Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TECHNOLOGIA CIENKICH WARSTW
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000103932
Tytuł oryginału: Electrical parameters of solar cells with electrodes made by selective metallization
Tytuł w wersji polskiej: Parametry elektryczne ogniw słonecznych z elektrodami wykonanymi metodą selektywnej metalizacji
Autorzy: Piotr Kowalik, Edyta Wróbel, Janusz Mazurkiewicz.
Źródło: -Microelectron. Int. 2016 vol. 33 iss. 1, s. 36-41, bibliogr. 11 poz.
Impact Factor: 0.737
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 1356-5362
DOI:
Słowa kluczowe polskie: technologia półprzewodników ; technologia grubych warstw ; technologia cienkich warstw
Słowa kluczowe angielskie: semiconductor technology ; thick-film technology ; thin-film technology
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000011666
Tytuł oryginału: Optyczne badania niejednorodności składu warstw InxSe1.
Tytuł w wersji angielskiej: Optical investigation of inhomogeneous composition of InxSe1-x films
Autorzy: Anna Michalewicz, Marian** Nowak, A. Burian, B. Jarząbek.
Źródło: W: Nowe technologie i materiały w metalurgii i inżynierii materiałowej. Materiały XI seminarium naukowego, Katowice, 16 maja 2003. [Katowice] : [Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii Politechniki Śląskiej], [2003], s. 159-162, bibliogr. 9 poz.
Organizator: Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii Politechniki Śląskiej
Słowa kluczowe polskie: niejednorodność ; InxSe1 ; technologia cienkich warstw ; odbicie optyczne
Słowa kluczowe angielskie: heterogeneity ; InxSe1 ; thin-film technology ; optical reflection
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. MgCzO 112899, Mg 119473


stosując format:
Nowe wyszukiwanie