Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PRZESŁUCH
Liczba odnalezionych rekordów: 7



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu: 0000099068
Tytuł oryginału: New structure of test pattern generator stimulating crosstalks in bus-type connections
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 67-75, bibliogr. 38 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0867-6747
DOI:
Słowa kluczowe polskie: zintegrowane poł±czenia obwodu ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; System on Chip
Słowa kluczowe angielskie: integrated circuit interconnections ; crosstalk ; test pattern generator ; built-in self test ; system-on-chip
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/7
Nr opisu: 0000100129
Tytuł oryginału: NF-kB and IRF pathways: cross-regulation on target genes promoter level
Autorzy: Marta Iwanaszko, Marek Kimmel.
¬ródło: -BMC Genomics 2015 vol. 16, art. nr 307 s. 1-8, bibliogr. 38 poz.
Impact Factor: 3.867
Punktacja MNiSW: 40.000
p-ISSN: 1471-2164
DOI:
Słowa kluczowe polskie: NF-kB ; IRF3 ; czynnik transkrypcyjny ; przesłuch ; nieswoista odpowiedĽ odporno¶ciowa
Słowa kluczowe angielskie: NF-kB ; IRF3 ; transcription factor ; crosstalk ; innate immune response
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


3/7
Nr opisu: 0000091808
Tytuł oryginału: Designing of test pattern generators for stimulation of crosstalk faults in bus-type connections.
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Proceedings of the 2014 IEEE 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS, Warsaw, Poland, April 23-25, 2014. Eds.: Witold Pleskacz, Michel Renovell, Dominik Kasprowicz, Lukas Sekanina, Serge Bernard. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 270-273, bibliogr. 22 poz.
ISBN: 978-1-4799-4558-0
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Bazy indeksuj±ce publikację: Web of Science; Scopus; IEEE Xplore; INSPEC
DOI:
Słowa kluczowe polskie: układ scalony ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; wbudowane samotestowanie
Słowa kluczowe angielskie: integrated circuit ; crosstalk ; test pattern generator ; System on Chip ; built-in self test
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


4/7
Nr opisu: 0000056440
Tytuł oryginału: Effective BIST for crosstalk faults in interconnects.
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 164-169, bibliogr. 29 poz.
Słowa kluczowe polskie: interkonekt ; przesłuch ; bł±d dynamiczny ; tester wbudowany ; IBIST ; LFSR
Słowa kluczowe angielskie: interconnect ; crosstalk ; dynamic fault ; Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; LFSR
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


5/7
Nr opisu: 0000048018
Tytuł oryginału: Interconnect faults identification and localization using modified ring LFSRs.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 247-250, bibliogr. 12 poz.
Słowa kluczowe polskie: LFSR ; diagnostyka błędów ; przesłuch ; wykrywanie błędów
Słowa kluczowe angielskie: LFSR ; fault diagnosis ; crosstalk ; fault detection
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/7
Nr opisu: 0000031907
Tytuł oryginału: Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [ŁódĽ] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: test poł±czeń ; uszkodzenie opóĽnieniowe ; przesłuch ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; metoda test-per-clock
Słowa kluczowe angielskie: interconnect test ; delay fault ; crosstalk ; fault location ; fault identification ; test-per-clock method
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


7/7
Nr opisu: 0000031531
Tytuł oryginału: LNA design for on-chip RF test.
Autorzy: R. Ramzan, L. Zou, Jerzy** D±browski.
¬ródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4236-4239, bibliogr. 8 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: bitowa stopa błędów ; testowanie układu ; przesłuch ; wykrywanie uszkodzeń ; transceiver
Słowa kluczowe angielskie: bit error rate ; circuit testing ; crosstalk ; fault detection ; transceiver
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie