Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TESTOWANIE ANALOGOWYCH UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000103043
Tytuł oryginału: Analog testing stimulus optimization for generating by means of sigma-delta modulation.
Autorzy: Tomasz Golonek.
Źródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2015. Proceedings of 22nd international conference, Toruń, Poland, June 25-27, 2015. Ed. by Andrzej Napieralski. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Lodz University of Technology, 2015, s. 521-524, bibliogr. 10 poz.
ISBN: 978-83-63578-06-0
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Lodz University of Technology [et al.]
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Bazy indeksujące publikację: Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie analogowych układów elektronicznych ; optymalizacja ewolucyjna ; modulacja gęstości impulsów ; modulacja sigma-delta
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuits testing ; evolutionary optimization ; pulse-density modulation ; sigma-delta modulation
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000013070
Tytuł oryginału: Wykorzystanie sieci neuronowych i technik rozmytych do testowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Damian Grzechca.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2003
Opis fizyczny: , 99 s., bibliogr. 44 poz.
Uczelnia i wydział: Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; sieć neuronowa ; teoria zbiorów rozmytych ; testowanie analogowych układów elektronicznych
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; fault diagnosis ; neural network ; fuzzy set theory ; analog circuit fault diagnosis
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. Cz.Ab. R-3705
Dostęp BCPŚ:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie