja MNiSW: 40.000
p-ISSN: 1392-1215
e-ISSN: 2029-5731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: pompa zasilaj±ca Dickona ; testowanie funkcjonalne ; powstaj±ce wady ; regresja ewolucyjna ; identyfikacja obwodu CMOS
Słowa kluczowe angielskie: Dickson charge-pump ; functional testing ; incipient faults ; evolutionary regression ; CMOS circuit identification
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/8
Nr opisu: 0000125998
Tytuł oryginału: Reliability of a new diagnostic test for a functional balance measurement.
Autorzy: W. Marszałek, Andrzej Bieniek, M. Pawłowski, K. Słomka, Marek Gzik, G. Juras.
¬ródło: W: Biomechanics 2018. International Conference of the Polish Society of Biomechanics, Zielona Góra, September 5-7, 2018. Abstracts book. Eds. Katarzyna Arkusz, Romuald Będziński, Tomasz Klekiel, Szczepan Piszczatowski. Zielona Góra : University of Zielona Góra. Department of Mechanical Engineering. Division of Biomedical Engineering, 2018, s. 147-148, bibliogr. 3 poz.
ISBN: 978-83-951833-0-0
Organizator: The Polish Society of Biomechanics, Division of Biomedical Engineering. Department of Mechanical Engineering. University of Zielona Góra
Słowa kluczowe polskie: niezawodno¶ć ; rzeczywisto¶ć wirtualna ; testowanie funkcjonalne
Słowa kluczowe angielskie: reliability ; virtual reality ; functional testing
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 149381


3/8
Nr opisu: 0000071521
Tytuł oryginału: A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.
Impact Factor: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


4/8
Nr opisu: 0000081583
Tytuł oryginału: An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne ; czas odpowiedzi
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronic circuits ; functional testing ; response time
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


5/8
Nr opisu: 0000082610
Tytuł oryginału: Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 231
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analog electronic circuit ; artificial neural network
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


6/8
Nr opisu: 0000059075
Tytuł oryginału: Uniwersalny system testuj±cy urz±dzenia elektroniczne.
Autorzy: Jan* Mocha, Zbigniew* Łaskarzewski.
¬ródło: W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 57-59, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Uniwersytet Zielonogórski. Instytut Informatyki i Elektroniki, Polskie Towarzystwo Informatyczne. Oddział Wielkopolski
Słowa kluczowe polskie: uniwersalny system testowania ; testowanie ; ATE ; matryca wieloigłowa ; testowanie funkcjonalne ; SCPI ; wtyczka
Słowa kluczowe angielskie: universal testing system ; testing ; ATE ; bed of nails ; functional testing ; SCPI ; plug-in
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


7/8
Nr opisu: 0000049582
Tytuł oryginału: Uniwersalny system testuj±cy urz±dzenia elektroniczne
Autorzy: Jan* Mocha, Zbigniew* Łaskarzewski.
¬ródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 426-428, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: testowanie ; urz±dzenie elektroniczne ; ATE ; testowanie funkcjonalne ; SCPI ; standardowe polecenia programowanych urz±dzeń ; wtyczka ; matryca wieloigłowa
Słowa kluczowe angielskie: testing ; electronic device ; ATE ; functional testing ; SCPI ; Standard Commands for Programmable Instruments ; plug-in ; bed of nails
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


8/8
Nr opisu: 0000043107
Tytuł oryginału: Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
¬ródło: -Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 158-162, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; FPAA ; testowanie ; diagnostyka ; testowanie funkcjonalne ; symulacja uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; testing ; diagnostics ; functional testing ; fault simulation
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie