Wynik wyszukiwania
Zapytanie: REJESTR PIER¦CIENIOWY LFSR
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000069622
Tytuł oryginału: Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections
Tytuł w wersji polskiej: Analiza pracy rejestru pier¶cieniowego LFSR użytego do testowania jednokierunkowych poł±czeń o dowolnej strukturze
Autorzy: Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 50-53, bibliogr. 12 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: testowanie poł±czeń ; rejestr pier¶cieniowy LFSR ; BIST ; rejestr XR-LFSR
Słowa kluczowe angielskie: interconnection testing ; ring LFSR ; BIST ; XR-LFSR register
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000063344
Tytuł oryginału: How to reduce size of a signature-based diagnostic dictionary used for testing of connections.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 201-204, bibliogr. 13 poz.
Słowa kluczowe polskie: BIST ; IBIST ; słownik diagnostyczny ; testowanie poł±czeń ; rejestr pier¶cieniowy LFSR ; podpis
Słowa kluczowe angielskie: BIST ; IBIST ; diagnostic dictionary ; interconnection testing ; ring LFSR ; signature
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000063175
Tytuł oryginału: Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2010. Proceedings of the 17th international conference, Wrocław, Poland, 24-26 June 2010. Ed. by A. Napieralski. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2010, s. 486-491, bibliogr. 13 poz.
ISBN: 978-83-928756-3-5
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: testowanie poł±czeń ; BIST ; rejestr pier¶cieniowy LFSR ; sygnatura ; słownik diagnostyczny
Słowa kluczowe angielskie: interconnection testing ; BIST ; ring LFSR ; signature ; diagnostic dictionary
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie